jornada dedifusión deresultados deproyectos CEM

15 noviembre2010

10:00 Apertura10:00 Apertura

10:15 Presentación10:15 Presentación

10:30 Resultados10:30 Resultados

12:00 Café12:00 Café

12:30 Visitas12:30 Visitas

PROGRAMA

ProyectosProyectos

15 noviembre 201015 noviembre 2010

La investigación, el desarrollo tecnológico y la innovación en metrología residen en:

la generación de nuevos conocimientosen la ciencia de la medida,

la realización de nuevos desarrollos de patrones, instrumentos y métodos de medida,

capaces de apoyar a las industrias en sus desarrollos tecnológicos haciéndolas más innovadoras y competitivas y con ello proporcionando una mayor calidad de vida a la sociedad.

C/ Alfar, 2 28760 – Tres Cantos – Madrid Telefono: +34 91 807 47 00 Fax: + 34 91 807 48 07 Email: cem@cem.es Web: http:// www.cem.es

Superficie Total: 70 000 m²Superficie Construida: 18 000 m²Superficie Laboratorios: 10 000 m²

PATRONES NECIONALES DE MEDIDA

TRAZABILIDAD A PATRONES

CONTROL METROLÓGICO DEL ESTADO

PROYECTOS I+D+i

ASESORAMIENTO METROLÓGICO

FORMACIÓN DE ESPECIALISTAS

Independencia e Integridad

Confidencialidad

Profesionalidad y experiencia

Atención personalizada

Laboratorios altamente equipados

Vocación y dedicación al servicio de la sociedad.

Compromiso con el medio ambiente

Miembro fundador de la CGPM

Miembro de EURAMET - EMRP

Miembro de WELMEC

Miembro de OIML

Firmante del Acuerdo MRA del CIPM

Secretaria de CTN 82 de metrología de AENOR

Representante español en la Comisión UE y el Consejo, en materia metrológica

El Centro Español de Metrología (CEM) es un organismo autónomo adscrito a la Secretaría General de Industria del Ministerio de Industria, Turismo y Comercio.

Fue creado por la Ley 31/1990 de Presupuestos Generales del Estado de acuerdo con lo previsto en la Ley 3/1985, de 18 demarzo, de Metrología.

En aplicación del Artículo 149 de la Constitución Española, es el máximo órgano técnico en el campo de la metrología en España

PRINCIPIOS DE SELECCIÓN DE PROYECTOS

Excelencia en materia de patrones nacionales relevantes.

Satisfacer las prioridades en materia de metrología científica que respondan a las necesidades estratégicas nacionales.

Colaboración con los NMi en proyectos I+D+i que respondan a las necesidades nacionales, en consonancia con las prioridades establecidas y que permitan consolidar las capacidades metrológicas básicas, garantizar el régimen de propiedad intelectual y fomentar criterios de excelencia.

European Metrology Research Programme (EMRP).Outline2007

Estudio de Prospectiva sobre necesidades metrológicas en España. 2007

Informe de la CLA al CSM sobre la situación de la metrologíacientífica en España y en su entorno europeo

LÍNEAS ESTRATÉGICAS:

OBJETIVOS:

NUEVOS NUEVOS PROYECTOS CEMPROYECTOS CEM

Uso sin conocimiento

Uso experto

Asimilación

Adaptación

Apropiación

Contribución

Generación

Nivel Uso Tecnológico

I+D+i

Dependencia total

Utilización más eficiente. Dependencia fuerte

Uso optimizado. Generación de conocimiento 1

Uso optimizado a la necesidad. Generación de conocimiento 2

Uso optimizado. Generación de conocimiento 3

GeneraciGeneracióón y uso de los n y uso de los productos tecnolproductos tecnolóógicos y gicos y del conocimientodel conocimiento

PROYECTOS CEM

• Desarrollo del comparador interferométrico universal CEM-TEK 1200 para calibración de patrones materializados de longitud hasta 1200 mm. Posterior actualización añadiendo un software más amigable desarrollado en entorno LabView. (Tekniker)

• Desarrollo de mesa generadora de ángulos. Campo de medida 360º; Resolución 0,036” (U=0,1”; k=1)(Tekniker)

• Desarrollo patrón nacional de resistencia eléctricamediante el efecto Hall-cuántico (U. Politécnica Madrid)

• Desarrollo patrón nacional de tensión mediante el efectoJosephson (U. Politécnica Madrid)

• Patrón nacional de potencia y energía eléctrica mediante muestreo digital (Univ Politécnica Málaga)

• Patrón nacional de capacidad eléctrica (U. Polit. Madrid)

• Sistema de vacío de expansión dinámica (U.Polit. Madrid)

• Patrón nacional de par de torsión (CEM - PTB)

• Desarrollo de los procedimientos y equipos para la construcción de termopares de metales nobles tipos S, B, R y en especial los de oro/platino (CEM)

HistóricoHistórico

(1990 (1990 –– 2005)2005)

Proyectos CEM 2007 Proyectos CEM 2007 -- 20102010

Coste: 1 945 800 €

Proyectos 2009 Proyectos 2009 -- 20132013 Coste: 3 801 215 €

Ampliación, mejora y diseminación de las capacidades de medida y calibración del laboratorio de presión del CEM / ALABPRE

Desarrollo de patrones en el campo de las microfuerzas / MICROFUERZAS

Desarrollo de patrones de masa menores del miligramo / MICROPESAS

Nuevo patrón cuántico para la caracterización de sistemas de medida digitales en corriente continua y alterna / PACMED

Sistema de medida patrón de resistencias en CA./ RECAP

Aplicación de técnicas de separación de errores en la medida de defectos de forma y análisis de filtros analógicos mediante el empleo de patrones multionda. / FORMER

Título/ Acrónimo

1 TS1 FPII21Masa.

Presión

1 TS20Masa.Fuerza

1 TS19Masa.Masa

1 TS1 FPII18Electricidad.

Tensión continua

1 TS1 FPII17Electricidad.

Impedancia CA

1 TS16Longitud.Control de Formas

PersonalcontratadoNúmeroCampo de

investigación

Coste: 1 919 498 €Proyectos 2010 Proyectos 2010 -- 20142014

El CEM participa en el subproyecto HIPARCO, el cual tiene como objetivo principal abordar el desarrollo de técnicas y metodologías de verificación y calibración de máquinas y sistemas de medida de elevada precisión.

Desarrollo de Técnicas y Metodologías de Inspección de Daños y Metrología Dimensional de Nueva Generación para los sectores Aeronáutico, Ferroviario, Naval y Eólico.

Tarea 1. Verificación y compensación de errores en máquinaTarea 2. Tomografía computerizadaTarea 3. Calibración y métodos de corrección en técnicas de medición de alto rango

Coste: 123 084 €

Financiado por Financiado por MICINNMICINN: 37 233,6 €: 37 233,6 €

Programa de investigación Europeo en Metrología

“el conocimiento, que engloba la investigación y el desarrollo (I+D), la innovación y la educación, es un motor esencial del incremento de la productividad”

EUROPEAN METROLOGY RESEARCH PROGRAMEEUROPEAN METROLOGY RESEARCH PROGRAME

CoordinaciónCoordinación de de ProgramasProgramas NacionalesNacionales

Inversiones conjuntas y coordinadas son imprescindibles para satisfacer las necesidades

EMRP 2007 EMRP 2007 -- ProyectosProyectos

- “Caracterización trazable de nanopartículasCaracterización trazable de nanopartículas”: Establecimiento de métodos de medida y calibración dotados de trazabilidad a la unidad básica.- “Medida de grandes distanciasMedida de grandes distancias”: Desarrollo de instrumentación y metodología para medida de grandes distancias con reducción de incertidumbres.- “Nueva generación de técnicas de medida de potencia y energíaNueva generación de técnicas de medida de potencia y energía”: Nuevas técnicas de muestreo digital de señales sinusoidales y no sinusoidales en presencia de armónicos. Parámetros de calidad.- “Nueva generación de sistemas cuánticos de tensiónNueva generación de sistemas cuánticos de tensión”: Desarrollo de nuevos sistemas para la generación de tensiones en corriente alterna.- “Desarrollo de dispositivos de efecto Hall cuánticoDesarrollo de dispositivos de efecto Hall cuántico”: Diseño y construcción de muestras Hall para aplicaciones en la industria de la microelectrónica.- “Determinación de la constante de BoltzmannDeterminación de la constante de Boltzmann”: Medida de la constante de Boltzmann por diversos métodos con baja incertidumbre para la nueva definición de la unidad de temperatura.

PROYECTOS CON PARTICIPACIÓN ESPAÑOLA. CEMPROYECTOS CON PARTICIPACIÓN ESPAÑOLA. CEM

Inicio de los proyectos EMRP ( Art 169 7 PM) Programa Energía con la participación del CEM.

Characterization of energy gasesENG1

Metrology for new generation of nuclear power plantsENG8Metrology for smart electrical grids ENG4

Proyectos participación CEM

EMRP 2009 EMRP 2009 -- ProyectosProyectos

MEDIOAMBIENTE MEDIOAMBIENTE METROLOGÍA PARA LA INDUSTRIAMETROLOGÍA PARA LA INDUSTRIA

CALENDARIO

Convocatoria SRT 12/02 al 28/03

Convocatoria ayudas 1/04 al 7/05

Reunión SC EMRP 3-4/05

Reunión Comité EMRP 27-28/05

Convocatoria JRPs 21/06 al 11/10

Conferencias informativas (5) Junio/Julio

Conferencia de revisión 22-25/11 Budapest

Reunión Comité EMRP 29/11 Berlín

Consejo de Desarrollo 16/12 Paris

INDUSTRIA

28 SRT 16 JRP

44,2 M€

MEDIOAMBIENTE

18 SRT 12 JRP

38,4 M€

Máxima cuota España:

Industria: 1,66 M€

Medioambiente: 1,28 M€

Propuesta Participación CEM: 1,2 M€

SI: Intermedio entre SI Fundamental y SI industria.

Nuevas tecnologías: se incluirán los campos de: seguridad y protección; biotecnología; nuevos meta materiales, matemática e ITC.

Salud (II): continuación de salud I). Explorar nuevos campos.

Presupuesto por TP: 25,8 M€aprox. 10 JRPs por TP con un presupuesto medio de 2,6 M€overbooking aprox. 1,7

Nuevo patrón nacional de potencia eléctrica mediante muestreo digitalEstablecimiento de los Patrones Nacionales de Inductancia y de Capacidad Eléctrica18 nuevos servicios correspondientes a calibración de resistencias patrón de alto valor, desde 0,1 GΩ a 10 TΩ y a calibración de intensidades de CC desde 0,1 nA hasta 100 A.Nuevo sistema de medida trifásico en el rango comprendido entre 200 mA y 120 A y de 60 V a 600 V.Calibración de termopares por comparación a termómetros de radiación hasta 1600 ºCPatrón de presión que es capaz de funcionar de forma estática entre 1 000 Pa y 0,0001 Pa……………….

1.1.-- Nuevas realizaciones de patrones y sistemas de medidaNuevas realizaciones de patrones y sistemas de medida

• Realización de un sistema de expansión estático como patrón nacional de presión absoluta en la región de vacío en el rango de 10-4 Pa a 1000 Pa. IV Congreso Español de Metrología (Santander 2009)

• Volume ratio determination in static expansion systems by means of twopressure balances, IMEKO XIX WORLD CONGRESS (Lisboa 2009)

• Calibración de patrones de redondez (hemisferios) por el método multi-step. IV Congreso Español de Metrología (Santander 2009).

• Patrones Nacionales de Alterna basados en Convertidores Térmicos. IV Congreso Español de Metrología (Santander 2009)

• Patrón nacional de inductancia. IV Congreso Español de Metrología (Santander 2009)

• Cadena de trazabilidad en resistencia corriente continua. Sistemas de medida. Congreso Español de Metrología (Santander 2009)

• Calibración de termopares de metales nobles por comparación a termómetros de radiación hasta 1600 ºC”. IV Congreso Nacional de Metrología (Santander 2009).

• Doping experiments in triple point of mercury cells. III International Workshop Toward more accurate fixed points. 17th Symposium onThermophysical propierties.

2.2.-- Publicaciones y difusión del conocimientoPublicaciones y difusión del conocimiento

• Fomento y mejora del conocimiento básico sobre la realización de medidas de precisión en las diferentes áreas científicas desarrollados

• Potenciar el conocimiento sobre las tecnologías de diseño industrial necesarias para desarrollar sistemas de alta tecnología y exactitud

• Potenciar el desarrollo de productos que necesiten trazabilidad a sistemas de medida implementados.

• Mejorar los procesos, componentes y medios de fabricación que necesitan precisión en la medida de las magnitudes eléctricas y mecánicas.

3.3.-- Desarrollo del talento del personal del organismo Desarrollo del talento del personal del organismo y potenciación de su motivación y dedicacióny potenciación de su motivación y dedicación..

4.4.-- Consecución de varios objetivos generales:Consecución de varios objetivos generales:

Impulso I+D de patrones•6 proyectos (2006 – 2010).Finalizan en 2010

•9 proyectos de desarrollo de patrones e instalaciones. (2009 – 2013).

•6 + 1 nuevos proyectos a iniciar en 2010 y finalizar en 2014. Informe positivo del Ministerio de Presidencia y del Ministerio de Economía y Hacienda para poder dotar con 9 + 1 plazas de técnicos y científicos. Proceso de selección inicia en junio de 2010.

•10 proyectos EMRP en curso ampliables según éxito en convocatorias

CONCLUSIONESCONCLUSIONES

CONCLUSIONESCONCLUSIONES

Los proyectos constituyen:Realización de nuevos desarrollos de patrones, instrumentos y métodos de medida que incidirán directamente en:

un aumento de la exactitud de las medidas,

declaración de nuevas o mejores capacidades de medidas (CMCs) dentro del acuerdo MRA-CIPM y

un mayor soporte a las industrias en sus desarrollos tecnológicos ayudándolas a ser más innovadoras y competitivas.

Para el CEM:

elemento dinamizador de la actividad científica del organismo y una mejor posición tecnológica.

mecanismo para el incremento de los conocimientos científicos y tecnológicos

Un estimulo profesional para su plantilla, altamente vocacional

MetrologíaMetrología

• No es solo calibrar instrumentos

• Es alta tecnología y promoción de I+D+i

La investigación en ciencias de la medida es una actividad a largo plazo que necesariamente debe hacerse por adelantado a las necesidades industriales y de la sociedad.

La investigación de hoy proporcionará la base para los servicios de calibración de mañana.

“Solamente aquel que construye el futuro tiene derecho a juzgar el pasado”.

Friedrich Nietzsche

Gracias