Proyecto de Revisin de Norma MERCOSURProjeto de Reviso de Norma MERCOSUL PNM 24:04-NM ISO 5579 Ao / Ano 2015 Ensayosnodestructivos-Ensayoradiogrficode materialesmetlicosmediantepelculayrayosXo gamma - Reglas bsicas (ISO 5579:2013, IDT) Ensaiosnodestrutivos-Exameradiogrficode materiaismetlicosusandofilmeeraiosXougama- Regras bsicas (ISO 5579:2013, IDT) ASOCIACIN MERCOSUR DE NORMALIZACIN Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 ndice Prefacio 1 Objeto 2 Referencias normativas 3 Trminos y definiciones 4 Clasificacin de las tcnicas radiogrficas 5 Generalidades 6Tcnicasrecomendadasparalarealizacinde radiografas 7 Informe de ensayo Sumrio Prefcio 1 Escopo 2 Referncia normativa 3 Termos e definies 4 Mtodos de montagem 5 Geral 6 Verificao de resposta 7 Relatrio do ensaio Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 iii Prefacio LaAMN-AsociacinMERCOSURde Normalizacin-tieneporobjetopromovery adoptarlasaccionesparalaarmonizacinyla elaboracindelasNormasenelmbitodel MercadoComndelSur-MERCOSUR,yest integradaporlosOrganismosNacionalesde Normalizacin de los pases miembros. LaAMNdesarrollasuactividaddenormalizacin pormediodelosCSM-ComitsSectoriales MERCOSUR-creadosparacamposdeaccin claramente definidos. LasNormasMERCOSURsonelaboradasen acuerdoconlasreglasdadasenlasDirectivas AMN, Parte 2. Los Proyectos de Norma MERCOSUR, elaborados enelmbitodelosCSM,circulanparavotacin nacionalporintermediodelosOrganismos NacionalesdeNormalizacindelospases miembros. LahomologacincomoNormaMERCOSURpor partedelaAsociacinMERCOSURde Normalizacinrequierelaaprobacinpor consenso de sus miembros. Esta Norma fue elaborada por elComit Sectorial MERCOSUR CSM 24 - Ensayos No Destructivos. EltextobasedelProyectodeRevisindela NMISO5579fueelaboradoporArgentinaytuvo su origen (traduccin) en la norma ISO 5579:2013 3Ed Non-destructive testing- Radiographic testing ofmetallicmaterialsusingfilmandX-orgamma rays - Basic rules. EstaNormaconsisteenlarevisindelaNMISO5579:2007,habiendosidohechas modificacionesdefondoydeformaparasu publicacin como NM ISO 5579:2015. Estasegundaedicincancelaysustituyela primera edicin, la cual fue tcnicamente revisada.

Se solicita atencin a la posibilidad de que algunos elementosdeestedocumentopuedanserobjeto dederechosdepatente.LaAMNnoes responsableporlaidentificacindecualquiero tales derechos de patente. Prefcio AAMN-AsociacinMERCOSURdeNormalizacin-temporobjetivopromovere adotarasaesparaaharmonizaoea elaboraodasnormasnombitodoMercado Comum do Sul - MERCOSUL, e integrada pelos OrganismosNacionaisdeNormalizaodos pases membros. A AMN desenvolve sua atividade de normalizao pormeiodosCSM-ComitsSetoriaisMERCOSUL-criadosparacamposdeaoclaramente definidos. NormasMERCOSULsoelaboradasdeacordo com as regras dadas nas Diretivas AMN, Parte 2. OsProjetosdeNormaMERCOSUL,elaborados nombitodosCSM,circulamparavotaonacional por intermdio dos Organismos Nacionais de Normalizao dos pases membros. AhomologaocomoNormaMERCOSUL porpartedaAsociacinMERCOSURde Normalizacinrequeraaprovaoporconsenso de seus membros. EstaNormafoielaboradapeloComitSetorial MERCOSUL CSM 24 - Ensaios No Destrutivos. Otexto-basedoProjetodeRevisodaNMISO5579foielaboradopeloBrasileteve origem(traduo)naISO5579:20133Ed Non-destructivetesting-Radiographictestingof metallic materials using film and X- or gamma rays - Basic rules. EstaNormaconsistenarevisoda NMISO5579:2007,tendosidofeitasalteraes defundoedeformaparasuapublicaocomo NM ISO 5579:2015. Esta segunda edio cancela e substitui a primeira edio, a qual foi tecnicamente revisada. Solicita-seatenoparaapossibilidadedeque algunselementosdestedocumentopossamser objetosdedireitosdepatente.AAMNno responsvelpela identificao de qualquerou tais direitos de patente. Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 Prefacio ISO ISO (Organizacin Internacional de Normalizacin) esunafederacinmundialdeorganismos nacionalesdenormalizacin(miembrosISO).El trabajo de preparacindeNormas Internacionales normalmenteserealizaatravsdeComits TcnicosdeISO.Cadamiembrointeresadoenel temaparaelcualhasidoconstituidouncomit tcnico,tienederechoaestarrepresentadoen dicho comit. Tambin toman parte en los trabajos organizacionesinternacionales,gubernamentales ynogubernamentalesvinculadasconISO.ISO colaboraestrechamenteconlaComisin ElectrotcnicaInternacional(IEC)entodoslos temas de normalizacin electrotcnica. EnlaDirectivaISO/IECparte1sedescribenlos procedimientosutilizadosparadesarrollaresta normaysu mantenimientoposterior.Enparticular debera tomarse nota de los diferentes criterios de aprobacinnecesariosparalosdistintostiposde documentosISO.Estanormaseredactde acuerdo con las reglas establecidas en la Directiva ISO/IEC parte 2. http://www.iso.org/directives. Sellamalaatencinsobrelaposibilidaddeque algunosdeloselementosdeestanorma internacionalpuedenserobjetosdederechosde patente.LaISOnoesresponsableporla identificacindealgunosodetodosdeestos derechos de patentes. Los detalles sobre cualquier derechodepatenteidentificadoduranteel desarrollodeestanormaseindicanenla introducciny/oenlalistaISOdedeclaraciones de patente recibidas. http://www.iso.org/patents. Cualquiernombrecomercialutilizadoenesta norma es informacin a la atencin de los usuarios y no constituye una recomendacin. ElComitresponsabledeestanormaesel ISO/TC135,Non-destructivetesting,subcomit SC 5, Radiation methods. Esta tercera edicin anula y sustituye a la segunda edicin(ISO5579:1998),quehasidorevisada tcnicamente. Lasmodificacionesaportadasdesdelasegunda edicin son las siguientes: -Sehaagregadoeltrminopelculaenel ttulo.Estanormainternacionalesvlida solamenteparalaspelculasradiogrficas paraENDcomodetectoresdeimagen,yno como detectores radiolgicos digital. -Referenciaalosindicadoresdecalidadde imagen conforme al estado del arte, segn las normas ISO 19232 partes 1 a 4. -Eliminacindelasfigurasrepresentantesde Prefcio ISO AISO(OrganizaoInternacionalpara Normalizao)umafederaomundialde organismosnacionaisdenormalizao(membros daISO).OtrabalhodepreparaodeNormas Internacionaisnormalmenterealizadopelos comits tcnicos da ISO. Cada organismo membro interessadonumassunto,paraoqualumcomit tcnicotenhasidoestabelecido,temodireitode estarrepresentadonocomitemquesto. Organizaesinternacionaisquemantenham ligaescomaISO,sejamelasgovernamentais ounogovernamentais,tambmparticipamdo trabalho. A ISO tem como colaboradora prxima a ComissoEletrotcnicaInternacional(IEC)a respeito de toda a normalizao eletrotcnica. NaDiretivaISO/IECParte1sodescritosos procedimentosutilizadosparadesenvolveresta norma e sua posterior manuteno. Em particular, deve-se notar os diferentes critrios de aprovao necessrios para os distintos tipos de documentos ISO.Estanormafoielaboradadeacordocomas regras estabelecidas na Diretiva IEC / ISO Parte 2 http://www.iso.org/directives. Sechamaaatenoparaapossibilidadedeque algunsdoselementosdestaNormaInternacional podem estar sujeitos aos seus direitos de patente. AISOnoresponsvelpelaidentificaode algunsoudetodosestesdireitosdepatente.Os detalhessobrequalquerdireitodepatente identificado durante a elaborao desta norma so indicadosnaintroduoe/ounalistadaISOde declaraesdepatentesrecebidas. http://www.iso.org/patents. Qualquer nome comercial utilizado nesta Norma umainformaoparaaatenodosusuriose no constitui uma recomendao. O Comit responsvel por esta Norma o ISO/TC 135,Non-destructivetesting,subcomitSC5, Radiation methods. Esta terceira edio cancela e substitui a segunda edio(ISO5579:1998),quefoirevista tecnicamente. Asmudanasfeitascomrelaoaotextoda terceira edio incluem: -Se incluiu o termo filme no ttulo. Esta Norma Internacionalvlidasomenteparaosfilmes deENDcomodetectoresdeimagemeno como detectores radiolgicos digitais. -Refernciaaosindicadoresdequalidadede imagemconformeoestadodaarte,conforme as normas ISO 19232 partes 1 a 4. -Eliminaodasfigurasrepresentantesdas Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 vlasconfiguracionesdeensayo(esas configuracionesdeensayosemantienen descritasenlasnormasdeaplicacin correspondientes). -ExtensindelatensinmximaderayosX, quepasade500kVhasta1 000kV,como mximo. -Modificacin del baco de distancias de origen mnimasparatamaosdelpuntofocalde0,1 mm hasta 0,8 mm. -Actualizacindelasclasesdesistemasde pelcula (las clases anteriores ISO T2y T3 se hansustituidoporlasclasesnuevasC3aC5 segn la ISO 11699-1:2008). -Varias modificaciones editoriales. configuraes de ensaio (essas configuraes de ensaio se mantm descritas nas normas de aplicao correspondentes). -ExtensodatensomximaderaiosX,que passa de 500 kV at 1 000 kV, como mximo. -Modificaodonomogramadedistnciasde origem mnimas para tamanhos de ponto focal de 0,1 mm at 0,8 mm. -Atualizaodasclassesdesistemasdefilme (asclassesanterioresISOT2eT3foram substituidaspelasclassesnovasC3aC5 conforme a ISO 11699-1:2008). -Vrias alteraes editoriais. Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 Introduccin Esta Norma especifica las tcnicas fundamentales deradiografaconelobjetodepermitirla obtencin de resultados satisfactorios y repetibles deformaeconmica.Estastcnicasestn basadas sobre la prctica generalmente aceptada y en la teora fundamental sobre el tema. Serecomiendaquelasnormasrelacionadascon aplicacionesespecficas,respetenestasreglas bsicas. Introduo Estanormaespecificaastcnicasfundamentais deradiografiacomoobjetivodepermitira obtenoderesultadossatisfatrioserepetitveis economicamente.Estastcnicassobaseadas emprticasgeralmenteaceitesenateoria fundamental sobre o assunto. Recomenda-sequeasNormasrelacionadascom aplicaesespecficas,respeitemestasregras bsicas. Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 1Ensayos no destructivos - Ensayo radiogrfico de materiales metlicos mediante pelcula y rayos X o gamma - Reglas bsicas (ISO 5579:2013, IDT) Ensaios no destrutivos - Exame radiogrfico de materiais metlicos usando filme e raios X ou gama - Regras bsicas (ISO 5579:2013, IDT) 1 Objeto EstaNormaMERCOSURestablecelasreglas generales de la radiografa industrial por rayos X y gammaparaladeteccindediscontinuidades, mediantetcnicasqueutilizanpelcula,aplicables alainspeccindeproductosymateriales metlicos. Esta Norma MERCOSUR no establece criterios de aceptacin para las imperfecciones. 2 Referencias normativas Losdocumentosindicadosacontinuacinson indispensablesparalaaplicacindeeste documento.Paralasreferenciasfechadas,se aplicansolamentelasedicionescitadas.Paralas referencias sin fecha, se aplican las ediciones ms recientesdeldocumentonormativocitado (incluyendo cualquier modificacin). NMISO9712:2014,Ensayosnodestructivos- CalificacinycertificacindelpersonalparaEND (ISO 9712:2012, IDT) ISO 5576, Non-destructive testing - Industrial X-ray and gamma-ray radiology - Vocabulary ISO5580,Non-destructivetesting-Industrial radiographic illuminators - Minimum requirements ISO11699-1,Non-destructivetesting-Industrial radiographicfilm-Part1:Classificationoffilm systems for industrial radiography ISO11699-2,Non-destructivetesting-Industrial radiographicfilms-Part2:Controloffilm processing by means of reference values ISO19232-1,Non-destructivetesting-Image qualityofradiographs-Part1:Imagequality indicators(wiretype)-Determinationofimage quality value ISO19232-2,Non-destructivetesting-Image qualityofradiographs-Part2:Imagequality indicators(step/holetype)-Determinationof image quality value ISO19232-4,Non-destructivetesting-Image qualityofradiographs-Part4:Experimental evaluationofimagequalityvaluesandimage quality tables 1 Escopo EstaNormaMERCOSULdefineasregrasgerais paraaradiografiaindustrialporraiosXegama usandotcnicasdefilme,aplicvelinspeode produtosemateriaismetlicosparafinsde deteco de falhas. EstaNormaMERCOSULnoestabelececritrios de aceitao para as imperfeies. 2 Referncias normativas Osdocumentosrelacionadosaseguirso indispensveis aplicao deste documento. Para refernciasdatadas,aplicam-sesomenteas ediescitadas.Pararefernciasnodatadas, aplicam-seasediesmaisrecentesdoreferido documento (incluindo emendas). NMISO9712:2014-Ensaiosnodestrutivos- QualificaoecertificaodepessoalemEND (ISO 9712:2012, IDT) ISO 5576, Non-destructive testing - Industrial X-ray and gamma-ray radiology - Vocabulary ISO5580,Non-destructivetesting-Industrial radiographic illuminators - Minimum requirements ISO11699-1,Non-destructivetesting-Industrial radiographicfilm-Part1:Classificationoffilm systems for industrial radiography ISO11699-2,Non-destructivetesting-Industrial radiographicfilms-Part2:Controloffilm processing by means of reference values ISO19232-1,Non-destructivetesting-Image qualityofradiographs-Part1:Imagequality indicators(wiretype)-Determinationofimage quality value ISO19232-2,Non-destructivetesting-Image qualityofradiographs-Part2:Imagequality indicators(step/holetype)-Determinationof image quality value ISO19232-4,Non-destructivetesting-Image qualityofradiographs-Part4:Experimental evaluationofimagequalityvaluesandimage quality tables Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 2 EN12543(allparts),Non-destructivetesting-CharacteristicsoffocalspotsinindustrialX-ray systems for use in non-destructive testing EN 12679, Non-destructive testing - Determination ofthesizeofindustrialradiographicsources- Radiographic method 3 Trminos y definiciones Paralos fines de la presente NormaMERCOSUR seaplicanlostrminosylasdefinicionesdelanorma ISO 5576 y los siguientes: 3.1 espesor nominal(t)espesor nominal del material en la zona a ensayar NOTA Las tolerancias de fabricacin no se tienen en cuenta. 3.2 espesor penetrado(w)espesordelmaterialenladireccindelhazde radiacincalculadosobrelabasedelespesor nominal de todas las paredes penetradas 3.3 distancia pelcula-objeto(b)distanciaentrelaparteradiografiadadellado irradiadodelobjetosometidoaensayoyla superficiedelapelculamedidaalolargodeleje central del haz de radiacin 3.4 tamao de la fuente(d)tamaodelafuentederadiacinotamaodel foco NOTAEltamaodelafuentesedefinesegnlanorma EN 12543paratubosderayosXolanormaEN 12679para fuentes de rayos gamma. 3.5 distancia fuente-pelcula(DFP) distancia entre la fuente de radiacin y la pelcula, medida en la direccin del haz NOTADFPeslasumadeladistanciafuente-objeto(3.6)yla distancia pelcula-objeto (3.3). 3.6 distancia fuente-objeto(f)distanciaentrelafuentederadiacinyellado fuentedelobjetodeensayo medidaalolargodel eje central del haz de radiacin EN12543(allparts),Non-destructivetesting-CharacteristicsoffocalspotsinindustrialX-ray systems for use in non-destructive testing EN 12679, Non-destructive testing - Determination ofthesizeofindustrialradiographicsources- Radiographic method 3 Termos e definies ParaosfinsdapresenteNormaMERCOSUL aplicam-seostermosedefiniesdaISO5576e as seguintes: 3.1espessura nominal(t)espessuranominaldomaterialnaregioem anlise NOTATolernciasdefabricaonodevemserlevadasem conta. 3.2espessura penetrada(w)espessuradomaterialnadireodofeixede radiaocalculadacombasenasespessuras nominais de todas as paredes penetradas 3.3distncia do objeto ao filme(b)distnciaentreoladodaradiaodaparte radiografada do objeto do ensaio e a superfcie do filme, medida ao longo do eixo central do feixe de radiao 3.4tamanho da fonte(d)tamanhodafontederadiaooutamanhodo ponto focal NOTAOtamanhodafontedeacordocomEN12543para tubos de raios X ou EN 12679 para fontes de raios gama.

3.5distncia da fonte ao filme(DFF) distnciaentreafontederadiaoeofilme, medida na direo do feixe NOTA DFF a soma da distncia da fonte ao objeto (3.6) e a distncia do objeto ao filme (3.3). 3.6distncia da fonte ao objeto(f) distnciaentreafontederadiaoeoladode origemdoobjetodoensaio,medidaaolongodo eixo central do feixe de radiaoProyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 34 Clasificacin de las tcnicas radiogrficas Lastcnicasradiogrficassedividenendos clases: 1) clase A: tcnicas bsicas. 2) clase B: tcnicas mejoradas. LastcnicasdeclaseBseutilizancuandola sensibilidaddelastcnicasdeclaseApudieran resultar insuficientes. Se puedenutilizartcnicas de calidad superioren comparacinconlasdeclaseBypuedenser objeto de un acuerdo entre las partes interesadas, especificandotodoslosparmetrosdeensayo apropiados. Laseleccindelatcnicaradiogrficasedebe acordar entre las partes interesadas. Si,porrazonestcnicas,noesposiblerespetar unadelascondicionesespecificadasparala claseS,comoporejemploeltipodefuentede radiacinoladistanciafuente-objeto,f,laspartes interesadaspuedenacordarquelacondicinseleccionadapuedeserlaespecificadaparala claseA.Laprdidadesensibilidaddebeser compensadaconunincrementodeladensidad mnimadehasta3,0omediantelaseleccinde unaclasedesistemadepelculamejorconunadensidadmnimade2,6.Lasotras condiciones para la clase B deben conservarse sin cambios,especialmentelacalidaddeimagen conseguida(ver5.7).Debidoaunasensibilidad superiorenrelacinconlaclaseA,puedeconsiderarse que la probeta est siendo ensayada en relacin con la clase B. 5 Generalidades 5.1 Calificacin del personal Elpersonalqueefectalosensayosno destructivos en conformidad con esta norma, debe estar calificado de acuerdo con laNM ISO 9712 o suequivalente,alnivelapropiadoyenelsector industrial correspondiente. 5.2 Proteccincontralasradiaciones ionizantes ADVERTENCIA-Laexposicindecualquier partedelcuerpoalosrayosXoalosrayos gammapuedeserextremadamenteperjudicial paralasalud.Cualquierusodeequiposde rayosXodefuentesradioactivasdebe realizarsesegnlasdisposicioneslegaleso reglamentarias apropiadas. 4 Classificao de tcnicas radiogrficas

Astcnicasradiogrficassodivididasemduas classes: 1) classe A: tcnicas bsicas; 2) classe B: tcnicas melhoradas. AstcnicasdaclasseBserousadasquandoas tcnicasdaclasseAnoforemsuficientemente sensveis. Sopossveismelhorestcnicasemcomparao comaclasseB,epodeseracordadoentreas partescontratantesporespecificaodetodosos parmetros apropriados do ensaio. Aescolhadatcnicaradiogrficadeveser acordada entre as partes interessadas. Se,pormotivostcnicosouindustriais,nofor possvelatenderaumadascondies especificadasparaaclasseB,talcomootipode fontederadiaoouadistnciadafonteao objeto,f,poderseracordadoentreaspartes contratantesqueacondioselecionadapoder seraqueestespecificadaparaaclasseA. A perda de sensibilidade ser compensada por um aumentodedensidademnimade3,0oupela seleo de uma classe melhor de sistema de filme comumadensidademnimade2,6.Asoutras condiesparaaclasseBpermanecem inalteradas, especialmente a qualidade da imagem obtida (ver 5.7). Devido melhor sensibilidade em relaoclasseA,aamostradoensaiopodeserconsideradacomosendoexaminadapara classe B. 5 Geral 5.1 Qualificao da equipe Equipe que ir realizar os ensaios no destrutivos, deacordocomestanorma,deveserqualificada emumnveladequadonosetorindustrial relevante,deacordocomaNMISO9712ou equivalente. 5.2 Proteo contra radiaes ionizantes ATENO-Aexposiodequalquerpartedo corpo humano aos raios X ou raios gama pode seraltamenteprejudicialsade.Ondequer queoequipamentoderaiosXoufontes radioativasestejaemuso,osrequisitoslegais adequados devem ser aplicados. Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 4 Sedebeaplicarestrictamentelalegislacinde seguridad local, nacional o internacional contra las radiaciones ionizantes. 5.3 Preparacindelasuperficieyestadode fabricacin Porlogeneral,noesnecesarioprepararla superficie;perocuandolasimperfecciones superficiales o los revestimientos puedan dificultar ladeteccindedefectos,sedebeamolar ligeramentelasuperficieoeliminarel revestimiento. Laradiografasedeberealizarluegodelaetapa finaldefabricacin,porejemplodespusdel amolado o del tratamiento trmico, excepto que se establezca otra especificacin. 5.4 Identificacin de las radiografas Se deben colocar smbolos sobre cada seccin del objetoradiografiado.Lasimgenesdeestos smbolosdebenaparecerenlaradiografafuera delazonadeinters,siesposible,ydeben asegurarunaidentificacininequvocadela seccin. 5.5 Marcado Elobjetoaexaminardebemarcarsedeforma permanenteafindeubicardeformaprecisala posicin de cada seccin. Cuandolanaturalezadelmaterialy/osus condicionesenservicionopermitanunmarcado permanente,sepuederegistrarlaubicacin mediante esquemas precisos o fotografas. 5.6 Solapado de las pelculas Cuandoseradiografeunazonacondosoms pelculas diferentes, las pelculas deben solaparse paraasegurarqueseradiografatodalazonade inters.Estosedebeverificarmedianteun marcadordealtadensidadcolocadosobrela superficiedelobjetoquedebeaparecerencada pelcula. 5.7 Indicadores de calidad de imagen (IQI) Se debe verificar la calidad de imagen mediante la utilizacindeindicadoresdecalidaddeimagen (IQI) en conformidad con las normas de aplicacin especfica,yconlasISO 19232-1,ISO 19232-2, ISO 19232-3 e ISO 19232-4. Precauesdeseguranalocais,nacionaisou internacionaisaousarradiaoionizantedevem ser rigorosamente aplicadas. 5.3Preparaodasuperfcieefasede fabricao Emgeral,apreparaodasuperfcieno necessria,masquandoasimperfeiesouos revestimentosdasuperfciedificultamadeteco dedefeitos,asuperfciedeveserpolidaouos revestimentos devem ser removidos. Salvo outras especificaes, a radiografia deve ser realizada aps a fase de fabricao, por exemplo, aps o polimento ou tratamento trmico. 5.4 Identificao de radiografias Ossmbolosdevemserafixadosemcadaseo doobjetoaserradiografado.Sempreque possvel,asimagensdestessmbolosdevem aparecernaradiografia,foradaregiode interesse, e devem garantir a identificao clara da seo. 5.5 Marcao Devero serfeitas marcas permanentes no objeto a ser examinado, a fim de localizar com preciso a posio de cada radiografia. Quandoanaturezadomateriale/ouassuas condiesdeservionopermitemamarcao permanente, o localizao pode ser registrada por meio de desenhos precisos ou fotografias. 5.6 Sobreposio de filmes Aoradiografarumareacomdoisoumaisfilmes separados,osfilmesdevemsesobrepor suficientementeparagarantirqueatodaaregio deinteressesejaradiografada.Issodeveser verificadoatravsdeummarcadordealta densidadenasuperfciedoobjeto,queir aparecer em cada filme. 5.7 Indicador de qualidade de imagem (IQI) A qualidade da imagem ser verificada atravs da utilizaodeumIQI,deacordocomasnormas deaplicaoespecficaseISO19232-1,ISO 19232-2, ISO 19232-3 e ISO 19232-4. Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 56 Tcnicasrecomendadasparala realizacin de radiografas 6.1 Condiciones de ensayo Lascaractersticasdelascondicionesdelensayo se deben determinar con las normas de aplicacin especfica. 6.2 Seleccin de la tensin del tubo de rayos X y de la fuente de radiacin 6.2.1 Equipo de rayos X Paramantenerunabuenasensibilidadde deteccindelasdiscontinuidades,latensindel tubo de rayos X debe ser la menor posible. LaFigura 1muestralosvaloresmximosdela tensin del tubo en funcin del espesor. 6Tcnicasrecomendadaspararealizar radiografias 6.1 Disposies do ensaio As disposies do ensaioso determinadas pelas normas especficas da aplicao. 6.2 Escolha da tenso do tubo de raio X e fonte de radiao 6.2.1 Equipamento de raio X Paramanterumaboasensibilidadedefalha,a tensodotuboderaioXdeveseramaisbaixa possvel. Osvaloresmximosdetensodotubocontraa espessuradomesmosoapresentadosnaFigura 1. Leyenda / Chave1 cobre/nquel y aleaciones / cobre/nquel e ligas 2 acero / ao 3 titanio y aleaciones / titnio e ligas 4 aluminio y aleaciones / alumnio e ligas U tensin de rayos X, en kV / tenso de raio X em kV w espesor penetrado, en mm / espessura penetrada em mm Figura 1 - Tensin mxima de rayos, U, para equipos de rayos X de hasta 1 000 kVen funcin del espesor penetrado, w, y del material / Tenso mxima de raio-X U para aparelhos de raio X at 1 000 kV como uma funo da espessura penetrada, w, e o material Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 6 6.2.2 Otras fuentes de radiacin LaTabla 1establecelosrangosdeespesor penetradospermitidosparalasfuentesde radiacingammaylosequiposderayosXde energa superior a 1 MeV. Deseracordadoporlaspartesinteresadas,el valormnimodelespesorpenetradopuede reducirse: - hasta 10 mm para Ir 192, y - hasta 5 mm para Se 75. Enprobetasdelgadasdeacero,losrayosgama procedentesdefuentesdeSe 75,Ir 192yCo 60 no generarn radiografas con una sensibilidad de deteccindedefectostanbuenacomoladelos rayosXutilizadosconlosparmetrostcnicos apropiados. Noobstante,debidoalasventajasdemanejoy accesibilidaddelasfuentesderayosgamma,la Tabla 1 da un rango de espesores para los que se puedenutilizarestasfuentescuandonosea posible el uso de los rayos X. Enalgunasaplicaciones,puedenpermitirse rangosdeespesorpenetradosmsgrandessise puede obtener una calidad de imagen suficiente. Enloscasosenlosqueserealizanradiografas mediante rayos gamma, el tiempo de transferencia totalnecesarioparaposicionaryrebobinarla fuente no debe exceder el 10% del tiempo total de exposicin. 6.2.2 Outras fontes de radiao

Asfaixasdasespessuraspenetradaspermitidas paraasfontesderaiogamaeequipamentosde raio X acima de 1 MeV so dadas na Tabela 1. Porumacordoentreaspartescontratantes,o valormnimodeespessurapenetradapodeser reduzido - para 10 mm para Ir 192, e - para 5 mm para Se 75. Emamostrasdeaofinas,raiosgamaapartirde SE75,Ir192eCo60noiroproduzir radiografiascomumasensibilidadededeteco dedefeitotoboaquantoderaiosX,utilizados com parmetros apropriados da tcnica. Noentanto,devidosvantagensdasfontesde raiosgamaemrelaoaomanuseioe acessibilidade,aTabela1dumafaixade espessuras para as quais cada uma dessas fontes de raios gama pode ser utilizada quando o uso de raios X no praticvel. Paracertasaplicaes,faixasmaisamplasde espessuradaparedepodemserpermitidasse umaqualidadedeimagemsuficientepuderser alcanada. Nos casos em que as radiografias so produzidas utilizandoraiosgama,otempototaldeviagem paraposicionarerebobinarafontenodeve exceder 10% do tempo total de exposio. Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 7Tabla 1 - / Tabela 1 Rango de espesor penetrado para fuentes de rayos gamma y equipos de rayos Xcon energa por encima de 1 MeV para aleaciones de acero, de cobre, y de nquel / A faixa de espessura penetrada para fontes de raio gama e equipamento de raio X com energia acima de 1 MeV para ligas de ao, cobre e base de nquel Fuente de radiacin / Fonte de radiao Espesor penetrado / Espessura penetrada w(mm)Clase A / Classe AClase B / Classe B Tm 170 w s 5 w s 5Yb 169a 1 s w s 15 2 s w s 12Se 75b 10 s w s 40 14 s w s 40Ir 192 20 s w s 100 20 s w s 90Co 60 40 s w s 200 60 s w s 150Equipo de rayos X de 1 MeV a 4 MeV /Equipamento de raio X com energia de 1 MeV a 4 MeV30 s w s 200 50 s w s 180Equipo de rayos X de 4 MeV a 12 MeV /Equipamento de raio X com energia de 4 MeV a 12 MeVw > 50 w > 80Equipo de rayos X de energa superior a 12 MeV /Equipamento de raio X com energia acima de 12 MeVw > 80 w > 100aParaelaluminioyeltitanio,elespesorpenetradoesde10 mmsws70 mmparalaclaseAyde25 mmsw s 55 mm para la clase B. /Para alumnio e titnio, a espessura penetrada do material 10 mm 150 kV at 250 kVC4Pantalla frontal y posterior de plomo de 0,02 mm hasta 0,15 mm /Telas frontais e traseiras de chumbo de 0,02 mm at 0,15 mmYb 169Tm 170w < 5 mmC5C3Ninguna o pantalla frontal y posterior de plomo de 0,03 mm, como mximo /Nenhuma ou telas frontais e traseiras de chumbo de at 0,03 mmw > 5 mm C4Pantalla frontal y posterior de plomo de 0,02 mm hasta 0,15 mm /Telas frontais e traseiras de chumbo de 0,02 mm at 0,15 mmPotencial de rayos X > 250 kV a 500 kV /Potenciais de raio X >250 kV at 500 kVw s 50 mmC5C4Pantalla frontal y posterior de plomo de 0,02 mm hasta 0,2 mm /Telas frontais e traseiras de chumbo de 0,02 mm at 0,2 mmw > 50 mm C5Pantalla frontal de plomo de 0,1 mm hasta 0,2 mmb / Tela frontal de chumbo de 0,1 mm at 0,2 mmb

Pantalla posterior de plomo de 0,02 mm hasta 0,2 mmb / Tela traseira de chumbo de 0,02 mm at 0,2 mmb

Potencial de rayos X > 500 kV a 1 000 kV /Potenciais de raio X >500 kV at 1000 kV w s 75 mm C5 C4 Pantalla frontal y posterior de acero o cobre de 0,25 mm hasta 0,7 mmc /Telas frontais e traseiras de ao ou de cobre de 0,25 mm at 0,7 mmc

w > 75 mm C5 C5Se 75 C5 C4Pantalla frontal y posterior de plomo de 0,02 mm hasta 0,2 mm /Telas frontais e traseiras de chumbo de 0,02 mm at 0,2 mmIr 192 C5 C4Pantalla frontal de plomo de 0,02 mm hasta 0,2 mm /Tela frontal de chumbo de 0,02 mm at 0,2 mmPantalla frontal de plomo de 0,1 mm hasta 0,2 mmb /Tela frontal de chumbo de 0,1 mm at 0,2 mmb Pantallas posteriores de plomo de 0,02 mm hasta 0,2 mm / Telas traseiras de chumbo de 0,02 mm at 0,2 mm contnua / continua Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 9Tabla 2 (continuacin) / Tabela 2 (continuao) Fuente de radiacin / Fonte de radiao Espesor penetrado / Espessura penetrada w Clases de sistemade pelculaa / Classe de sistema de filmea Tipo y espesor de las pantallas de metal / Tipo e espessura das telas metlicas Clase A /Classe A Clase B /Classe B Clase A /Classe A Clase B /Classe B Co 60 w s 100 mmC5 C4Pantalla frontal y posterior de acero o cobre de 0,25 mm hasta 0,7 mmc /Telas frontais e traseiras de ao ou de cobre de 0,25 mm at 0,7 mmc w > 100 mm C5 Equipo de rayos X con energa de 1 MeV a 4 MeV / Equipamento de raio X com energia de 1 MeV a 4 MeVw s 100 mmC5C3Pantalla frontal y posterior de acero o cobre de 0,25 mm hasta 0,7 mmc /Telas frontais e traseiras de ao ou de cobre de 0,25 mm at 0,7 mmc w > 100 mm C5Equipo de rayos X con energa de 4 MeV a 12 MeV / Equipamento de raio X com energia de 4 MeV a 12 MeVw s 100 mmC4 C4 Pantalla frontal de cobre, acero o tantalio de 1 mmd , como mximo / Tela frontal de cobre, ao ou tntalo de at 1 mmd

Pantalla posterior de cobre o acero de 1 mm, como mximo y de tantalio de 0,5 mm, como mximod / Tela traseira de cobre ou de ao de at 1 mm e tntalo de at 0,5 mmd 100 mm < w s 300 mmC5C4w > 300 mm C5Equipo de rayos X con energa superior a 12 MeV / Equipamento de raio X com energia acima de 12 MeVw s 100 mm C4no aplica / no aplicvel Pantalla frontal de tantalio de 1 mme, como mximoSinpantallaposterior/Telafrontalde tntalo de at 1 mme Sem tela traseira100 mm < w s 300 mmC5C4w > 300 mm CsPantalla frontal de tantalio de 1 mme, como mximo Pantalla posterior de tantalio de 0,5 mme, como mximo / Tela frontal de tntalo de at 1 mme Tela traseira de tntalo de at 0,5 mme aTambinsepuedenutilizarsistemasdepelculasdeclasessuperiores./Tambmpodemserusadasclassesde sistema de filme melhores.bPuedenutilizarsepelculaspreenvasadasconunapantallafrontalde0,03 mm,comomximo,sisecolocauna pantalla de plomo adicional de 0,1 mm entre el objeto y la pelcula. / Filmes pr-carregados com uma tela frontal de at 0,03 mm podem ser usados se uma tela de chumbo adicional de 0,1 mm for colocada entre o objeto e o filme.c En la clase A, tambin pueden usarse pantallas de plomo de 0,5 mm hasta 2 mm. / Na classe A, tambm podem ser utilizadas telas de chumbo de 0,5 mm at 2 mm.d En la clase A, se pueden utilizar pantallas de plomo de 0,5 mm a 1,0 mm previo acuerdo por las partes interesadas. /NaclasseA,telasdechumbode0,5mmat1,0mmpodemserutilizadasmedianteacordoentreaspartes contratantes.eTambinsepuedenutilizarpantallasdetungstenosiasseacuerda./Telasdetungstniopodemserusas mediante acordo. Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 10 Tabla 3 - / Tabela 3 Clases de sistemas de pelculas y pantallas metlicas para aluminio y titanio /Classes de sistema de filme e telas metlicas de alumnio e titnio Fuentes de radiacin /Fonte de radiao Clase de sistemade pelculaa /Classe de sistema de filmea Tipo y espesor de la pantalla intensificadora / Tipo e espessura das telas de intensificao Clase A / Classe A Clase B / Classe B Potencial de rayos X s 150 kV /Potenciais de raio X < 150 kVC5C3 Sin o con pantalla frontal de plomo de 0,03 mm, como mximo y pantalla posterior de plomo de 0,15 mm, como mximo / Nenhuma ou tela de chumbo frontal de at 0,03 mm e tela traseira de at 0,15 mmPotencial de rayos X de > 150 kV a 250 kV /Potenciais de raio X >150 kV at 250 kVPantalla frontal y posterior de plomo de 0,02 mm hasta 0,15 mm / Telas frontais e traseiras de chumbo de 0,02 mm at 0,15 mmPotencial de rayos X de > 250 kV a 500 kV /Potenciais de raio X >250 kV at 500 kVPantalla frontal y posterior de plomo de 0,1 mm hasta 0,2 mm / Telas frontais e traseiras de chumbo de 0,1 mm at 0,2 mmYb 169 Pantalla frontal y posterior de plomo de 0,02 mm hasta 0,15 mm / Telas frontais e traseiras de chumbo de 0,02 mm at 0,15 mmSe 75 Pantalla frontalb de plomo de 0,2 mm y pantalla posterior de plomo de 0,1 mm a 0,2 mm / Telas de chumbo frontal de0,2 mmb e traseira de 0,1 mm at 0,2 mma Tambin se pueden utilizar sistemas de pelculas de clases superiores (vase la norma ISO 11699-1). / Tambm podem ser usadas classes de sistema de filme melhores (ver ISO 11699-1). b Se pueden utilizar dos pantallas de plomo de 0,1 mm en vez de una pantalla de plomo de 0,2 mm. / Em vez de uma tela de chumbo de 0,2 mm, podem ser utilizadas duas telas de chumbo de 0,1 mm. 6.4 Alineacin del haz Elhazderadiacindebeapuntaralcentrodel reasometidaainspeccinydebeser perpendicularalasuperficiedelobjetoenese puntoexceptosisepuededemostrarque determinadasimperfeccionessedetectanmejor medianteunaalineacindiferentedelhaz.En dicho caso, se permite una alineacin del haz ms adecuada. Laspartesinteresadaspuedenacordarotros modos de radiografiar. 6.5 Reduccin de la radiacin dispersa 6.5.1 Filtros y colimadores A fin de reducir el efecto de la radiacin dispersa, laradiacindirectasedebecolimartantocomo sea posible hacia el rea inspeccionada. ConfuentesderadiacindeSe 75,Ir 192yCo 60 6.4 Alinhamento do feixe Ofeixederadiaodeveserdirecionadoparao centrodareaaserinspecionadaedeveser perpendicularsuperfciedoobjetonaquele ponto, exceto quando for possvel demonstrar que certasimperfeiessovistasdeumaforma melhoratravsdeumalinhamentodiferentedo feixe.Nestecaso,umalinhamentoapropriadodo feixe pode ser permitido. Outrasformasderadiografiaspodemser acordadas entre as partes contratantes. 6.5 Reduo da radiao dispersa

6.5.1 Filtros e colimadores Afimdereduziroefeitodaradiao retrodifundida,aradiaodiretadeveser colimada,tantoquantopossvel,paraaseoa ser analisada. ComasfontesderadiaoSe 75,Ir 192eCo 60Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 11o en caso de difusin de bordes, se puede utilizar unalminadeplomocomofiltrodelaradiacin dispersa de baja energa, colocada entre el objeto yelchasis.Elespesordeestalminaestar comprendidoentre0,5 mmy2 mmen funcindel espesor penetrado. 6.5.2 Intercepcin de la radiacin retrodispersa Si es necesario, se debe proteger la pelcula de la radiacinretrodispersamedianteunespesor adecuadodeplomodealmenos1 mm,ode estao de al menos 1,5 mm, colocado detrs de la combinacin pelcula-pantalla (chasis). Lapresenciaderadiacinretrodispersadebe comprobarseencadanuevadisposicinde ensayo, con una letra B (con una altura mnima de 10 mm y un espesor mnimo de 1,5 mm) colocado inmediatamentedetrsdecadachasis.Sila imagendeestesmboloseregistracomouna imagenmsclaraenlaradiografa,debe rechazarse.Sielsmboloesmsoscuroo invisible,laradiografaseaceptayaportauna pruebadebuenaproteccincontralaradiacin dispersa. 6.6 Distancia fuente-objeto Ladistanciafuente-objetomnima,fmin.,depende del tamao de la fuente o tamao del foco, d, y de la distancia objeto-pelcula, b. El tamao de la fuente o tamao del foco, d, debe estarenconformidadconlaEN 12543ola EN 12679.Cuandoeltamaodelafuenteoel tamao del foco estndefinidos por dosmedidas, se debe utilizar el valor mayor. Cuandosepuedaseleccionarladistanciaf,debe sertalquelarelacinf /ddeesadistanciaconel tamaodelafuenteoeltamaodelfocod,debe cumplir con las condiciones siguientes: Para la clase A: ouemcasodedispersodeponta,umafolhade chumbopodeserusadacomoumfiltroda radiaoespalhadadebaixaenergiaentreobjeto ecassete.Aespessuradestafolhade0,5mm at2mm,deacordocomaespessurade penetrao. 6.5.2 Interceptao da radiao retrodifundida Se necessrio, o filme deve ser protegido contra a radiaoretrodifundidaporumaplacadechumbo de espessura adequada de pelo menos 1 mm, ou de estanho de pelo menos 1,5 mm, colocada atrs do conjunto filme-tela. Apresenadaradiaoretrodifundidadeveser verificada para cada novo arranjo de teste, atravs de uma letra de chumbo B (com altura mnima de 10mmeespessura mnimade1,5mm) colocada imediatamenteatrsdecadacassete.Sea imagemdestesmboloregistradacomouma imagemmaisclaranaradiografia,eladeveser rejeitada.Seosmboloaparecemaisescuroou invisvel,aradiografiaaceitveledemonstra uma boa proteo contra a radiao dispersa. 6.6 Distncia da fonte ao objeto Adistnciamnimadafonteaoobjeto,fmin, dependedotamanhodafonteoudotamanhodo ponto focal, d, e da distncia do objeto ao filme, b. O tamanho da fonte e o tamanho do ponto focal, d, devem estar em conformidade com a EN 12543 ou EN12679.Quandootamanhodafonteouo tamanhodopontofocaldefinidoporduas dimenses, deve ser utilizado o valor maior. Adistnciafdeve,semprequepossvel,ser escolhidademodoquearelaoentreesta distnciaeotamanhodafonteouotamanhodo pontofocald,isto,f/d,nosejamenorqueos valores indicados pelas seguintes frmulas: Para classe A: 3 / 2b5 , 7df|.|

\|>mm(1) Para la clase B:Para classe B: 3 / 2b15df|.|

\|>mm(2) donde: bdistancia pelcula-objeto en milmetros. onde b distncia do objeto ao filme em milmetros. Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 12 Siladistanciabesmenorque1,2t,entoncesla dimensinbenlaFrmula(1),Frmula(2),yFigura2,debereemplazarseporelespesor nominal t. Para la determinacin de la distancia objeto-fuente fmin.,puedeusarseelbacodelaFigura2 trazandounalnearectadesdeelejebalejed paraleerelvalorfmin.resultanteenlaescala central, dependiendo de la clase de ensayo. Este baco estbasado en laFrmula (1)y en la Frmula (2). SilaclaseAseusaprincipalmenteparala deteccindeimperfeccionesplanas,entoncesla distancia fmn.mnima debe serla misma que para la clase B a fin de reducir la penumbra geomtrica por un factor de 2. Enlasaplicacionesdematerialessensiblesala fisuracin,utilizadosencondicionescrticas,se deben utilizar tcnicas radiogrficas ms sensibles que las de la clase B. Seadistnciabmenorque1,2t,entoa dimensobnaFrmula(1),Frmula(2),eFigura2devesersubstitudapelaespessura nominal t. Paraadeterminaodadistnciadafonteao objetofmin,onomogramanaFigura2podeser utilizado, traando uma linha do eixo b ao eixo d e lendoovalorresultantefminapartirdaescala central, dependendo da classe de teste. EstenomogramasebaseianaFrmula(1)e Frmula (2). SeaclasseAprincipalmenteutilizadaparaa detecodeimperfeiesplanas,entoa distnciamnimafmindeveseramesmaqueada classe B, a fim de reduzir o flou geomtrico em um fator de 2. Emaplicaestcnicascrticasdemateriais sensveisrachadura,devemserutilizadas tcnicasradiogrficasmaissensveisdoquea classe B. Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 13 Medidas en milmetros / Dimensoes em milmetros Leyenda / Chave afmn. para la clase A / fmin para classe A bfmn. para la clase B / fmin para classe B Figura 2 - baco para la determinacin de la distancia mnima objeto-fuente fmn., enrelacin con la distancia objeto-pelcula, b, y el tamao de la fuente, d / Nomograma para a determinao da distncia mnima da fonte ao objeto, fmin, em relao distncia da fonte ao objeto, b, e ao tamanho da fonte, d 6.7 rea mxima para una exposicin simple La relacin entre el espesor penetrado en el borde exteriordeunazonaevaluadadeespesor uniformeconelcorrespondientealcentrodelhazdebeser1,1comomximoparalaclaseBy1,2 como mximo para la clase A. 6.7 rea mxima para uma exposio nica Arelaoentreaespessurapenetradanaborda externadeumareaavaliadadeespessura uniformeparaaquelanocentro,ofeixenodeve sersuperiora1,1paraaclasseBe1,2paraa classe A. Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 14 Lasdensidadesresultantesdecualquiervariacin enelespesorpenetradonodebensermenores quelosresultadosindicadosen6.8nimayores quelasadmitidasporelnegatoscopiodisponible, enlamedidaqueseaposiblelautilizacinde mscaras adecuadas. 6.8 Densidad de la radiografa Las condiciones de exposicin deben ser tales que ladensidadtotaldelaradiografa(incluyendola densidaddelsoporteyvelo)enlazona inspeccionadaseaigualomayorquelaindicada en la Tabla 4.Asdensidadesresultantesdequalquervariao daespessurapenetradanodevemsermenores doqueasindicadasem6.8oumaioresqueas permitidaspeloiluminadordisponvel,desdeque seja possvel a proteo adequada. 6.8 Densidade da radiografia Ascondiesdeexposiodevemsertaisquea densidadetotaldaradiografia(incluindoa densidadedebaseedenvoa)nazona inspecionadasejamaiorouigualdensidade fornecida na Tabela 4. Tabla 4 - / Tabela 4 Densidad ptica de las radiografas / Densidade ptica das radiografias Clase / ClasseDensidad pticaa / Densidade ticaa A > 2,0b B > 2,3c a Se permite una tolerancia de medicin de 0,1. / permitida uma tolerncia de medio de 0,1.b Se puede reducir hasta 1,5 por acuerdo entre las partes interesadas. / Pode ser reduzida a 1,5 por acordo especial entre as partes contratantes.c Se puede reducir hasta 2,0 por acuerdo entre las partes interesadas. / Pode ser reduzida a 2,0 por acordo especial entre as partes contratantes. Lasdensidadespticasaltassonventajosas cuando la luz de visualizacin sea suficientemente brillantesegn6.10.Ladensidadmximalegible dependedelnegatoscopioutilizadoparael examenydesuluminanciamxima(verISO 5580).Ladensidadmximalegibledebe mostrarse en el negatoscopio. Afindeevitardensidadesdeveloanormalmente altasdebidasalenvejecimientodelapelcula,al reveladooalatemperatura,ladensidaddevelo debecomprobarseperidicamenteconuna muestrasinexponer,delapelculaqueest siendoutilizada,manipuladayprocesadabajolas mismascondicionesdeunaradiografareal.La densidaddeveloser0,3comomximo.La densidaddeveloestdefinidaaqucomola densidad total (emulsin y soporte) de una pelcula no expuesta y procesada. Cuandoseutilizaunatcnicamultipelculacon interpretacindepelculasimple,ladensidad ptica de cada pelcula debe estar de acuerdo con lo indicado en la Tabla 4. Cuandoseutilizaunatcnicamultipelculacon interpretacindepelculaindividual,ladensidad pticadecadapelculadebesermenoroiguala 1,3. 6.9 Procesado Densidades pticas elevadas podem ser utilizadas comvantagemondealuzdeobservao suficientementeforte,deacordocom6.10.A densidademximalegveldependedo visualizadordofilmeesualuminosidademxima (verISO 5580).A densidade mxima legvel deve ser afixada no visualizador. Paraevitardensidadesdenvoaexcessivamente elevadasresultantesdoenvelhecimentodofilme, arevelao,atemperaturaeadensidadede nvoaseroverificadosperiodicamenteemuma amostranoexpostatiradadosfilmesemuso, manuseadaeprocessadasobasmesmas condiesdaradiografiaefetiva.Adensidadede nvoa no deve exceder 0,3. Densidade de nvoa definida aqui como a densidade total (emulso e de base) de um filme no exposto e processado.

Aoutilizarumatcnicadefilmesmltiploscom interpretao de filmes nicos, a densidade ptica decadafilmedeverestardeacordocoma Tabela 4. Seaexibiodefilmeduplosolicitada,a densidadeticadeumfilmeniconodeveser inferior a 1,3. 6.9 Processamento Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 15Laspelculassedebenprocesardeacuerdocon las condiciones recomendadas por el fabricante de las mismas y el de los productos qumicos, a fin de obtener la clase de sistema de pelcula elegido. Se debeprestarunaatencinparticularala temperatura as como a la duracin del revelado y delavado.Elprocesadodelapelculadebeser controlado,regularmente,deacuerdoconla ISO 11699-2.Lasradiografasnodebentener defectosoriginadosporelprocesadoopor cualquierotracausaquepuedainterferirconla interpretacin. 6.10Condicionesdevisualizacindelas pelculas Lasradiografassedebenexaminarenuna habitacinoscurasobreunnegatoscopiocon luminanciaajustabledeacuerdoconlaISO 5580. Esconvenientequelasuperficienoenmascarada delnegatoscopiocorrespondaalasuperficie examinada. 7 Informe de ensayo Paracadaradiografaoseriederadiografas,se debeconfeccionaruninformedeensayo, facilitandoinformacinsobrelatcnica radiogrfica utilizada y cualquier otra circunstancia especialquepermitaentendermejorlos resultados. Se deben especificar los detalles relacionados con la forma y contenidos de las normas de aplicacin especiales,enunacuerdoestablecidoentrelas partesinteresadas.Siseefectalainspeccin nicamente conforme a esta norma, elinforme de ensayodebeincluiralmenoslainformacin siguiente: a) nombre del organismo de inspeccin; b) nmero nico de informe; c) objeto; d) material; e) estado de fabricacin; f) espesor nominal; g)tcnicayclaseradiogrfica,sensibilidaddeIQI requerida; h) sistema de marcado utilizado; i) disposicin de ensayo y ubicacin de la pelcula, si se requiere; j) fuente de radiacin, tipo, tamao del foco emisor Osfilmessoprocessadosdeacordocomas condiesrecomendadaspelofabricantedofilme edosprodutosqumicosparaobteraclassedo sistemadefilmeselecionada.Umaateno especialdeveserdadatemperatura,tempode revelaoetempodelavagem.Oprocessamento dofilmedevesercontroladoregularmente,de acordocomaISO11699-2.Asradiografiasno devem ter defeitos decorrentes do processamento ououtrascausasquepossaminterferirna interpretao. 6.10 Condies de visualizao de filme Asradiografiasdevemserexaminadasemuma salaescuracomumateladevisualizao(caixa deluz)comluminosidadeajustvel,deacordo comaISO5580.Ateladevisualizaodeveser protegida rea de interesse. 7 Relatrio do teste Paracadaradiografiaouconjuntoderadiografias deveserfeitoumrelatriodetestequefornea informaessobreatcnicaradiogrficautilizada equaisqueroutrascircunstnciasespeciaisque permitamumamelhorcompreensodos resultados. Detalhesrelativosformaecontedodevemser especificadosemnormasdeaplicaoespeciais ouacordadosentreaspartescontratantes.Sea inspeorealizadaexclusivamentecomesta norma,orelatriodetestedeveincluir,pelo menos, as seguintes informaes: a) nome do rgo de inspeo; b) nmero nico do relatrio; c) objeto; d) material; e) fase de fabricao; f) espessura nominal; g)tcnicaeclasseradiogrfica,sensibilidadeIQI necessria; h) sistema de marcao utilizado; i) arranjo do teste e planode posio do filme, se necessrio; j) fonte, tipo, tamanho do ponto focal de radiao e Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 16 e identificacin del equipo utilizado; k)tipo de pelculay clasedel sistema de pelcula, pantallas y filtros; l)tensindeltuboycorrienteotipodefuentey actividad; m)tiempodeexposicinydistanciafuente-pelcula; n)tcnicadeprocesadodepelculas: manual/automtica y condiciones de revelado; o) tipo y posicin del IQI; p)resultadosdelensayo,incluyendodatossobre la densidad de la pelcula y lectura del IQI; q)conformidadconestanorma(esdecir,la ISO 5579:2013); r)cualquierdesviacinconrelacinalapresente norma,quehayasidoobjetodeunacuerdo especial; s)nombre,certificacinyfirmadel(delas) persona(s) responsable(s); t) fecha(s) de la exposicin e informe de ensayo. identificao do equipamento utilizado; k) tipo e sistema do filme, telas e filtros; l) tenso do tubo e tipo e atividade atual ou fonte; m)tempodeexposioedistnciadaorigemao filme; n)tcnicadeprocessamentodofilme:condies de revelao manual/automtica; o) tipo e posio de IQI; p)resultadosdoteste,incluindodadossobrea densidade do filme e leitura de IQI; q)conformidadecomestanorma(ouseja, ISO 5579: 2013); r)qualquerdesviodestanorma,poracordo especial; s)nome,certificaoeassinaturado(s) responsvel(is); t) data(s) da exposio e relatrio de teste. Proyecto de Revisin NM/Projeto de Reviso NM 24:04-NM ISO 5579 17 ICS 77.040.20 Descriptores: ensayo no destructivo; radiografa industrial; rayos X; rayos gamma. Palavras chave: ensaios no destrutivos; radiografia industrial; raios X; raios gama. Nmero de pginas: 16