Analizador elemental EDXRF a bajo costo

Dispersin de energa por fl uorescencia de rayos X

NEX QC ofrece un rendimiento superior en un paquete resistenteLa dispersin de energa por fl uorescencia de rayos X (EDXRF) es una tcnica analtica rutinaria utilizada para la determinacin cualitativa y cuantitativa de los elementos atmicos mayores y menores en una amplia variedad de muestras de diferentes tipos.

El fundamento de su versatilidad se debe a la capacidad de ofrecer anlisis de elementos mltiples de manera rpida, no destructiva, a partir de bajos niveles de partes por milln (ppm) a altas concentraciones de

porcentaje en peso (% en peso) en elementos de sodio (11Na) a travs de uranio (92U). La verstil serie de espectrmetros EDXRF NEX QC de Rigaku ofrece mediciones elementales de rutina a travs de una amplia gama de matrices desde lquidos homogneos de cualquier viscosidad a slidos, pelculas delgadas, aleaciones, suspensiones, polvos y pastas.

Anlisis elemental en el campo, planta o laboratorioEspecialmente diseada y fabricada para uso industrial pesado, ya sea en la planta o en ambientes de campos remotos, el poder superior de anlisis, fl exibilidad y facilidad de uso que la serie NEX QC aade a su gran atractivo para una mayor gama de aplicaciones, incluyendo la exploracin, investigacin, inspeccin RoHS, y la educacin; as como aplicaciones de monitoreo industrial y la produccin. Si la necesidad es el control bsico de cualidad (QC) o sus variantes ms sofi sticadas como el control de calidad analtico (AQC), garanta de calidad (QA) y control estadstico de procesos como Six Sigma la serie NEX QC es la opcin confi able para la rutina de anlisis elemental.

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El men de nivel superior tipo Smartphone (telfono inteligente) permite al operador seleccionar el anlisis deseado con el toque de un cono

A continuacin, introduzca la identifi cacin de la muestra para cada posicin de la bandeja de la muestra y toque el cono Start (Iniciar)

Los resultados analticos, espectros y el estado del instrumento son seleccionables por cono con el toque de un dedo

Adquisicin de espectro en vivo con el NEX QC mostrando picos de Cr, Cu y As de una muestra de madera tratada

Las curvas de calibracin y las estadsticas son accesibles con la interfaz conocida estilo Smartphone (telfono inteligente)

El modo de validacin puede ser fcilmente confi gurado para permitir la interpretacin Pass/Fail (Pasa/Fracasa) de los resultados analticos

Software intuitivo con interfaz Smartphone La disponibilidad de pantallas tctiles reforzadas de alta resolucin ha permitido a Rigaku redefi nir la experiencia de interfaz de usuario para el siglo 21. Los teclados de membrana y pantallas primitivas son ahora cosa del pasado. El operar la serie de analizadores elementales NEX QC es una experiencia sencilla, con conos tctiles seleccionables que guan a los usuarios a travs de operaciones de anlisis de rutina. La tecnologa de interfaz Smartphone (telfono inteligente) reduce el costo de propiedad, ya que simplifi ca la capacitacin del operador y reduce su posibilidad de error.

Prxima generacin de analizador elemental EDXRF a bajo costo

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Adquisicin en vivo de espectro, con el espectrmetro NEX QC+ ofreciendo el detector de alta resolucin SDD

Esquema simplifi cado de un detector SDD que ilustra la construccin del anillo concntrico que permite velocidades muy altas de conteo de rayos X

NEX QC+ para una resolucin espectral y rendimiento excepcional

Para aplicaciones ms exigentes, o para situaciones donde el tiempo de anlisis o el procesamiento de muestras es crtico, Rigaku ofrece el espectrmetro NEX QC+. Utilizando la prxima generacin de tecnologa de detector de silicio, el mejorado NEX QC+ ofrece mejoras signifi cativas en la resolucin elemen-tal de pico y estadsticas de conteo, resultando en una cali-bracin y precisin superior para las mediciones ms difciles.

Tecnologa de detector de deriva de silicioUn detector de deriva de silicio (SDD) proporciona una capacidad de velocidad de conteo extremadamente alta con una excelente resolucin espectral. Esto permite que NEX QC+ obtenga resultados de precisin analtica ms altos en los tiempos de medicin ms cortos posibles. La caracterstica de diseo nico de SDD es el campo transversal generado por una serie de electrodos de anillo que obligan a los portadores de carga a desviarse a una pequea coleccin de electrodos. La actual generacin de detectores SDD, con el transistor de efecto de campo (FET) movido fuera de la trayectoria de la radiacin, representan la tecnologa convencional estado de arte de detector EDXRF.

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Recipiente de muestra

Pelcula de seguridad

Detector

Colimador

Tubo derayos X

Rueda de fi ltros

Destreza computacionalAdems de ser muy fcil de usar, cada analizador elemental NEX QC de Rigaku es alimentado por un sofi sticado software que funciona en una computadora incorporada. Las curvas de calibracin empricas pueden ser ajustes de tipo lineal, cuadrtica o hiperblica. Adems, para compensar la presencia de otros elementos, se pueden activar (calculado automticamente dado sufi cientes estndares) correcciones basadas en intensidad o en concentracin basada en correcciones alfa (). La correccin C/H tambin est disponible para compensar los cambios de elementos ligeros de la matriz y/o cambios en el nmero atmico promedio. Todas las funciones de calibracin son accesibles a travs de conos intuitivos con el toque de un dedo. Un paquete opcional de parmetros fundamentales (FP) est disponible.

pticas de rayos X estado del arteLa serie NEX QC emplea un tubo de rayos X de 50 kV y un detector semiconductor de tecnologa de enfriamiento Peltier para ofrecer una repetibili-dad excepcional a corto plazo y una reproducibi-lidad a largo plazo con una excelente resolucin elemental de pico. El alto voltaje, junto con los mltiples fi ltros automticos del tubo de rayos X, proporciona capacidad de anlisis de elementos mltiples para un rendimiento incomparable con bajos lmites de deteccin (LOD). Las pticas estn protegidas por una pelcula de seguridad que no requiere de herramientas para cambiarla.

Cmo funciona?En la fl uorescencia de rayos X (XRF o FRX), un electrn puede ser expulsado de su orbital atmico por la absorcin de luz (fotones) desde un tubo de rayos X. La energa del fotn (hv) debe ser mayor que la energa con la que est unido el electrn al ncleo de ese tomo. Cuando un electrn orbital interior es expulsado de un tomo (imagen central), un electrn de un nivel de energa ms alto se transfi ere para llenar la vacante orbital. Durante esta transicin, un fotn puede ser emitido (imagen derecha). Debido a la diferencia de energa entre dos capas orbitales especfi cas es siempre la misma para un elemento especfi co, el fotn emitido tendr siempre la misma energa caracterstica (keV). Para una lnea de emisin fl uorescente, en un elemento dado, el nmero de fotones por unidad de tiempo (conteo por segundo o cps) est relacionado con la cantidad de dicho elemento en una muestra. La velocidad de conteo se calcula midiendo, durante un tiempo determinado, el nmero de fotones detectados por las diferentes lneas elementales de fl uorescencia de rayos X (picos espectrales) observadas. As, el anlisis elemental cualitativo y cuantitativo se alcanza mediante la determinacin de energa de los picos de rayos X en una muestra de espectro y midiendo sus velocidades de conteo asociadas.

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Interfaz Smartphone

De alta resolucin, moderna, con pantalla tctil de navegacin y control de instrumentos fcil de usar. La interfaz de pantalla es de calidad bomba Petro y reforzada para uso industrial pesado.

Bandejas de muestra removibles

Las bandejas automuestreadoras opcionales intercambiables pueden ser precargadas, o enchufables y desenchufables, para aumentar la efi ciencia o en los casos donde el rendimiento es importante. Acepta recipientes de recipientes de 32 y 40 mm.

Pelcula de seguridad sin necesidad de herramientas

No se requieren herramientas para cambiar la pelcula de seguridad que protege el ncleo ptico, lo que permite una sustitucin fcil y rpida.

Impresora incorporada

La impresora trmica proporciona resultados rpidos en papel en el lugar y el momento que usted los necesite.

Opcin de parmetro fundamental

Reduce drsticamente el nmero de estndares necesarios para implementar una calibracin de alta calidad. Especialmente til cuando los estndares son difciles de obtener o para matrices complejas en las que muchos elementos varan independientemente.

Anlisis no destructivo desde sodio a travs de uranio

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Tecnologa de detector de silicio

Si-detector termoelctrico enfriado, de alta resolucin y mximo rendimiento es estndar en el NEX QC. Un rendimiento an mayor est disponible con el NEX QC+ equipado con SDD.

Hasta 38 calibraciones

Un gran nmero de calibraciones est disponible, con el toque de un dedo, apoya una amplia gama de aplicaciones y tipos de muestras.

Datos de salida digital

Ethernet RJ-45 jack y un puerto USB para la salida a LIMS o memoria porttil (memory stick). Los datos estn disponibles en formato CSV o PDF.

De una sola posicin o automuestreador

La confi guracin de una sola posicin estndar se puede suplementar con un automuestreador opcional.

Conservacin del tubo de rayos X

Al operar solamente durante la recoleccion de datos, se reduce al minimo el desgaste del tubo de rayos X lo queminimiza los costos operativos.

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Las aplicaciones abarcan industrias globales

CatalizadoresEl anlisis EDXRF de catalizadores homogneos y heterogneos se puede utilizar para determinar el contenido de metal pesado o estequiometria y/o cuantifi car los reactivos. La determinacin del