pruebas a relevadores de protecciÓn = daby ctcon = yy ctr1 = 20 ctr2 = 100 datc = 15 pdem = 5.0...

TECNICA ELÉCTROMECANICA CENTRAL S.A. DE C.V.

Manufacturas Vitromex S.A. de C.V.

Complejo San José Iturbide, Gto.Carr .57, km 60.2 tramo QRO-SLP

07/07/2015

Avenida Técnicos No. 250 Col. El Sabino, Querétaro, Qro, México. C.P. 76148

Tel. 52(442)248-0035 www.tecsaqro.com

PRUEBAS A RELEVADORES DE PROTECCIÓN

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http://www.tecsaqro.com/

Fecha: 07/07/2015Manufacturas Vitromex S.A. de C.V.

Resumen de pruebas

Equipo Ubicación Evaluación Número de página

87T SEL 587 TABLERO PCYM CUARTO ELECTRICO S.E. 115 KV Correcta3

SEL 501-2 Correcta6

EQUIPO DE PRUEBA UTILIZADO:

OMICRON CMC 356 ''equipo de prueba universal de relés y de puesta en servicio'' NUMERO DE SERIE:EB602H

Realizó pruebas: Ing. Camilo Sánchez Becerril. Departamento de Operaciones

COMENTARIOS:

De acuerdo a las pruebas realizadas, los equipos operan correctamente de acuerdo a los parametros de proteccion a los que se encuentran ajustados.

TABLERO PCYM CUARTO ELECTRICO S.E. 115 KV

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Equipo en prueba - PROTECCION DIFERENCIAL DE TRANSFORMADOR 87T

Subestación/Bahía:Subestación: S.E. 115 KV VITROMEX Dirección de subestación:Bahía: Dirección de bahía:

Dispositivo:Nombre/descripción: 87T1 Fabricante: SELTipo de dispositivo: SEL 587 Dirección del dispositivo: CUARTO ELECTRICO S.E. 115

KVNo de serie: 97240042Info adicional 1:Info adicional 2:

Hardware Configuration

Equipo en prueba

Tipo No de serie

CMC356 EB602H

Comprobación del hardware

Realizado en Resultado Detalles

07/07/2015 03:11:48 p.m.

Correcta

Relay Settings:

RID =87-T-1TID =S.E.VITROMEXMVA = 6.3 VWDG1 = 115.00 VWDG2 = 13.80 TRCON = DABY CTCON = YY CTR1 = 20 CTR2 = 100 DATC = 15 PDEM = 5.0 QDEM = 5.0 NDEM = 5.0 TAP1 = 1.58 TAP2 = 2.64 IN1 = 52A1 IN2 = 52A2 O87P = 0.5 SLP1 = 40 SLP2 = 200 IRS1 = 10.0 U87P = 8.0 PCT2 = 15 PCT5 = 35 TH5 = 3.0 TH5D = 12.000 IHBL = Y

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Tiempo de rampa 3.100s

Trigger Bin

Lógica del trigger ORDisparo 1

Paso atrás NoTiempo de retardo 0.000 s

Módulo de pruebaNombre: OMICRON Ramping Versión: 3.00 Comienzo: 07-jul-2015 15:15:02 Fin: 07-jul-2015 15:15:08Nombre de usuario: Ing. Camilo Sánchez Becerril Director: Oscar Ortiz ParedesCompañía: TECSA S.A. DE C.V.

Resultados de la prueba

Resultados de la evaluaciónNombre / ejec.

Rampa Condición Señ. Nom. Real Tol.- Tol.+ Desv. Eval. treal

Arranque Rampa 1 Disparo 0->1 I L1, L2, L3

790.0 mA 800.0 mA 50.00 mA 50.00 mA 10.00 mA + 79.00 ms

Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado

Rampa 1

I L1, L2, L3

t/s0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4 1.6

Señ. 1/mA

0

100

200

300

400

500

600

700

t/s0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4 1.6

Disparo

Estado de la prueba:Prueba correcta

87T WDG1:Ajustes de la prueba

GeneralNº de estados de rampa:

1

Pasos totales por prueba:

31

Tiempo total por prueba:

3.100 s

Nº de ejecuciones de prueba:

1

Modo de entrada: DirectoTipo de falta:

Magnitudes en rampaI L1, L2, L3 / Magnitud

Estados de rampa

Rampa Rampa 1

I L1 0.000 A0.00 °60.000 Hz

I L2 0.000 A-120.00 °60.000 Hz

I L3 0.000 A120.00 °60.000 Hz

Forzar fases abs. SíSeñ. 1 Desde 0.000 ASeñ. 1 Hasta 1.500 ASeñ. 1 Delta 50.00 mASeñ. 1 d/dt 500.0 mA/s

dt por paso 100.0 msPasos de rampa 31

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Estados de rampa

Rampa Rampa 1

I L1 0.000 A0.00 °60.000 Hz

I L2 0.000 A-120.00 °60.000 Hz

I L3 0.000 A120.00 °60.000 Hz

Forzar fases abs. Sí

Señ. 1 Desde 0.000 ASeñ. 1 Hasta 1.500 ASeñ. 1 Delta 50.00 mASeñ. 1 d/dt 500.0 mA/sdt por paso 100.0 msPasos de rampa 31Tiempo de rampa 3.100s

Trigger Bin

Lógica del trigger ORDisparo 1

Paso atrás NoTiempo de retardo 0.000 s

Módulo de pruebaNombre: OMICRON Ramping Versión: 3.00 Comienzo: 07-jul-2015 15:26:19 Fin: 07-jul-2015 15:26:25Nombre de usuario: Ing. Camilo Sánchez Becerril Director: Oscar Ortiz ParedesCompañía: TECSA S.A. DE C.V.

Resultados de la prueba

Resultados de la evaluaciónNombre / ejec. Rampa Condición Señ. Nom. Real Tol.- Tol.+ Desv. Eval. treal

Arranque Rampa 1 Disparo 0->1 I L1, L2, L3

1.320 A 1.350 A 50.00 mA 50.00 mA 30.00 mA + 30.30 ms

Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado

Rampa 1

I L1, L2, L3

t/s0.25 0.50 0.75 1.00 1.25 1.50 1.75 2.00 2.25 2.50

Señ. 1/A

0.00.10.20.30.40.50.60.70.80.91.01.11.2

t/s0.25 0.50 0.75 1.00 1.25 1.50 1.75 2.00 2.25 2.50

Disparo

Estado de la prueba:Prueba correcta

87T WDG2:Ajustes de la prueba

GeneralNº de estados de rampa:

1

Pasos totales por prueba:

31

Tiempo total por prueba:

3.100 s

Nº de ejecuciones de prueba:

1

Modo de entrada: DirectoTipo de falta:

Magnitudes en rampaI L1, L2, L3 / Magnitud

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Equipo en prueba - PROTECCION POR SOBRECORRIENTE 152-L-X


Dispositivo:Nombre/descripción: 152-L Fabricante: SELTipo de dispositivo: SEL 501-2 Dirección del dispositivo: CUARTO ELECTRICO S.E. 115


Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente

General - Valores:Tol. tiem. abs.: 0.04 s Conexión del TT: En equipo protegidoTo. tiem. rel.: 5.00 % Conexión del pto. de

estrella del TC:A equipo protegido

Tol. corr. abs.: 0.05 IrefTol. corr. rel.: 5.00 %Direccional: No

Elementos - Fase:

Activo Nombre Característica de disparoI arranque Tiempo

Relación de restauración: Dirección

Sí I #1 Fase 51PP SEL VI curve U3 0.30 Iref 4.00 0.95 No direccional Sí I #1 Fase 50H CEI Tiempo definido 5.00 Iref 0.00 s 0.95 No direccional

Elementos - Residuales:

Activo Nombre Característica de disparo I arranque

Tiempo Relación de restauración:

Dirección

Sí I #1 Residual 51NP SEL VI curve U3 0.10 Iref 1.00 0.95 No direccional Sí I #1 Residual 50NH CEI Tiempo definido 2.00 Iref 0.00 s 0.95 No direccional


Equipo en prueba

Tipo No de serie

CMC356 EB602H



07/07/2015 12:25:04 p.m.

Correcta

51PP:Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente




Elementos - Fase:



Dirección






Módulo de pruebaNombre: OMICRON Overcurrent Versión: 3.00 Comienzo: 07-jul-2015 12:43:50 Fin: 07-jul-2015 12:44:27Nombre de usuario: Ing. Camilo Sánchez Becerril Director: Oscar Ortiz ParedesCompañía: TECSA S.A. DE C.V.

Ajustes de la prueba:

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Modelo de Falta:Referencia de tiempo: Inicio de la faltaCorriente de carga: 0.00 AÁngulo de carga: 0.00 ° Tiempo de pre-falta: 0.10 sTiempo máx. abs.: 240.00 sTiempo de post-falta: 0.50 sTiempo máx. rel.: 100.00 %Activar salida de tensión: NoTensión de falta LN (todas fases menos las bifásicas):

30.00 V

Tensión de falta LL (para faltas bifásicas): 51.96 VCC en disminución activa: NoConstante de tiempo: 0.05 sTiempo mín. car. IP: 0.05 sReposición térmica activa: NoMétodo de Habilitar reposición: ManualMensaje de reposición térmica: Reinicie la memoria térmica del dispositivo sometido a

prueba antes de continuar.

Prueba de disparo:

Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. tmin tmax

L1-L2 I #1 Fase 51PP 1.333 2.00 A n/a 20.34 s 12.16 s 45.53 s L2-L3 I #1 Fase 51PP 2.000 3.00 A n/a 5.559 s 4.357 s 7.306 s L2-L3 I #1 Fase 51PP 2.667 4.00 A n/a 2.925 s 2.464 s 3.509 s L1-L2-L3 I #1 Fase 51PP 5.333 8.00 A n/a 950.7 ms 851.6 ms 1.065 s

Entradas binarias:Lógica del trigger: And

Nombre Estado del trigger

Disparo 1

Resultados de la prueba de disparo:

Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. trealSobrecarga Resultado

L1-L2 I #1 Fase 51PP 1.333 2.00 A n/a 20.34 s 20.43 s No CorrectaL2-L3 I #1 Fase 51PP 2.000 3.00 A n/a 5.559 s 5.588 s No CorrectaL2-L3 I #1 Fase 51PP 2.667 4.00 A n/a 2.925 s 2.941 s No CorrectaL1-L2-L3 I #1 Fase 51PP 5.333 8.00 A n/a 950.7 ms 953.8 ms No Correcta

Gráficos para tipos de falta:

Tipo Ángulo

L1-L2 n/a

I/A

2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40

t/s

0.010

0.100

1.000

10.000

100.000

1000.000

10000.000


Tipo Ángulo

L2-L3 n/a

I/A

2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40

t/s

0.010

0.100

1.000

10.000

100.000

1000.000

10000.000


Tipo Ángulo

L1-L2-L3 n/a

Página 7 de 16

I/A

2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40

t/s

0.010

0.100

1.000

10.000

100.000

1000.000

10000.000

Estado:4 de 4 puntos probados.4 puntos correctos.0 puntos incorrectos.

Evaluación general: Prueba correcta

50H:Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente




Elementos - Fase:







Dirección





30.00 V



Prueba de disparo:


L1-L2 I #1 Fase 50H 1.004 25.10 A n/a 0.000 s 0.000 s 486.9 ms L2-L3 I #1 Fase 50H 1.040 26.00 A n/a 0.000 s 0.000 s 482.6 ms L2-L3 I #1 Fase 50H 1.080 27.00 A n/a 0.000 s 0.000 s 40.00 ms L1-L2-L3 I #1 Fase 50H 1.120 28.00 A n/a 0.000 s 0.000 s 40.00 ms



Disparo 1

Página 8 de 16


Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. treal Sobrecarga

Resultado

L1-L2 I #1 Fase 50H 1.004 25.10 A n/a 0.000 s 26.50 ms No CorrectaL2-L3 I #1 Fase 50H 1.040 26.00 A n/a 0.000 s 24.70 ms No CorrectaL2-L3 I #1 Fase 50H 1.080 27.00 A n/a 0.000 s 24.80 ms No CorrectaL1-L2-L3 I #1 Fase 50H 1.120 28.00 A n/a 0.000 s 24.10 ms No Correcta


Tipo Ángulo

L1-L2 n/a

I/A

2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40

t/s

0.010

0.100

1.000

10.000

100.000

1000.000

10000.000


Tipo Ángulo

L2-L3 n/a

I/A

2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40

t/s

0.010

0.100

1.000

10.000

100.000

1000.000

10000.000


Tipo Ángulo

L1-L2-L3 n/a

I/A

2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40

t/s

0.010

0.100

1.000

10.000

100.000

1000.000

10000.000



51NP:Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente




Elementos - Fase:







Dirección


Página 9 de 16




30.00 V



Prueba de disparo:


L1-E I #1 Residual 51NP 1.600 0.80 A n/a 2.583 s 1.172 s 19.50 s L2-E I #1 Residual 51NP 5.000 2.50 A n/a 258.0 ms 188.9 ms 337.9 ms L3-E I #1 Residual 51NP 14.000 7.00 A n/a 116.2 ms 74.34 ms 158.4 ms



Disparo 1



L1-E I #1 Residual 51NP 1.600 0.80 A n/a 2.583 s 2.855 s No CorrectaL2-E I #1 Residual 51NP 5.000 2.50 A n/a 258.0 ms 269.7 ms No CorrectaL3-E I #1 Residual 51NP 14.000 7.00 A n/a 116.2 ms 119.3 ms No Correcta


Tipo Ángulo

L1-E n/a

I/A

0.3 0.5 0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0

t/s

0.010

0.100

1.000

10.000

100.000

1000.000

10000.000


Tipo Ángulo

L2-E n/a

I/A

0.3 0.5 0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0

t/s

0.010

0.100

1.000

10.000

100.000

1000.000

10000.000


Tipo Ángulo

L3-E n/a

Página 10 de 16

I/A

0.3 0.5 0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0

t/s

0.010

0.100

1.000

10.000

100.000

1000.000

10000.000



51NH:Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente




Elementos - Fase:







Dirección





30.00 V



Prueba de disparo:


L1-E I #1 Fase 50H 0.404 10.10 A n/a 0.000 s 0.000 s 146.9 ms L2-E I #1 Fase 50H 0.440 11.00 A n/a 0.000 s 0.000 s 40.00 ms L3-E I #1 Fase 50H 0.480 12.00 A n/a 0.000 s 0.000 s 40.00 ms



Disparo 1


Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. treal Sobrecarga

Resultado

L1-E I #1 Fase 50H 0.404 10.10 A n/a 0.000 s 25.30 ms No CorrectaL2-E I #1 Fase 50H 0.440 11.00 A n/a 0.000 s 26.60 ms No CorrectaL3-E I #1 Fase 50H 0.480 12.00 A n/a 0.000 s 24.50 ms No Correcta

Página 11 de 16


Tipo Ángulo

L1-E n/a

I/A

0.3 0.5 0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0

t/s

0.010

0.100

1.000

10.000

100.000

1000.000

10000.000


Tipo Ángulo

L2-E n/a

I/A

0.3 0.5 0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0

t/s

0.010

0.100

1.000

10.000

100.000

1000.000

10000.000


Tipo Ángulo

L3-E n/a

I/A

0.3 0.5 0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0

t/s

0.010

0.100

1.000

10.000

100.000

1000.000

10000.000



Página 12 de 16

Equipo en prueba - PROTECCION POR SOBRECORRIENTE 152-L-Y


Dispositivo:Nombre/descripción: 152-L Fabricante: SELTipo de dispositivo: SEL 501-2 Dirección del dispositivo: CUARTO ELECTRICO S.E. 115


Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente




Elementos - Fase:



Sí I #1 Fase 51PP SEL VI curve U3 1.00 Iref 3.00 0.95 No direccional




Dirección

Sí I #1 Residual 51NP SEL VI curve U3 0.80 Iref 3.00 0.95 No direccional


Equipo en prueba

Tipo No de serie

CMC356 EB602H



07/07/2015 01:48:34 p.m.

Correcta

51PP:Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente




Elementos - Fase:



Dirección





Dirección




Página 13 de 16


30.00 V



Prueba de disparo:


L1-L2 I #1 Fase 51PP 1.100 5.50 A n/a 55.72 s 33.38 s 133.1 s L2-L3 I #1 Fase 51PP 1.200 6.00 A n/a 26.74 s 19.09 s 41.10 s L3-L1 I #1 Fase 51PP 1.400 7.00 A n/a 12.41 s 9.800 s 16.20 s L1-L2-L3 I #1 Fase 51PP 2.400 12.00 A n/a 2.734 s 2.341 s 3.215 s



Disparo 1



L1-L2 I #1 Fase 51PP 1.100 5.50 A n/a 55.72 s 55.84 s No CorrectaL2-L3 I #1 Fase 51PP 1.200 6.00 A n/a 26.74 s 26.63 s No CorrectaL3-L1 I #1 Fase 51PP 1.400 7.00 A n/a 12.41 s 12.43 s No CorrectaL1-L2-L3 I #1 Fase 51PP 2.400 12.00 A n/a 2.734 s 2.732 s No Correcta


Tipo Ángulo

L1-L2 n/a

I/A

5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100

t/s

1.0

10.0

100.0

1000.0

10000.0


Tipo Ángulo

L2-L3 n/a

I/A

5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100

t/s

1.0

10.0

100.0

1000.0

10000.0


Tipo Ángulo

L3-L1 n/a

Página 14 de 16

I/A

5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100

t/s

1.0

10.0

100.0

1000.0

10000.0


Tipo Ángulo

L1-L2-L3 n/a

I/A

5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100

t/s

1.0

10.0

100.0

1000.0

10000.0



51NP:Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente




Elementos - Fase:



Dirección





Dirección





30.00 V



Página 15 de 16

Prueba de disparo:


L1-E I #1 Residual 51NP 1.250 5.00 A n/a 20.98 s 15.58 s 30.10 s L2-E I #1 Residual 51NP 1.750 7.00 A n/a 5.933 s 4.928 s 7.232 s L3-E I #1 Residual 51NP 2.500 10.00 A n/a 2.506 s 2.152 s 2.937 s



Disparo 1



L1-E I #1 Residual 51NP 1.250 5.00 A n/a 20.98 s 21.30 s No CorrectaL2-E I #1 Residual 51NP 1.750 7.00 A n/a 5.933 s 5.966 s No CorrectaL3-E I #1 Residual 51NP 2.500 10.00 A n/a 2.506 s 2.510 s No Correcta


Tipo Ángulo

L1-E n/a

I/A

4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100

t/s

1.0

10.0

100.0

1000.0

10000.0


Tipo Ángulo

L2-E n/a

I/A

4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100

t/s

1.0

10.0

100.0

1000.0

10000.0


Tipo Ángulo

L3-E n/a

I/A

4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100

t/s

1.0

10.0

100.0

1000.0

10000.0



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pruebas a relevadores de protecciÓn = daby ctcon = yy ctr1 = 20 ctr2 = 100 datc = 15 pdem = 5.0...

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