curso perfiles

7/25/2019 CURSO PERFILES

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PERFILES DE POZOSPARTE II

FUNDAMENTOS

Por: Gerardo PozoDave Scott (Apolo 15) corriendo el primerregistro en la Luna 1971(foto NASA)


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ORQU LA INTER RETACIN DE ERFILES

Quinformacin da la interpretacin de perfiles?

Porosidad Permeabilidad

Saturacin de agua y movilidad de los hidrocarburos

Tipo de fluidos e hidrocarburos

Litologa estructura de la formacin ambientes sedimentarios


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Risked Reserves

1!1!"##$

1912-1926 (Francia) Los hermanos Conrad y Marcel Schlumberger,

inventaron una tcnica de prospeccin minera, basada en mediciones

elctricas tomadas en la superficie terrestre.

LA H ISTORIA


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El 5 de Setiembre de 1927 en el campo de Pechelbronn, (Francia) se tomo el primer

Registro elctrico de resistividad en un pozo de petrleo y por primera vez se relacion

un evento geolgico con una medicin elctrica.El primer registro elctrico en el continente americano se tomo en Cabimas (Venezuela),

El 6 de Marzo de 1929.

En el Lote X el primer registro elctrico se tomo en el pozo 331 del yacimiento de

Ballena en Agosto 1937.

LA H ISTORIA


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ERFILAJE DE OZOS

El perfilaje de un pozo consiste en la bajada

de una sonda (herramienta), hasta el fondodel mismo, por medio de un cable conductor

que la vincula con el equipo de superficie, el

cual procesa la informacin enviada por la

sonda y se produce el perfil del pozo en

tiempo real.

La sonda en movimiento de abajo hacia arriba va

recogiendo informacin de las paredes del pozo a ! m.

por minuto, se envia por telemetr"a hacia la

computadora del equipo de superficie, esta procesa la

informacin y genera el perfil del pozo

Perfil de pozoSP ResistivityPerfil de pozo

SP Resistivity


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COM ONENTES DE UN SISTEMA DE ERFILAJE


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Risked Reserves

1!1!"##$

#$%& 'erf"l de resistividad

#$ escubrimiento del potencial espont*neo (+')#$ uestra de pared del pozo#$ -egistro de temperatura#$ -egistro de buzamiento#$$ 'erf"l de -ayos /amma.#$0% Ley de 1rchie2 primera interpretacin cuantitativa.#$03 -egistro de 4eutrn#$0& -egistro de induccin#$05 icroperf"l#$05 eterminacin de -6 de la +'.#$3 Lateroperf"l y icrolateroperf"l

#$3 'erf"l de ensidad.#$30 'erf"l +nico#$! 7 $&! ejoras en todos los perfiles (1nalgico a igital)#$5! 8 $$! 'erfiles de imagenes y -esonancia agn9tica#%!!!:.L;, ensidad 8 -esistividad etc a hueco entubado,


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%erfil Lito & 'romatografa de gases s*uema de po+o


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con valores altos en ppm de metano ('1 m,-imo $1.1. ppm)/ etano ('" m,-imo "#$7 pmm)/ propano

('$ m,-imo "5$ ppm)/ 0utano (' m,-imo 7# ppm ) 2 pent,no ('5 m,-imo $ ppm)3

La evaluaci4n de los Ratios '" !'$ nos indica *ue la unidad estara en la zona de gaspor presentarvalores ma2ores a $/ l Wh(idrocar0on 6etness) ratio tiene valores menores a 1735/ Bh(idrocar0on0alance) ratio es ma2or al Wh2 ' (idrocar0on cracter) ratio es menor a Wh2 Bhlo cual nos indicarauna saturaci4n rico en gas condensado / el mismo efecto se muestra en el gr,fico del tri,ngulo/ como en

la pendiente de la curva de %i-ler ma2or a 5 indicativo de +ona de gas33

valuaci4n de la 'romatografa de gases


10/108

Resolucin e He!!" # ien$"s e

e!%il"&e


11/108

Resolucin e He!!" # ien$"s e

e!%il"&e


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EL CA'EZAL DEL ERFIL


13/108

Risked Reserves

1!1!"##$

ERFIL ELCTR ICO T( ICO


14/108

OTENCIAL ES ONT)N EO *S +

Es un registro de los potenciales naturales

terrestres (no inducidos), que se producen

entre un electrodo movil dentro del pozo y

un electrodo fijo en superficie

El potencial espont*neo es un fenmeno natural que e=iste en el pozo. Es el voltaje que aparece en

los bordes de las capas porosas y capas de lutitas, este voltaje es resultado de una corriente

continua que se genera en dichos bordes por la diferencia de salinidad entre el filtrado de lodo y el

agua de formacin. (efecto electroqu"mico).

La penetracin del filtrado de barro en la formacin porosa tambien produce un voltaje, que se

conoce como efecto electroc"netico.


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El potencial que se registra es resultado de lacombinacin de cuatro potenciales el9ctricos que

se activan al atravezar las formaciones

'otencial electroqu"mico (Esh) (membrana)

'otencial electroqu"mico (Ed) (difusin)

'otencial electrocin9tico (Emc)

'otencial electrocin9tico (Esb)

Esh

EdEmc

Esb

E=perimento que prueba que dos porciones de agua de

diferente salinidad junto con la lutita y con una membrana

permeable inerte entre ambos fluidos, da origen a una bater"ay la corriente fluye en la celda.

La corriente fluye del agua dulce a la salada y despu9s a

trav9s de la lutita. >uando se elimina la lutita, el flujo de la

corriente se detiene. El intercambio de los dos l"quidos invierte

la direccin del flujo de la corriente

OTENCIAL ES ONT)N EO


16/108

Risked Reserves

1!1!"##$

. 'otencial electroqu"mico, Esh, que se desarrolla en la lutita impermeable entre susuperficie de contacto horizontal con la zona permeable y su superficie de contacto

vertical con el pozo, es un potencial de membrana asociado al paso selectivo de

iones a traves de la lutita, los cationes 4a?, se desplaza a trav9s de la lutita, desde la

solucin m*s concentrada (1gua de formacin) hacia la menos concentrada (El lodo),

generando una corriente el9ctrica.

%. 'otencial electroqu"mico, Ed, es un potencial de contacto de l"quidos de difusin,

que se desarrolla en la transicin entre la zona invadida y la virgen en la capa

permeable, con soluciones de diferente salinidad.

. 'otencial electroc"netico, Emc, o de electrofiltracin se genera el flujo del filtrado de

lodo a trav9s del revoque frente a las capas permeables.

0. @n potencial electrocin9tico, Esb, se genera a trav9s de la lutita, cuando supermeabilidad es suficiente para permitir que fluya una pequeAa cantidad de flitrado

de lodo.

LOS CUATRO OTENC IALES ELCTR ICOS


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Risked Reserves

1!1!"##$. Los efectos electroc"neticos pueden llegar ser significativos cuando2

%. E=isten grandes presiones diferenciales, Ejemplo2 -eservorios agotados con bajapresin o cuando se emplean lodos de perforacin muy pesados. En estos casos los

efectos electroc"neticos del revoque y la lutita no se anulan entre s".

. En reservorios de muy baja permeabilidad, los efectos electroc"neticos son

importantes, debido a que la presin diferencial e=istente ocurrir* a trav9s del

reservorio mismo.0. +i la salinidad del agua de formacin es mayor que la del filtrado de lodo el +' tendra

desviacin negativa frente a las capas permeables con respecto a las lutitas. +i la

salinidad del filtrado de lodo es mayor que la del agua de formacin, la defleccin del

+' frente a las capas permeables es positiva, tambien se pueden observar en

reservorios con agua dulce. +i las salinidades de ambos son iguales no e=iste

defleccin del +' frente a las capas permeables.

3. El +' est*tico o ++' puede determinarse a partir del +' en una formacin limpia de

gran espesor, que tenga capas acuiferas, gruesas, limpias, porosas y permeables.

EFECTOS EN LA CUR,A DE OTENCIAL ES ONT)N EO


18/108

Risked Reserves

1!1!"##$

. La amplitud de la defleccin del +' es igual al ++' cuando las capas son gruesas y

permeables y las resistividades de las formaciones no son demasiado grandes en

comparacin con la del lodo, en este caso el +' localiza los bordes de capa con

e=actitud.

%. La amplitud de la defleccin es menor que el ++' en capas delgadas, mientras

menor sea el espesor de la capa menor sera la defleccin.

. +i -t de las formaciones es mucho mayor a la resistividad del lodo (-m), las curvas

del +' son redondeadas y los bordes de capa dificil de ubicar.0. anteniendo las condiciones iguales, la amplitud del +' es menor cuando -m, es

m*s grande que cuando esta relacin es cercana a uno.

3. En formaciones de alta resistividad, est* altera la distribucin de las corrientes del

+', generandose una linea sin variacin en la pendiente.

. En arenas arcillosas, ya sea laminadas o con arcillas dispersas, las lutitas y arcillas,generan potenciales de membrana internos que en conjunto, conforman un potencial

frente al potencial electroqu"mico normal de la lutita adyacente, esto reduce la

defleccin del +'. La defleccin ser* menor frente a la porcin petrol"fera que frente

a la porcin acu"fera de la arena arcillosa.

EFECTOS EN LA CUR,A DE OTENCIAL ES ONT)N EO


19/108

La Borma y amplitud de la curva del +' se ve afectada por2

.


20/108

SP

Linea de arena

Linea de lutita

arena

arena

arena

lutita

lutita

SSP

60 mv0 mv

88##

8.##

7###

Pozo XZYZ

SP positivo, efecto de

potencial electrocnetico

EL OTENCIAL ES ONT)N EO *S +


21/108

6400

6600

Defleccin Aumentada por

depletacin Potencial

electrocnetico

5600

5800

Pozo YZXYPozo XZYZ



22/108

Pozo XZYX

3800

4000

SP positivo en arenas, por

mayor salinidad del lodo con

salinidad de agua de

formacin

Pozo YZXZ

Deriva del SP y proceso de

verticalizacin de la linea de

lutita.

Corrimiento del SP

Lnea de lutita



23/108

Risked Reserves

1!1!"##$

4000

Pozo YXZY

Paso de Falla Taiman.

5800

6000

Pozo YZXZ

Zona de

fracturas



24/108

Risked Reserves

1!1!"##$

800

Pozo XZYZ

SP Anomalo, Onda sinuosidal de

baja amplitud se superpone al SP

Por magnetizacin accidental del

tambor del cable.

Pozo YZXY

Deriva del SP y rectificacin

Generacin de la curva SPBL



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RAYOS GAMMA


26/108

La radiacin gamma fue descubierta por @lrich illard en el aAo $!! y

nombrada por Ernest -utherford en $!.Los -ayos pueden ser considerados como particulas u ondas de energ"a

electromagn9tica viajando a la velocidad de la luz con alta frecuencia y

onda corta. LF+ -1GF+ /11 se encuentran en la porcin

energ9tica alta del espectro electromagn9tico y son llamados fotones.@n HBotnI es considerado como un Juanto de energ"a radiante, un fotn

emitido desde un *tomo en un estado e=citado, es por definicin los

H-1GF+ /11I.

El perfil de -ayos /amma mide de manera continua la radioactividad natural

de las formaciones, fue y utilizado por primera vez en $$ por ;ellsurveys Cnc. >omo t9cnica para determinar la litolog"a de los pozos

entubados que nunca antes hab"an sido registrados.

RA-OS .AM MA *.R+


27/108

El @ranio, el 'otasio y el


28/108

E K M

EK energ"a del fotn

K >onstante de 'lanN

K Brecuencia

La naturaleza dual de los GR, viajan e

interactuan como ondas y partculas a la

vez, interactuando con la materia en

diferentes formas:#Asorcin !otoel"ctrica##fecto $ompton#Produccin de pares

#Dispersin Raylei%&

RA-OS .AM MA *.R+


29/108

!o/ie"es RA-OS .AM MA *.R+


30/108

Efecto de 1bsorcin Botoel9ctrica

>uando un /- es fotoel9ctricamente absorbido por un electrn, la energ"a del /- es

transferida al electrn, el cual adquiere suficiente energ"a para superar la energ"a de

ligamento con el nOcleo y escapar. La fuerza de absorcin de una litolog"a, es

dependiente de los elementos presentes y del nOmero atmico (P), por lo que puede

identificar la litolog"a de una Bormacin.

RA-OS .AM MA *.R+


31/108

Efecto 'roduccin de 'ares

En este caso el fotn de /- pasa cerca del nOcleo de un *tomo y desaparece, en

este lugar, un electrn y un positrn aparecen,

RA-OS .AM MA *.R+


32/108

Efecto >ompton

Es la interaccin para la medicin de la ensidad (Hispersin >omptonI), domina /-

con energ"as entre !mev y !! Qev.

El Botn colisiona con un electrn en un atomo, aqu" el fotn incidente tranfiere algo de su

energ"a al electrn y es sacado del *tomo, el fotn dispersado ahora posee baja energ"a y

probablemente ser deflectado en otra direccin, este proceso se puede repetir una y otra

vez hasta que es absorbido fotoel9ctricamente (debajo de los !! Qev)El /- puede tener mas colisiones por unidad de distancia en un material de alta

ensidad que en uno de baja densidad. El promedio de distancia recorrida por /-

depende de la densidad del material

RA-OS .AM MA *.R+


33/108

ispersin -ayleigh

Los /- chocan con dos mas electrones simult*neamente, es importante para los /- debaja energ"a, los cuales tienen longitudes de onda suficientemente largas para ir en

contacto con m*s de un electrn al mismo tiempo.

+emejante a la absorcin fotoel9ctrica, esta interaccin solo depende del tipo de *tomo

Cnvolucrado, es m*s probable que ocurra en *tomos con muchos el9ctrones.

>uando un *tomo decae desde un estado mas elevado de e=citacin a un estado de menor

e=citacin, emite fotones. @n fotn emitido por un *tomo en un estado de E=citacin es

llamado -1GF+ /11. Esto sucede permanentemente en la 4aturaleza, debido a quelos *tomos no son est*ticos energ9ticamente.

La herramienta de /- est* diseAada para realizar mediciones de la radiacin 4atural de

una Bormacin.

erramienta de /amma -ay

RA-OS .AM MA *.R+


34/108

Risked Reserves

1!1!"##$

HERRAM IENTA DE RA-OS .AM MA *.R+

Detector por Centelleo


35/108

MB. A

MB. B

GR SNSP LN

POZO YXZX

Lutita

Arenisca

Gamma Ray:Define litologa, contenido

De arcillas de reservorios.

Potencial espontneo: Define litologa,

indica permeabilidad de reservorios,

indica seleccin y tamao de grano.

Resistividad: Define litologa, indicafluidos en el reservorio.

RA-OS .AM MA *.R+ A H UECO A'IERTO


36/108

SGR

GAPI0 100

CGR

GAPI0 100

DEPTHFT

HLLD

OHMM0 50

HLLS

OHMM0 50

URAN

PPM20 0

THOR

PPM20 -20

POTA

-0.05 0.05

4400

4600

POZO XZYX

RA-OS .AM MA ES ECTRAL A HUECO A'IERTO

4FD-E /E4E-C>F2


37/108

RA-OS .AMM A *.R+ A HUECO EN TU'ADO

RA%:# 1##

L:;44= of (il

$ra8Gas 3 (il ;@= $ra8

Gasteropod8

!lo9(il ;@;6=

Diastoma8Gasteropods8

Slicensides8

arie%ated sand8

1reccia8

!airly coarse var8sand8Peles8

"1##

""##

"$##

"##

"5##

"8##

"7##

".##

"9##

POZO YXZY


38/108

GR1

GAPI0 100

GR2

DEPTH

FT

LLD

OHMM0 50

LLS

OHMM0 50

4900

GR-GEOWELL

GR-HALLIB HUECO ABIERTO

GR-HALLIB HUECO ENTUBADO

LLS-HALLIB HUECO ABIERTO

LLD-HALLIB HUECO ABIERTO

POZO YKXZ

NOMBRE GENERICO:

TIPO DE HERRAMIENTA:

NOMBRES YABREVIATURAS:

CORRIDO:

PROPOSITO:

LIMITACIONES:

GAMMA RAY

RADIOACTIVIDAD /LITOLOGIA

GR

HUECO ABIERTO YENTUBADO

DISCRIMINADOR DEARENA/LUTITA,CORRELACION

NINGUNA

RA-OS .AMM A *.R+ A HUECO EN TU'ADO

RESISTII!A!


39/108

RESISTII!A!

A%L:'A':


40/108

'omo afecta la temperatura la resistividad


41/108

5 olta%e in oltios R B Resistencia in (&ms+ 5 $urrente in Amperios A 5 Area in metros cuadrados

L 5 Lon%itud in )etros 2 B !actor %eom"trico

R

V

A

L

r

" I R #$ey Oh%&

" r

$ ' A

I

r " ' I

(

R " r $ ' A

r " ' I

A ' $

( k A ! L )

COMO M EDIMOS LA

RESISTI,IDAD


42/108

Risked Reserves

1!1!"##$

DIS OSITI,OS DEL ERFILAJE ELCTR ICO

POROSI!A! AR)*IE


43/108

POROSI!A! AR)*IE

Eatri+


44/108

POROSI!A! + Ro

SF 1##G

>> $#GSF 8#G

>> $#G

POROSI!A! PETR,$EO Y AG-A

RESISTII!A! !E$ AG-A


45/108

RESISTII!A! !E$ AG-A

RF

'u0o llenoAgua salada (Resistivit2 R6)

Rt R6

%orosidad () 1##G

RESISTII!A! !E $A MATRI. !E $A RO)A


46/108

RESISTII!A! !E $A MATRI. !E $A RO)A

'u0o de roca/ Rt

%orosidad () #G

RESISTII!A! !E $OS *I!RO)ARB-ROS


47/108

RESISTII!A! !E $OS *I!RO)ARB-ROS

'u0o de petr4leo/ Rt

%orosidad () 1##G

POROSI!A! $$E/A !E AG-A 0RES)A


48/108

POROSI!A! $$E/A !E AG-A 0RES)A

Arcie 'u0e/ Rt

%orosit2 () $#G

POROSI!A! $$E/A !E AG-A SA$A!A


49/108

Resistividad 1!

Resistividad R6'u0o de arcie/ Rt H R6

%orosidad () $#G

Rt Ro

POROSI!A! $$E/A !E AG-A SA$A!A

POROSI!A! $$E/A !E AG-A SA$A!A Y PETR,$EO


50/108

Resistividad 1!SF'u0o de Arcie/ Rt HH R6

%orosidad () $#G

POROSI!A! $$E/A !E AG-A SA$A!A Y PETR,$EO

RESISTII!A!


51/108

'ual de estos Arcie 0locks tiene la ma2or resistividadI

Rt RoRt Ro Rt H Ro "#G

S6 1##G $#G

S6 88G 1#G

S6 1##G

RESISTII!A!


52/108

RINCI IOS .EN ERALES DE MED ICIN DE LA RESISTI,IDA

Cona vir%"n

Cona invadida

Cona lavada

$apa adyacente

H = espesor de capa

Lodo

-s 2 -esistividad de capa adyacente

-=o, -esistividad en la zona lavada

+=o, +at. de agua en la zona lavada

-mf, -esistividad del filtrado de lodo

Diametro de pozo

Rm

Rmc

Diametro de zonas lavada, invadida

Diametro de invasin

Espesor de costra

-t, -esistividad verdadera

+6, +at. de agua

-6, -esistividad agua de formacin

+o, +aturacin de hidrocarburos

RESISTII!A! ER!A!ERA #Rt& A PARTIR $EY !E AR)*IE


53/108

Rt = Rw

n

Swm

m

7 -elaciona 'orosidad con -esistividad

m is relacionada a al grado y tipo de cementacin

>onocido como factor de cementacin

n

Sw

7 n usualmente est* entre % 8 .5

>onocido como factor de saturacin, en rocas fracturadas

es menor a .5.

RESISTII!A! ER!A!ERA #Rt& A PARTIR $EY !E AR)*IE

RESISTII!A!


54/108

Rt R-oRt R-o Rt H R-o "#G

S6 1##G

J?F 3#"

$#G

S6 88G

J?F 3#199

1#G

S6 1##G

J?F 3#1

H

RESISTII!A!

'ual de estos Arcie 0locks tiene la ma2or resistividadI

POROSI!A! AR)*IE


55/108

Eatri-

>

$#G

>>

J?F S6 - 1.G

POROSI!A! AR)*IE

E1ER)I)IO


56/108

E1ER)I)IO

E1ER)I)IO


57/108

23

POROSI!A!

423

523

E1ER)I)IO

I/ASI,/ !E$ 0I$TRA!O !E $O!O


58/108

Porosidad" 67 3

Porosidad " 47 3

Porosidad " 57 3

0iltrado de lodo

0iltrado de lodo

0iltrado de lodo

)ostra de lodo

I/ASI,/ !E$ 0I$TRA!O !E $O!O

$-TITAS


59/108

No permea0ilidad/

No :nvasion

Resistividad

Dept of :nvestigation

Kona ?irgen

47 87 97

$-TITAS

ARE/AS BA1A I/ASIO/


60/108

Kona de agua

Resistivida

d

%rofundidad de investigacion

Kona ?irgen

47 87 97

ARE/AS BA1A I/ASIO/

Lodo agua dulce

ARE/AS BA1A I/ASIO/ + PETR,$EO


61/108

Resistividad

Kona ?irgen

47 87 97

ARE/AS BA1A I/ASIO/ + PETR,$EO

Lodo agua dulce


.O/A !E TRA/SI)I,/


62/108

Resistividad

?irgenlavada

47 87 97


.O/A !E TRA/SI)I,/

.O/A !E TRA/SI)I,/ : AG-A SA$A!A #RW&


63/108

Resistividad

?irgin>lused

47 87 97


.O/A !E TRA/SI)I,/ : AG-A SA$A!A #RW&

.O/A !E TRA/SI)I,/ + PETR,$EO


64/108

%erfil Annulus/

:nvasion profunda/

%etr4leo

Resistivid

ad

?irginAnn3>lused

47 87 97


.O/A !E TRA/SI)I,/ PETR,$EO

SFL2 20

Lodo dulce


65/108

GR0 150

11000

11100

SFL.2 20

ILM.2 20

DPHI 0.50

NPHI.50 0

A

B

C

D

.30

BHT = 230 FTD = 14000 ft.Rmf = 1.41 ohm-m @ 75 F

ILD.2 20

S P


66/108

%ara o0tener un valor de RS:S;:?:DAD de una

formaci4n/ los dispositivos usados/ se resumen endos grupos de erramientasB

13 Las erramientas de resistividad/ miden los

efectos producidos por una corriente in2ectada

en la formaci4n/ re*uieren un fluido conductivo

dentro del po+o *ue puedan transportar la

corriente in2ectada3

"3 Las erramientas de inducci4n/ miden los efectosde un campo electromagntico so0re la

formaci4n/ pueden usarse en principio en

cual*uier am0iente3

COMO M EDIMOS LA

RESISTI,IDAD


67/108

,en$"&"s 0 Des1en$"&"s


68/108

A

M

S!"t#m n$ %$&'!()$S!"t#m n$ %$&'!()$

VRa =

Ik

Esferas equipotenciales

ArregloNormal Arreglo

lateral

BN

B

COMO M EDIMOS LA

RESISTI,IDAD


69/108

SISTEMAS N O FOCALIZADOR ,S2 FOCALIZADOS


70/108

LL+

1o easure >urrent Electrode

R % onitoring Electrodes

1 DucNing >urrent Emitting Electrode

1% DucNing >urrent -eturn Electrode

LL

1o easure >urrent Electrode

R % onitoring Electrodes

1 DucNing >urrent Electrode

1% DucNing >urrent Electrode

DUAL LATERO LO.

CUR,AS LON. N ORM AL *LN+ 3 SHORT N ORMA L *SN+


71/108

1800

SP

LN 64

SN 16

POZO XZYZ

CUR,A L45


72/108

1400

64 N L-188

16 NSP

POZO XYZX

0 50060

0 50 0

25 25

DUAL LATEROLO.


73/108

5000

5200

LLS

LLD

SP

GR

POZO YXYZ

NOMBRE GENERICO:


NOMBRES YABREVIATURAS:

CORRIDO:

PROPOSITO:

LIMITACIONES:

DUAL LATEROLOG

RESISTIVIDAD

DLL, LLD, LLS

HUECO ABIERTO

MEDIR LARESISTIVIDAD DE LAFORMACION

TRABAJA MEJOR ENLODOS SALINOS, PERONO PUEDE SER USADOEN LODOS A BASE DEOIL

DUAL INDUCCIN


74/108

6800

ILD

SFLA

SP

GR

POZO YZXZ

NOMBRE GENERICO:


NOMBRES Y

ABREVIATURAS:

CORRIDO:

PROPOSITO:

LIMITACIONES:

DUAL INDUCCION

RESISTIVIDAD

ILD, SFLA

REGISTRO PRIMARIO ENLODO FRESCO

MEDIR LA RESISTIVIDADDE LA FORMACION, Rt

FUNCIONAMIENTO MUYPOBRE EN LODOS SALINOSY/O PERFORACIONESGRANDES

INDUCCIN 6 HRI


75/108

POZO XZYX

1200

1400

1600

1800

2000

2200

HMRS

HDRS

GR

SP

Co# o Mei!


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R7o

#La medicin con dispositivos micro7

resisitivos permite medir -=o y delimitarcapas permeables, detectando el reboque

producido por el lodo de perforacin.

#+on herramientas con patines laterales

que presionan la pared del pozo reduciendoel efecto corto circuito del lodo sobre las

corrientes del sistema de electrodos de

espaciamiento corto montado.

#Las cavernas o paredes rugosas, no

permiten un buen contacto pat"n 8 pared

revoque produciendose una perdida de

corriente, afectando las lecturas.

MICROLO.


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0 GAMMA RAY (API) 10 0 MICROINVERSA 1!!" ( OHM-M)#0

$!! CALIPER (%&'*) 1$!! 0 MICRONORMAL #!!" ( OHM-M)#0

Bit size, 778

Revoque

Cruce PositivoIndicativo de permeabilidad

o!osi"


78/108


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REGISTROS !E POROSI!A!

La porosidad de las rocas puede o0tenerse a partir de los

registros s4nico/ densidad/ neutrones/ resonancia

magnetica3 ;odas estas erramientas ven afectada su

respuesta por la porosidad/ los fluidos 2 la matri+ de la roca3

Si los efectos de la matri+ 2 los fluidos se conocen o se

pueden determinar/ la respuesta de las erramientas sepueden relacionar con la porosidad

F"#ili" e He!!"# ien$"s N8cle"!


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GR

GR .atural GR #mitido

.eutrones

.eutrones #mitidos

Arcillosidad

$orrelacin

Densidad

Litolo%aPorosidad

Porosidad

Saturacin de a%ua

Gas

Petrleo

/erramientas GR 5 Densidad /erramientas de .eutrn

ERFIL DE DENS IDAD


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Los registros de densidad se usan principalmente como registros de

porosidad/ otros usos identificaci4n de minerales en dep4sitos evaporiticos/

detecci4n de gas/ determinaci4n de la densidad de los idrocar0uros/evaluaci4n de arenas arcillosas 2 litologas compleas/ c,lculo de presi4n

de so0recarga 2 propiedades mec,nicas de las rocas3

ERFIL DE FACTOR FOTOELECTRICO * E


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RINCI IO DE LA HER RAM IENTA DE DENS IDAD


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Risked Reserves

1!1!"##$

Los Ra2os amma *ue la fuente emite

continuamente penetran en la formaci4n 2

e-perimentan mMltiples colisiones con loselectrones/ perdiendo energa 2

dispersandose en todas direcciones

(Dispersi4n 'ompton) al caer la energa

por de0ao de #31 mev/ los R mueren en

un proceso llamado a0sorci4n>otoelctrica/ la dispersi4n 'ompton

dependen de la densidad de los

electrones en la formaci4n (nMmero de

elctrones por cc) 2 se relaciona con la

densidad total de la formaci4n3

La a0sorsi4n fotoelctrica depende de la

Densidad de los electrones 2 del nMmero

at4mico promedio del material *ue

componen la formaci4n3 ste mecanismo

se usa para indicar el tipo de roca3

OROSIDAD DEL ERFIL DE DENS IDAD


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La profundidad de investigacin 4

pulgadas de la pared del pozo.

La resolucin vertical puede alcanzar

1.5 pies, por la velocidad normal de

registro 30 pies por minuto es de 3 pies

aproximadamente.

RE.ISTROS DE DENSIDAD


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NOMBRE GENERICO:


NOMBRES Y

ABREVIATURAS:

CORRIDO:

PROPOSITO:

LIMITACIONES:

DENSIDAD

RADIOACTIVIDAD /POROSIDAD

CDL, SDL

HUECO ABIERTO,DISPOSITIVO DEPOROSIDAD PRIMARIA

MEDIR EL BUL+ DENSITYDE LA FORMACION

REUIERE UE LAPARED DEL POO SEALISA

GRGAPI20 80

SPMV0 60

DEPTHFT

LLDOHMM0 50

LLSOHMM0 50

MSFLOHMM0 50

DTUT/F140 40

CALINCH6 16

RHOBG/CC1.95 2.95

2500

2600

POZO YZXY

RE.ISTROS DE DENSIDAD


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GRGAPI20 80

SPMV0 60

DEPTHFT

LLDOHMM0 50

LLSOHMM0 50

MSFLOHMM0 50

DTUT/F140 40

CALINCH6 16

RHOBG/CC1.95 2.95

3400

3500

3600

POZO XZYX

ERFIL DE NEUTRONES


87/108

Ona fuente radioactiva en la sonda emite constantemente neutrones de

alta energa (r,pidos)3 stos neutrones cocan con los nMcleos de losmateriales de la formaci4n lo *ue se considera como colisiones el,sticas

de 0olas de 0illarP3 'on cada colisi4n/ el neutr4n pierde energa3

La cantidad de energa perdida por colisi4n depende de la masa relativa

del nMcleo con el *ue coca el neutr4n3 La ma2or perdida de energa

ocurre cuando el neutr4n golpea un nMcleo con una masa pr,cticamnete

igual (un nMcleo de idr4geno) las colisiones con nMcleos pesados no

desaceleran muco al neutr4n3 %or tanto la desaceleraci4n de neutrones

depende de la cantidad de idr4genos en la formaci4n3 De0ido a las

colisiones sucesivas en unos cuantos microsegundos los neutrones

disminu2en su velocidad a velocidades trmicas/ ntonces se difunden

aleatoriamente/ sin perder m,s energa/ asta *ue son capturados por losnMcleos de ,tomos como cloro/ idr4geno o silicio3

l nMcleo de captura se e-cita 2 emite un ra2o gamma de captura de alta

energa

COLISIONES DEL NEUTRON


88/108

E0E)TO BO$AS !E BI$$AR


89/108


90/108


91/108

RE.ISTRO DE NEUTRN COM ENSADO


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NOMBRE GENERICO:


NOMBRES Y

ABREVIATURAS:

CORRIDO:

PROPOSITO:

LIMITACIONES:

NEUTRON COMPENSADO

RADIOACTIVIDAD /POROSIDAD

DSN, CNS

HUECO ABIERTO YENTUBADO

MEDIR EL INDICE DE LAPOROSIDAD DENEUTRON

REUIERE UE ELHUECO ESTE RELLENODE LIUIDO

COM 'INACIN NEU TRN 6


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DENSIDAD

REGISTRO SO/I)O


94/108

%R:N':%:


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l primer arri0o u onda compresional es la *ue viaa desde eltransmisor a la formaci4n como una onda de presi4n de

fluido/ se refracta en la pared del po+o 2 viaa dentro de la

formaci4n a la velocidad de onda de compresional de la

formaci4n 2 regresa al receptor como una onda de presi4nde fluido3

La onda de ci+allamiento es la *ue viaa del transmisor a la

formaci4n como una onda de presi4n de fluido/ viaa dentro

de la formaci4n a la velocidad de onda de ci+allamiento de la

formaci4n 2 regresa al receptor como una onda de presi4nde fluido3

REGISTRO SO/I)O


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La onda stonle2 es de gran amplitud 2 viaa del transmisor alreceptor con velocidad menor a las ondas de compresi4n en

el fluido del po+o/ la velocidad de la onda depende de la

frecuencia del pulso del sonido/ diametro del aguero/

velocidad de ci+allamiento de la formaci4n/ de las densidades

de la formaci4n 2 el fluido 2 velocidad de la onda de

compresi4n en el fluido3

ERFIL AC9ST ICO * RO A.ACIN DE ONDA AC9STICA+


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Risked Reserves

1!1!"##$

TI O DE MEDICIONES AC9STICAS


98/108

Risked Reserves

1!1!"##$

La onda acstica recibe influencia del medio a travs del cual pasa, en un lquido

las molculas estn mas libres para deslizarse una sobre otra, as que la onda

acstica no se propaga con la rapidez como lo hace en un medio slido, los

medios gaseosos atenuan aun ms la potencia de la onda.

La medida de las propiedades de la onda acstica pueden dar informacin acerca

de las caracteristicas y contenido de los estratos.

Las propiedades medibles de la seal acstica son:

La velocidad, que expresa la rapidez de la onda a travs de un materialLa frecuencia, que es una expresin de la velocidad de oscilacin de la onda

La amplitud, expresa que fuerte es la seal en un contexto auditivo

La atenuacin, expresa una prdida de potencia (estasociada a la amplitud)

La herramienta acstica genera ondas sonoras en el pozo por medio de

dispositivos PIEZOELECTRICOS o MAGNETOESTRICTIVOS

Los cristales piezoelctricos se expanden y contraen a medida que a travs de

ellos se aplica un voltaje variable.

Los dispositivos magnetoestrctivos consisten de un cilindro metlico que se

expande y contrae bajo la influencia de un campo magnetico variable.

ERFIL AC9ST ICO * RO A.ACIN DE ONDA AC9STICA+


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Risked Reserves

1!1!"##$

Ecuacin WILLIE

RE.ISTRO SONICOS DE ONDAS COM LETAS


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Risked Reserves

1!1!"##$

DT '.*%.&23

DT '%42332

SNICO


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NOMBRE GENERICO:


NOMBRES Y

ABREVIATURAS:

CORRIDO:

PROPOSITO:

LIMITACIONES:

SONICO

SONICO / POROSIDAD

CSL, AVL, LSS, FWS

HUECO ABIERTO

MEDIR LA POROSIDAD,LITOLOGIA

ALGUNASLIMITACIONES EN ELTAMA5O DEL HUECODEPENDEN DE LOSVALORES DE T'

POZO ZXYZ

CALIPERSP

LN

0 60

0 50

0 50

6 16

140 40SN DT

SNICO *DT+


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POZO ZXYX

0 60

0 50

0 50

6 16

140 40SN DT

LN0 100

SP

CALIPERGR


103/108


104/108

GR

GAPI7 ;7

SPB$M7 87

!EPT*0T

0$-O

$/O*MM7 27

S/O*MM7 27

/)/$)PS7 4577

0)/$)PS7 O 4992

A>O 4986

/O )AMBIAMOR0O$OG?A!E )-RAS!E /E-TR,/

)AMBIAMOR0O$OG?A!E )-RAS!E /E-TR,/

I/TERA$OB

A$E

A!O9

';;

TIME $APSE


105/108

78 : 74 : 4992

REBA$EO #59& + 0RA)T-RA 0M= OSTREAR=P=R== ;6 @ 7 @5< *rs= @ P- GOR4755=

76 : 79 : 49;;ABRI, 0M= OSTREA )O/ 489 BA$ASR=P=R== ;4 @ 7 @5< *rs= @ S0 GOR 2O 4992)PS7 4577

0)/$ A>O 4992)PS7 O 49;;

GAPI7 4777

/P*I SA/! 4992!E)P7=8 7

/P*I $IME 4992!E)P7=8 7

3000

3100

3200

3300

3400

3500

3600

3!00

3800

A>O4986 A>

O499

2

A>O49;;

.O/A /O!RE/A!A

.O/A!RE/A!A

=erramientas de perfilae modernas


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:m,genes Resistivas/ S4nicas


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curso perfiles

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