5 - inmunidad_curvas de aceptabilidad

7/24/2019 5 - Inmunidad_Curvas de Aceptabilidad

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Introduccin

CURVAS ACEPTABILIDAD

La calidad del producto elctrico y la manera de mejorar el suministro ha sidoestudiada y cuantificada por dcadas con la motivacin principal de logar

seguridad en la operacin y utilizacin de equipos elctricos.

No menos importante y muy relacionado a lo anterior, es analizar fenmenos quetienden a provocar daos en equipos elctricos o bien perdidas econmicas

relacionadas a mal funcionamiento de estos.

ARMNICOS

PERTURBACIONESDE CORTA

DURACCIONES

(SAGS, SWELLS,

MICROCORTES,IMPULSOS,ETC.)

EQUIPOCONECTADOAL SISTEMA

FLUCTUACIONES

INMUNIDAD DE CARGAS

(CURVAS DE ACEPTABILIDAD)


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Introduccin

Problemtica ante perturbaciones de corta duracin:

Los eventos transitorios son los mas frecuentes causales dedaos en equipamientos domsticos e industriales (Difciles demitigar o eliminar dado que en general estn relacionadas a lanormal operacin del propio sistema elctrico).

Variaciones de tensin de corta duracin (sags, swells,transitorios, etc.) pueden interrumpir la operacin normal deequipos, provocando daos permanentes o perdidas econmicasimportantes por el no funcionamiento continuo o previsto.

La mayora de los ndices utilizados para cuantificar la calidad delproducto tcnico elctrico estn relacionados a fenmenos detipo estacionario o cuasi estacionario.

Los ndices especficos generalmente caracterizan estasperturbaciones en amplitud y duracin.


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Es necesario contar con herramientas que cuantifiquen estos fenmenos y losrelacionen en forma directa o indirecta con los daos que provocan, es decir quepongan de manifiesto la compatibilidad entre equipamientos y perturbaciones.


Permiten relacionar directamente las perturbaciones registradas con loslmites aceptables para los distintos equipamientos, utilizando un par de

ejes, amplitud versus duracin, para una representacin conjunta.

Ejemplos: CBEMA, ITIC, ANSI, y otras

Curvas de aceptabilidad (vulnerabilidad o inmunidad)

Solucin disponible:


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Curva CBEMA

Curva CBEMA (1977) (Computer Business Equipment Manufacturers Asociation)

Gua para el desarrollo de computadores que funcionen adecuadamente enlas condiciones de suministro que estadsticamente estn presente en unsistema.

Generada en base a registros reales e histricos en un sistema elctrico.


Para t

lmite coincidecon -13%, deacuerdo con

ANSIC84.1 1989

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Curva CBEMA (Descripcin)

Representacin en el plano:

Tensin [% de V nominal] (ordenadas) Tiempo [seg] (abscisas).

Otras versiones suelen mostrar el tiempo en n de ciclos, en forma linealo logartmica, y la amplitud en diferentes escalas de tensin absoluta.

Lnea de V = 0 indica tensin coincidente con voltaje nominal.

Eventos de sobre y subtensin pueden evaluarse y ser consideradoscomo dainos o no en funcin de su amplitud y persistencia en el tiempo(criterio de potencia perturbadora aceptable).

Pueden identificarse zonas de aceptabilidad o lmites de sobre y subtensin soportables para el tipo de carga considerada.

El diagrama puede dividirse en regiones con rangos seguros de magnitudy duracin.

Nmero de ocurrencias dentro de cada regin puede proveer razonableindicacin de calidad del suministro.



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Curva ITIC

Curva ITIC (1996) (Information Technology Industry Council Organizacin)ITIC reemplaza a la organizacin CBEMA

Son consideradas Nuevas cu rvas CBEMA de alta t ecnologa.

Tienen en cuenta diseos modernos de equipos electrnicos monofsicos(copiadoras, faxs, computadores, etc.)


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Curva ITIC (Descripcin)

V. Cadas de tensin hasta el 80%: Resultan de la operacin de grandes cargas o fallas en distintos puntosdel sistema. La duracin tpica de entre 0.5 a 10 segundos.

VI. Cadas de tensin hasta el 70%: Resultan de operacin de grandes cargas o fallas del sistema. Duracinde ms de un ciclo y hasta 0.5 segundos.

VII. Pequeas interrupciones: Disminuciones severas de tensin e interrupciones. Cadas con duracionesde hasta 20 milisegundos. Transitorio por ocurrencia y subsiguiente despeje de falla (reconexin).


Los lmites pueden asociarse a 7 tipos de eventos:

I. Tolerancias de estado estacionario:variaciones lentas de tensin (10%),relacionadas a la operacin de cargas.

II. Subidas de tensin: Aumentos (hastael 120%), con duracin de entre 3 ms y0.5 segundos. (ej. desconexingrandes cargas).

III. Transitorios oscilatorios de bajafrecuencia: (200Hz a 5kHz) Se atenan

en el tiempo (


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Curva ANSI

Instituto Nacional Americano de Estndares ANSI (American NationalStandards Institute) ha desarrollado su propia curva de inmunidad, de

similares caractersticas a las anteriores CBEMA e ITIC .


Utilizacin de las curvas: Los puntos sobre la grafica representan eventosperturbadores caracterizados por su amplitud y duracin.

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Curvas de Aceptabilidad (Utilizacin y Anlisis)

Es un mtodo muy sencillo pero en el cual pueden advertirse ciertas debilidadespropias de su simpleza y generadas en su concepto y diseo:

En un evento de tipo impulsivo de muy corta duracin (< 1/2 ciclo), es difcilevaluar la duracin y la posicin de ocurrencia dentro del ciclo. Esto esinconveniente ya que el evento se caracteriza solo por su amplitud y duracin.

Las curvas son confeccionadas en base a datos estadsticos e histricos y

aunque pueden ser respaldadas por ensayos, es claro que contienen unsentido generalizador que es el que permite aplicarlas a todas las carga de unmismo tipo. Esto implica una evaluacin no muy precisa si se considerancargas de un mismo tipo pero de distintos fabricantes, procedencias, etc.

Adems pueden ser sometidas por ciertas perturbaciones pero en diferentescontextos.

No es clara la aplicacin en suministros trifsicos aunque en generalrecomienda su utilizacin por fase. No obstante existe un gran nmero detrabajos de estudio que fijan otras pautas para el anlisis en suministro 3 y larelacin con daos en equipos (por ejemplo fase mas desfavorable o elcompendio de peor situacin).



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Diseo de Curvas de Aceptabilidad

Este efecto puede analizarse bajo el concepto de energa perturbadora(considera cantidad de energa entregada a una carga durante perturbacin)

Sobretensin corta duracin exceso momentneo de energa.

Subtensin corta duracin dism inuci n momentneo de energa.

Si el exceso o disminucin es demasiado grande, la operacin normal decarga puede ser interrumpida, con un dao permanente o transitorio.

Es decir: El suministro elctrico es adecuado si la carga mantiene un desempeonormal o aceptable. Las curvas indican lmites de energa constante donde lacarga puede operar sin inconvenientes.

Estos lmites pueden encontrarse por un principio de superposicin: Si una cargaest conformada por diferentes componentes sensibles a perturbaciones, lainmunidad total puede ser encontrada con el anlisis individual de cada uno deesos componentes.


Diferentes cargas tienencomportamientos distintos

Efecto perturbacin dependede sensibilidad carga y

contexto de trabajo

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Fuentes Conmutadas (SMPS)

Mayora de cargas domsticas e industriales modernas (TV, VCR, relojes,computadores, PLCs, etc.) funcionan mediante fuentes de alimentacinconmutadas SMPS (Switch-mode power supplies).

Estas constituyen la primer etapa susceptible y directamente relacionada alas perturbaciones.


SMPS principalmente conformadaspor rectificador de onda completa yfiltro pasa bajo (capacitor) quesuministra la prxima etapas deregulacin y posteriormente la cargapropiamente dicha.

REG.


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Ante disminucin tensin suministro, la fuente no mantiene nivelde tensin continua (Vcd) en bornes del capacitor, debido a lacorriente drenada hacia la prxima etapa. Si la relacinVTiempo que caracteriza a la perturbacin (subtensin) eselevada, puede provocar la mala operacin en la carga.

Para sobretensiones, la tensin continua (Vcd) aumenta y si laetapa posterior (REG.) no logra regular a los niveles adecuados desalida, puede provocarse la actuacin de elementos de proteccin(varistores, fusibles), o daarse componentes de la fuente o de lasetapas posteriores.


Fuentes Conmutadas

(Problemas ante Perturbaciones)

En ambos casos se llega a la interrupcin de la operacinnormal de la carga.

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Control de Velocidad para Motores (VSD)


Los modernos VSD (variable speed drive) estn construidos porcapacitores pequeos que reducen su tamao y costo, pero acarreanmayor sensibilidad ante disminuciones de tensin.

Funcionamiento similar a las SMPS:

Las variaciones de tensin ensuministro afectan la tensin encontinua (Vcd).

Disminuciones de tensin pequeas no interrumpen funcionamiento peroproducen fluctuaciones de velocidad controlada que alteran la calidad delproducto final asociado al motor. Sobretensiones pueden llevar a ladestruccin de componentes o actuacin de protecciones


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Caso complejo: Subtensiones polifsicas


La severidad depende de lamagnitud y duracin de la

perturbacin, pero tambindebe considerarse otrosfactores como las fasesinvolucradas.

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Motores induccin directamente conectados a red suministro, sonmenos sensibles a pequeas variaciones de tensin.

Subtensin sostenida puede llevar a circulacin de corrientesinadmisibles y a la destruccin por temperatura (causa ms comn enmotores de refrigeradores o mquinas de lavado domsticas).

Sobre tensiones impulsivas pueden provocar daos en la aislacin.

En industrias, las fluctuaciones de tensin estn directamenterelacionadas a la velocidad motor y dependiendo de caractersticas decarga mecnica asociada al eje del motor, pueden ser muy perjudiciales.

Cuando esta perturbacin ocurre, produce disminucin en velocidad ycausa grandes consumos de corrientes que reducen aun ms tensin desuministro agravando el problema.


Motores Directamente Conectados al Suministro


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Superposicin Curvas Aceptabilidad

La obtencin de una curva de aceptabilidad para una carga puede obtenersepor la superposicin de curvas para cada una de sus componentes crticos,

establecimiento los lmites mnimo y mximo que aseguran la compatibilidad.


Para la aplicacin delconcepto potencia

perturbadora esnecesario definir el

estndar dedesempeo esperado

para cada equipo ocomponentes del

mismo, y medianteensayos y anlisis de

datos identificar loslmites admisibles.

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Estandard SEMI F47En base a esta metodologa se ha logrado establecer estndares para diferentesprocesos de fabricacin. El EPRI form un grupo de trabajo denominado SEMI PowerQuality and Equipment Ride-Throught Task Force, que empleando datos de mileshuecos de tensin sufridos por 15 fbricas de semiconductores en puntos diferentes deNorteamrica, propuso una curva de inmunidad a huecos de tensin denominada SEMIF47, que establece lmites admisibles para funcionamiento continuo y sin desmejorasen el producto final.


La robustez de loscomponentes

involucrados enun ambiente

industrial, seenfoca a la no

interrupcin delproceso por

disminuciones detensin.


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Curvas de Aceptabilidad (Consideraciones)

Lo anterior indica que las curvas de inmunidad pueden ser utilizadas por distintosactores involucrados en problemtica de calidad de producto tcnico:

Fabricantes: pueden construir equipamientos que aseguren ser inmunes alas fluctuaciones de corta duracin segn una curva o estndar especfico.

Usuarios: pueden elegir equipamientos que cumplan o no con estndares.

Entes reguladores y empresas de energa: pueden decidir sobre laresponsabilidad por daos producidos en equipamientos asociado a lacalidad de la energa entregada.

En desventaja, esto ltimo puede emplearse solo si se cuenta con mediciones enel momento que los daos son producidos y con las curvas especificas paracada una de las cargas daadas. Esto ltimo es una tarea importante si seconsidera la diversidad de cargas posibles, calidades de fabricacin y diseo,

marcas y tipos distintos en el mercado, etc.En cierto modo no se considera la ocurrencia combinada de perturbaciones orepeticiones de estas, que provocan deterioro paulatino de componentes y queanalizadas en forma singular pueden estar dentro de zona aceptable de unacurva de inmunidad.


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Pruebas de Inmunidad

La Comisin Electrotcnica Internacional (IEC) y otros organismosinternacionales, elaboran normas que establecen los lineamientos a seguirpara ensayar y determinar la inmunidad ante perturbaciones de distinto tipo,

en equipamientos domsticos e industriales.

Ejemplo: Serie de normas IEC 61000 - parte 4

Dichas normas en general no definen los ensayos particulares para cadaequipo o componente sino que establecen un marco de referencia, dejando aotros organismos o asociaciones conformadas por fabricantes, usuarios,gobiernos, etc. la responsabilidad final de indicar los ensayos a realizar acada producto en particular.


Pruebas de inmunidad sobre equipamientos de aplicacin domstica eindustrial son un importante aporte en el diseo de curvas de aceptabilidad.


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IEC 61000-4-11IEC 61000-4-11: Ensayos para la determinacin de inmunidad ante cadas,interrupciones y variaciones de tensin en equipamientos elctricos yelectrnicos con un consumo no mayor a 16 A por fase.

Establece un marco comn de referencia, en la determinacin de inmunidadde equipamientos ante diferentes perturbaciones de variacin abrupta,aunque tambin describe ensayos opcionales que consideran cambios lentosy graduales de la tensin de suministro.

Determina niveles tensin de ensayo, considerando rango de tensinoperativo establecido por fabricante.

Los niveles de ensayo sugeridos por IEC son:


5

1

5

1

25

5

1000

3070

6040

Duracin

[ciclos]

Disminucin o interrupcin de tensin

[%]

Nivel de prueba

[%]

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IEC 61000-4-11 (Continuacin)


No considera aumentos de tensin, por lo que no permite referirse a unacompatibilidad electromagntica total. Aunque parece elemental ensayar bajo la

misma metodologa pero con incrementos de tensin.Ejemplo de las seales de ensayo propuestas:

Este documento es considerado en Europa como el estndar de compatibilidadelectromagntica a seguir en el diseo y fabricacin de equipos elctricos. Estoltimo es destacable si se considera que su cumplimiento implica mayoresexigencias en los niveles de ensayo en comparacin con otras recomendacionescon fines similares


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La tabla siguiente sugerida por IEC constituye una gua para la seleccin delos niveles de ensayo y su repeticin.

Numero de perturbaciones/ao

Extractada de un estudio del UNIPIDE (International Union of Producers andDistributors of Electrical Energy), para informar a clientes y fabricantes sobre latasa de ocurrencia, duracin y profundidad de las interrupciones definidas en

IEC 61000-2-2.

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IEC 61000-4-4

Orientada a determinar la inmunidad de equipos elctricos y electrnicos anteperturbaciones transitorias impulsivas, asociadas a la formacin de arcosvoltaicos en interruptores durante desconexin de cargas, reconexin derels, etc.

Define la forma de onda de transitorios rpidos o sucesin de impulsos (burst)a ser aplicados sobre el suministro y cualquier otro puerto de datos o controlque posea un equipamiento, niveles de ensayo y procedimientos a seguir.

Nivel

En entrada de suministroelctrico

En otros puertos (datos,control, etc. )

Tensinpico[kV]

Tasa derepeticin

[kHz]

Tensinpico[kV]

Tasa derepeticin

[kHz]

1234

x1)

0,5124

especial

555

2,5especial

0,250,512

especial

5555

especial

1) x nivel no definido. Nivel indicado en las caractersticas del equipamiento



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Seal de prueba para transitorios rpidos o sucesin de impulsos y suaplicacin, sugerida en IEC 61000-4-4.

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IEC 61000-4-12

Establece marco de trabajo para determinar inmunidad de equipo ante ondasoscilatorias.

Cubre dos tipos bsicos:

Transitorios poco repetitivos y repetitivos amortiguados.

Estos fenmenos son similares a los comprendidos en IEC 61000-4-4 pero

caracterizados por una mayor duracin e involucrando frecuencias menores.Transitorios oscilatorios amortiguados no repetitivos generalmente estnpresentes en las redes pblicas como consecuencia de la operacin delsistema o debidas a descargas atmosfricas.

Las ondas repetitivas amortiguadas aparecen generalmente por conmutacinseguida de arco.

Los parmetros mas importantes y que caracterizan a estos fenmenos, sonindicados en la normativa: velocidad de crecimiento, amortiguamiento,repeticin y duracin del fenmeno.



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Seal impulsivas oscilatorias y amortiguada sugerida por IEC 61000-4-12

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IEC 61000-4-5Cubre los fenmenos impulsivos provocados comnmente por descargasatmosfricas. Se sugiere una seal de prueba impulsiva unidireccional especificadapor dos onda a considerar, una denominada 1.2/50s aplicada a circuito abierto y otra8/20s para circuito cerrado (Ensayo de onda combinada)


La tensin pico aaplicar es definidasegn los mismosniveles de IEC 61000-4-4 y en funcin delequipo a serensayado. Losvalores de picopueden ser positivoso negativos.

Se indica aplicar lasseales en crucespor ceros y en picosdel suministro,dejando tiempos dereposo entre cadaimpulso.


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Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c. input power port

immunity testsIEC 61000-4-29 (2000-08) (EMC):

Testing and measurement techniques - Variation of power frequency, immunity testIEC 61000-4-28 (2002-07) Ed. 1.1 (EMC):

Testing and measurement techniques - Unbalance, immunity testIEC 61000-4-27 (2000-08) (EMC):

Testing and measurement techniques - HEMP immunity test methods for equipment and

systemsIEC 61000-4-25 (2001-11) (EMC):

Emission and immunity testing in transverse electr omagnetic (TEM) waveguidesIEC 61000-4-20 (2003-01) (EMC):

Testing and measurement techniques - Ripple on d.c. input power port immunity testIEC 61000-4-17 (2002-07) Ed. 1.1 (EMC):

Test for immunity to conducted, common mode disturbances in the frequency range 0 Hz

to 150 kHzIEC 61000-4-16 (2002-07) Ed. 1.1 (EMC):

Testing and measurement techniques - Voltage fluctuation immunity testIEC 61000-4-14 (2002-07) Ed. 1.1 (EMC):

Harmonics and interharmonics, mains signalling at a.c. power port, low frequency

immunity testsIEC 61000-4-13 (2002-03) (EMC):

Testing and measurement techniques - Oscillatory waves immunity testIEC 61000-4-12 (2001-04) Ed. 1.1 (EMC):

Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity testsIEC 61000-4-11 (2001-03) Ed. 1.1 (EMC):

Testing and measurement techniques - Damped oscillatory magnetic field immunity testIEC 61000-4-10 (2001-03) Ed. 1.1 (EMC):

Testing and measurement techniques - Pulse magnetic field immunity testIEC 61000-4-9 (2001-03) Ed. 1.1 (EMC):

Testing and measurement techniques - Power frequency magnetic field immunity testIEC 61000-4-8 (2001-03) Ed. 1.1 (EMC):

Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fieldsIEC 61000-4-6 (2003-05) (EMC):

Testing and measurement techniques - Surge immunity testIEC 61000-4-5 (2001-04) Ed. 1.1 (EMC):

Section 4: Electrical fast transient/burst immunity test. Basic EMC PublicationIEC 61000-4-4 (1995-01) (EMC):

Testing and measurement techniques - Radiated, radio-frequency, electromagnetic fieldimmunity testIEC 61000-4-3 (2002-09) Ed. 2.1 (EMC):

Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity testIEC 61000-4-2 (2001-04) Ed. 1.2 (EMC):

Testing and measurement techniques - Overview of IEC 61000-4 seriesIEC 61000-4-1 (2000-04) (EMC):

Referencia IEC para la realizacin de ensayos de Inmunidad


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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) cuenta con una vastaexperiencia en el desarrollo de curvas de inmunidad, por ejemplo:

IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers)

Otro buen ejemplo es el estndar IEEE C62.41 (Guide on the Surge Environment inLow-Voltage (1000 V and Less) AC Power Circuits) que trata de manera detallada a lassobretensiones en sistemas de distribucin en baja tensin.

La norma IEEE 1346-1998tiene por objeto recomendaruna metodologa estndarpara el anlisis tcnicoeconmico de lacompatibilidad entre

sistemas y equipos. Enparticular se enfoca en lasdisminuciones rpidas detensin (sag) y permiteobtener resultados como elde la figura.


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IEEE 1346 Anexo B: Desempeo del sistema elctrico

Un sag del 73% provocado por una falla en C-Bse refleja como de solo el 90% en la barra L

Se proporcionan referencias

Evaluacin de sistemas y anlisis en base aregistros histricos, implementacin demediciones, estudios por simulacin odesempeos tpicos.

Anlisis de sistemas tpicos y dereferencia en funcin de mallados,tensiones de operacin, etc.

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IEEE 1346 Anexo C: Desempeo de cargas

Se cubre una amplia variedad de aplicaciones,problemas y equipos comnmente utilizados.

Se analizan diferentes aspectos de lascargas: conexin al sistema, principio defuncionamiento, protecciones, etc.

IEEE 1346 Anexo D:Obtencin de carta ogrfica conjunta

Anexo A: Anlisis del impacto econmico


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IEEE Std C62.41.1: Informacin bsica sobre la ocurrencia y propagacin de surge.Base de datos para todo el estudio realizado por IEEE.

IEEE Std C62.41.2:Seleccin de parmetros representativos de surge en clculo de lainmunidad de equipos y desempeo de protecciones de surge (SPD).

IEEE Std C62.45: Recomendaciones sobre procedimientos de prueba de inmunidad deequipos elctricos, a travs de mediciones confiables y conimportantes consideraciones sobre la seguridad de las pruebas.

IEEE C62.41.x / C62.45Guide on the Surge Environment in Low-Voltage (1000 V and Less) AC Power

Circuits: trata de manera detallada a las sobretensiones de corta duracin - Surge -en sistemas de distribucin en baja tensin (


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Categorizacin de equipos elctricos (continuacin)

Segn IEEE:

Cat. A: cargas conectadas a ms de 10 m de lacategora B o ms de 20m de la categora C(equipos alimentados de la instalacin fija comopor ejemplo electrodomsticos, herramientasporttiles, y cargas domsticas similares)

Cat. B: cargas conectadas a tableros dedistribucin o suministros en plantas industriales,o cargas domsticas importantes conectadas a laentrada de suministro (equipos de instalacionesfijas con confiabilidad y disponibilidadparticulares, por ej. AA, interruptores y equiposindustriales con conexin permanente).

Cat. C: equipos o cargas elctricos conectados enel exterior, antes del tablero de distribucinprincipal (medidor energa y equipos deproteccin contra sobretensiones).

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Segn IEC e IRAM:

Cat. I: Equipos especiales similares acategora II pero con proteccin.Telecomunicaciones, electrnicos, etc.

Cat. II: Idem A. Equipos alimentadosde la instalacin fija como por ejemploelectrodomsticos, herramientas

porttiles, y cargas domsticassimilares

Cat. III: Idem B. Equipos deinstalaciones fijas con confiabilidad ydisponibilidad particulares, por ej. AA,interruptores y equipos industrialescon conexin permanente.

Cat. IV: Idem C. Equipos o cargaselctricos conectados en el exterior,antes del tablero de distribucinprincipal (medidor energa y equiposde proteccin).


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Tensiones de ensayo. Comparacin IEEE - IEC

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Otros aspectos son tambin contemplados por estas normativas.Un buen ejemplo lo constituyen aquellos equipos que se utilizan en escenarioscomplejos donde las sobretensiones pueden provenir de diferentes sistemas osuministro.

La figura muestra un computador que se suministra elctricamente de la red dedistribucin, pero que comnmente puede estar conectada a una lnea telefnica osimilar. (Computadores, equipos de televisin, videograbadoras, otros)

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Categorizacin de equipos elctricos (conclusin)

La categorizacin planteada anteriormente permite situarse en un contexto dondelos usuarios podran considerar que los equipos a utilizar deben cumplir con uncierto nivel de inmunidad certificado por un organismo competente.

De la misma manera los organismos gubernamentales pueden exigir que en suszonas de control solo se comercialicen equipos homologados que acrediten losensayos necesarios para garantizar su adecuado funcionamiento en lascondiciones de las redes elctricas disponibles.

Metodologa es fcilmente extrapolable a otros tipos de perturbaciones, productosy equipos de diferente ndole.

Por lo general se dictan regulaciones que indican el conjunto de estndares que sedeben cumplir para certificar un determinado sello de calidad.

Estructuras similares se aplican en diferentes partes del mundo, constituyendo unejemplo de ello las certificaciones necesarias para acreditar la marca CE

indispensable para que un equipo elctrico pueda ser comercializado en los pasesmiembros de la unin europea.

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