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POSGRADO EN ING. DEL AGUA Y DEL TERRENO. MOD. I: CONTENIDOS BÁSICOS. “Espectroscopía de absorción y emisión atómica. ICP” Instrumentación y métodos de análisis químico. 8 de noviembre de 2007. EUIT Civil. UPCT. Prof. Diego José Alcaraz Lorente - PowerPoint PPT PresentationTRANSCRIPT
POSGRADO EN ING. DEL AGUA Y DELTERRENO. MOD. I: CONTENIDOS BÁSICOS
“Espectroscopía de absorción y emisión atómica. ICP”
Instrumentación y métodos de análisis químico.
8 de noviembre de 2007. EUIT Civil. UPCT.
Prof. Diego José Alcaraz Lorente
Grupo Investigación: Deterioro, Protección y Reciclado de
Equipos Industriales
Dpto. de Ingeniería de Materiales y Fabricación. UPCT.
ABSORCIÓN Y EMISIÓN DERADIACIÓN ELECTROMAGNÉTICA
• La absorción de radiación electromagnética provoca que las partículas integrantes de un material (átomos, iones o moléculas) pasen del estado fundamental a uno o más estados excitados de superior energía.
• La emisión de radiación electromagnética se origina cuando partículas excitadas (átomos, iones, moléculas) se relajan a niveles de menor contenido energético, cediendo el exceso de energía en forma de fotones.
• La radiación absorbida o emitida se puede caracterizar adecuadamente mediante espectros.
ABSORCIÓN Y EMISIÓN DERADIACIÓN ELECTROMAGNÉTICA
ABSORCIÓN: TIPOSDE ESPECTROS
• Absorción atómica:
Partículas monoatómicas en estado gas (UV-visible).
Electrones orbitales más internos (región rayos X).
• Absorción molecular:
Moléculas poliatómicas (estado condensado)
EMISIÓN: TIPOSDE ESPECTROS
• Espectros de líneas:
UV-Visible: Partículas atómicas individuales en estado gaseoso.
Rayos X: Los electrones implicados corresponden a los orbitales más internos.
• Espectros de bandas:
Radicales o pequeñas moléculas en estado gas.
• Espectros continuos:
Sólidos calentados hasta la incandescencia.
EMISIÓN: TIPOSDE ESPECTROS
ANCHURA DE LASLÍNEAS ATÓMICAS
• Este factor es de considerable relevancia.
• Las líneas estrechas son muy convenientes para trabajar en absorción y emisión.
Reducción de la posibilidad de interferencias debidas al solapamiento de espectros.
• Es de gran importancia en el diseño de los equipos para espectroscopía de absorción atómica.
ENSANCHAMIENTO DELÍNEAS ATÓMICAS: CAUSAS
• Efecto de incertidumbre.
• Efecto Doppler.
• Efectos de presión.
Colisiones entre átomos del mismo tipo y con átomos extraños.
• Efectos de campos magnéticos y eléctricos.
ESPECTROSCOPÍA ATÓMICA:OTROS FACTORES
• Efecto de la temperatura.
• Espectros de bandas y continuos asociados a los espectros
atómicos.
• Métodos de atomización.
• Métodos de introducción de las muestras.
ESPECTROSCOPÍA ATÓMICA:TIPOS DE ATOMIZADORES
Tipo de atomizador Temp. atom. (ºC)
Llama 1700-3150
Vap. electrotérmica (ETV) 1200-3000
Plasma Ar acopl. Inductivo (ICP) 4000-6000
Plasma Ar corriente continua (DCP) 4000-6000
Plasma Ar inducido por microondas 2000-3000
Plasma de descarga luminiscente No térmico
Arco eléctrico 4000-5000
Chispa eléctrica 40000 (?)
ESPECTROSCOPÍA ATÓMICA:MÉTODOS INTRODUCCIÓN MUESTRAS
Método Tipo de muestra
Nebulización neumática Disolución o suspensión
Nebulización ultrasónica Disolución
Vapor. electrotérmica Sólido, líquido, disolución
Generación de hidruros Disoluc. ciertos elementos
Inserción directa Sólido, polvo
Ablación láser Sólido, metal
Ablación por arco o chispa Sólido conductor
Chisp. descarga luminiscente Sólido conductor
ESPECTROSCOPÍA DE ABSORCIÓN ATÓMICA:TÉCNICAS ATOMIZACIÓN DE LA MUESTRA
• Atomización con llama.
• Atomización electrotérmica (horno de grafito).
• Atomización por descarga luminiscente.
• Generación de hidruros.
• Atomización en vapor frío.
ESPECTROSCOPÍA DE ABSORCIÓN ATÓMICA:PROCESOS DURANTE LA ATOMIZACIÓN
• Nebulización:
• Desolvatación:
• Volatilización:
• Disociación:
• Ionización:
Disolución analito
Niebla
Aerosol sólido/gas
Moléculas gaseosas Moléculas excitadas
Átomos excitadosÁtomos
Iones atómicos Iones excitados
ESPECTROSCOPÍA DE ABSORCIÓN ATÓMICA:PROPIEDADES DE LAS LLAMAS
Combustible Oxidante Temperaturas (ºC)
Gas natural Aire 1700-1900
Gas natural Oxígeno 2700-2800
Hidrógeno Aire 2000-2100
Hidrógeno Oxígeno 2550-2700
Acetileno Aire 2100-2400
Acetileno Oxígeno 3050-3150
Acetileno Óxido nitroso 2600-2800
ABSORCIÓN ATÓMICA:MECHERO DE FLUJO LAMINAR
ABSORCIÓN ATÓMICA: ATOMIZADORDE HORNO DE GRAFITO
ABSORCIÓN ATÓMICA:FUENTES DE RADIACIÓN
• Fuentes de radiación:
Lámparas de cátodo hueco.
Lámparas de descarga sin electrodos.
ABSORCIÓN ATÓMICA:ESPECTROFOTÓMETROS
ABSORCIÓN ATÓMICA:INTERFERENCIAS
• Interferencias espectrales:
Métodos de corrección (de las dos líneas, con una fuente continua, basados en el efecto Zeeman, basados en una fuente con autoinversión).
• Interferencias químicas:
Formación de compuestos poco volátiles.
Equilibrios de disociación.
Equilibrios de ionización.
ABSORCIÓN ATÓMICA:TÉCNICAS ANALÍTICAS
• Preparación de la muestra.
• Disolventes orgánicos.
• Curvas de calibrado.
• Método de la adición de estándar.
• Límites de detección.
• Exactitud.
ICP: HISTORIA
1960: Espectrometría de absorción atómica.
1963: Fluorescencia de rayos X.
1970: Análisis por activación neutrónica.
1975: ICP-OES.
1975: Gray experimenta el plasma como fuente de iones para MS.
1983: Fabricación de los primeros equipos ICP-MS.
ESPECTROSCOPÍA DE EMISIÓN:ICP-OES (ICP ÓPTICO)
• La técnica ICP-OES (ICP optical emission spectroscopy)
se basa en la medida de la radiación emitida por distintos
elementos presentes en una muestra introducida en una
fuente ICP.
• Las intensidades de emisión medidas se comparan con las
intensidades de patrones de concentración conocida.
ICP-OES:ESQUEMA BÁSICO
Plasma
Espectrómetro
Detector
EL PLASMA ICP COMOFUENTE DE IONIZACIÓN
Plasma de Argon (>1% Ar+).
Presión atmosférica.
Canal central para introducción de muestras.
Altas temperaturas: 6000-8000 K.
Elevada densidad electrónica. Alta eficacia de ionización.
PLASMA: PROCESOS
Aerosol con la muestra
Desolvatación
H2O(l) H2O(g)
Vaporización
MX(s) MX(g)
Atomización
MX(g) M + X
IonizaciónM M+
RecombinaciónM+ + e M
ICP-OES:ESPECTRÓMETROS
• El sistema óptico empleado en ICP-OES consta de un monocromador, que separa las longitudes de onda individuales y enfoca las deseadas al detector.
• Tipos de espectrómetros:
Secuenciales.
De barrido giratorio.
De escalera de barrido.
Multicanal.
Instrumentos con detectores CCD (“charge-coupled devices”).
ESPECTROSCOPÍA ICP-OES:TÉCNICAS ANALÍTICAS
• Preparación de la muestra.
• Selección de la línea analítica.
• Curvas de calibrado.
• Interferencias (emisión de fondo, solapamientos de líneas…).
• Límites de detección.
• Exactitud.
ICP-MS
ICP-MS:CARACTERÍSTICAS
• Técnica de análisis elemental inorgánico.
• Alta precisión.
• Bajos límites de detección.
• Permite el análisis de la mayoría de elementos e isótopos, de manera simultánea y en poco tiempo.
• La utilización del láser acoplado al ICP-MS posibilita el análisis de elementos trazas y tierras raras en minerales, fósiles, metales, semiconductores…
ISÓTOPOS YABUNDANCIAS
ICP-MS:FUNDAMENTOS
Plasma de AcoplamientoInductivo (ICP)
Luz y calor, procedentes deuna fuente de alta intensidad, originan la ionización de átomos
Espectrómetro de masas
Extracción y medidade iones
ICP-MS: PROCESOS
Nebulización Desolvatación Vaporización Atomización Ionización
Muestra líquida
Aerosol
Partícula
Nebulización
Desolvatación
Vaporización
Molécula Ion
Atomización
Átomo
Ionización
Muestra sólida Analizador
de masas
Procesos de emisión
Procesos de absorción
ESQUEMA DEL EQUIPOAGILENT 7500c ORS
Guía de ionesde octapolo
Cámara de la celdade colisión
MFC
MFC
MFC
H2
He
Opcional
Lente deextracción
LentesEinzel
Válvula deaislamiento
Skimmer
Analizador de masasde cuadrupolo
ShieldTorch
Sampler
Detector
Bomba BombaBomba
ESQUEMA DE ICP-MSDE DOBLE ENFOQUE
Rendija de salida
Multiplicador de electronessecundarios (SEM)
Sector magnético
Rendijade entrada
Interfase
Sector electrostático
Lentes de enfoque
Plasma
COMPONENTES DE UNEQUIPO ICP-MS
1. Nebulizador 6a. SM (cuadropolo)
2. Cámara de nebulización 6b. SM de doble enfoque
3. Antorcha 7. Detector de iones
4. Conos: sampler y skimmer 8. Sistema de vacío
5. Lentes iónicas
BOMBA, NEBULIZADOR YPRINCIPIO DE LA ANTORCHA
COMPONENTES DE UNEQUIPO ICP-MS
• La fuente de ionización ICP.
• La interfase de extracción.
• El espectrómetro de masas (MS):
La óptica de iones.
El filtro de masas cuadrupolar.
El detector de iones (multiplicador de electrones secundarios).
EXTRACCIÓN DE IONES ALESPECTRÓMETRO DE MASAS
Interfase de extracción
Vacío 1.0 E-02 torr
Chorro supersónico
Sampler Skimmer
Plasma 1 torr
1 mm 0.4 mm
CONOS E INICIO DEL MS
CONOS “SAMPLER” Y “SKIMMER”
LENTES IÓNICAS
Lentes de extracción:• Incrementar la energía cinética de los iones• Reducir la expansión del haz
Lentes de enfoque:• Confinar el haz de iones independientemente
de la masa del ión
Skimmer
LENTES IÓNICAS:OTROS COMPONENTES
Componentes para eliminar los fotones y átomos neutros
Photon stop Lentes Omega
+
+
-
-
AGILENT 7500C ORS:LENTES IÓNICAS
Guía de ionesde octapolo
Celda de colisión
Lentes iónicas
Lentes iónicas (“off-axis”) Mayor tolerancia a matrices complejas
Fácil mantenimiento
Alta transmisión iónica Trabaja como “celda de reacción”
Guía de iones de octapolo
LENTES IÓNICAS:“OFF-AXIS”
Sampler
Skimmer
Protege al octapolo de matrices complejas
Situadas antes de la válvula de aislamiento
Bajo fondo espectral a lo largo de todo el rango de masas
FILTRO DE MASASCUADRUPOLAR
Iones más ligeros
Iones más pesados
Iones con larelación m/zadecuada
-(U +V cos wt)
U +V cos wt
CUADRUPOLO
DETECTOR DE IONES
El multiplicador de electrones secundarios (SEM)
+
Pulso eléctrico
Dínodos apotencialcreciente
e (….)
DETECTOR DE IONES
ESPECTROS EN ICP-MS:INTERPRETACIÓN
• Análisis cualitativo rápido.
• Interferencias en ICP-MS:
Interferencias espectrales (igual masa nominal).
Interferencias no espectrales (efectos de matriz).
ESPECTROS DE MASAS
0
500000
1000000
1500000
2000000
2500000
3000000
3500000
4000000
203 204 205 206 207 208 209
Relación m/z
Cu
en
tas
Principalmente iones monoatómicos y monopositivos.
Refleja la abundancia isotópica del elemento.
Espectro del Pb
INTERFERENCIASESPECTRALES
• Solapamientos isobáricos.
• Iones poliatómicos.
• Iones de óxidos refractarios.
• Iones con carga doble.
INTERFERENCIASISOBÁRICAS
Isótopo M (uma) % Abundancia
V 50 0.25
Ti 50 5.4
Cr 50 4.35
Fe 58 0.28
Ni 58 68.1
Ba 138 71.7
La 138 0.09
Ce 138 0.25
INTERFERENCIASPOLIATÓMICAS
Interferente m/z Interfiere en
N2+ 28 Silicio
NO+ 30 Silicio
O2+ 32 Azufre
Ar+ 40 Calcio
ArO+ 56 Hierro
Ar2+ 80 Selenio
ArCl+ 75 Arsénico
ArC+ 52 Cromo
INTERFERENCIAS ESPECTRALES:SOLUCIONES
• Elección de un isótopo libre de interferencias:
137Ba en vez de 138Ba.
• Optimización del equipo para su minimización:
Óxidos, iones con doble carga.
• “Shield Torch” y plasma frío:
Reduce iones poliatómicos con alto potencial de ionización.
Elimina ArO+.
Elimina ArH+.
INTERFERENCIAS ESPECTRALES:SOLUCIONES
• Eliminación de la matriz:
Quelación.
Cromatografía.
Desolvatación (membrana, térmica).
• Ecuaciones de corrección:
75ArCl en 75As.
• Celdas de colisión/reacción.
CELDA DE COLISIÓN-REACCIÓN
• Gas de colisión/reacción: He o H2.
• Dos mecanismos de operación:
He: Colisión.
Disociación
Discriminación de energías
H2: Reacción.
Transferencia de átomos.
Transferencia de carga.
COLISIONES CON HELIOGAS: DISOCIACIÓN
Ar
Cl
Ar
Cl
He
Celda de colisión
Ar
Cl
As As
Colisión Fragmentación de la
molécula interferente
COLISIONES CON HELIO GAS:DISCRIMINACIÓN DE ENERGÍA
Ar
Cl
He
Celda de colisión
As
As
Ar
Cl
Colisión
Potencial eléctrico(Cuadrupolo)
Potencial eléctrico (Octapolo)
Pérdida de energía de lamolécula interferente
REACCIONES CON HIDRÓGENO GAS:TRANSFERENCIA DE ÁTOMOS
Ar+
Ar+
H2
Celda de reacción
Ar+
Cl
Ca+ Ca+
H
H
Ar+ + H2 → ArH+ + H
REACCIONES CON HIDRÓGENO GAS:TRANSFERENCIA DE CARGA
Ar+
Ar+
H2
Celda de reacción
Ar
Cl
Ca+ Ca+
+
Ar+ + H2 → H2+ +
Ar
INTERFERENCIAS NO ESPECTRALES:MATRIZ DE LA MUESTRA
• Sólidos disueltos totales.
Supresión de la señal.
Depósitos en nebulizador y en conos.
Depósitos en la óptica iónica.
• Elementos de masa elevada.
Los elementos con masas altas afectan a la señal de los elementos de masas bajas (espacio-carga).
• Elementos fácilmente ionizables: Na, K.
SUPRESIÓN DELA IONIZACIÓN
Región del plasma
Na → Na+ + e; Zn+ + e → Zn
INTERFERENCIAS NOESPECTRALES: SOLUCIONES
• Dilución de la muestra.
• Empleo de estándar interno.
• Adiciones estándar.
• Eliminación de la matriz:
Cromatografía.
ETV.
Desolvatación.
INTERFERENCIASNO ESPECTRALES
INTERFERENCIASNO ESPECTRALES
PROCEDIMIENTOSDE CUANTIFICACIÓN
• Análisis semicuantitativo:
Curvas de respuesta instrumental (respuesta molar).
• Análisis cuantitativo:
Preparación de curvas de calibrado.
Uso de patrones internos.
Análisis por dilución isotópica.
PATRONES INTERNOS ENCURVAS DE CALIBRADO
• Se compensa la deriva de la señal.
• Se compensan algunos efectos de matriz.
• El patrón interno no debe estar presente en la muestra.
• El patrón interno debe poseer una masa y un potencial de ionización similar al del elemento a determinar.