CALIDAD DE PRODUCTO EN LA INDUSTRIA: APLICACIÓN DE LA EVOLVENTE DE LAS CURVAS DE INMUNIDAD FRENTE A HUECOS DE TENSIÓN

J. C. Gómez, G. N. Campetelli, E. F. Florena

IPSEP, Universidad Nacional de Río Cuarto, ARGENTINA

Rosario, 25 de Septiembre de 2012

Hueco de Tensión y Concepto de Punto de acoplamiento común (PAC)

Z2

Z1

carga

PAC

s

Curvas de inmunidad CBEMA, ITIC, y SEMI F47

0

20

40

60

80

100

0,01 0,1 1 10 100 1000 10000Tiempo (ciclos)

Vo

lta

je (

%)

CBEMA ITIC Analítica

Concepto de energía específica

• Energía específica en corriente

∫i2dt = I2t (A2 s)

• Energía específica en tensión

∫v2dt = V2t (V2 s)

• Efecto combinado y su conversión: importancia de la potencia de cortocircuito del sistema en el punto en estudio

• Curvas de inmunidad individuales (líneas delgadas) y evolvente (línea gruesa de trazos) de una línea de producción hipotética

0

20

40

60

80

100

0,01 0,1 1 10 100 1000 10000

Tiempo (ciclos)

Vo

lta

je (

%)

SE1 SE3 SE2SE4 SE5 EVOLVENTE

Efecto de la Generación Distribuida

VSE [pu] = 1–(Zs+Zis)*(Zd+Zid)/(Zf*Z+(Zs+Zis)*(Zd+Zid+Zim))

con Z = Zs + Zi +Zd. En caso de cambio de posición, se estudia como “espejo”, Zs Zd

Efecto de la contribución de corriente de la GD

ES

ES

Variaciones de corriente y tensión sobre el ES

0

0,2

0,4

0,6

0,8

1

1,2

-0,1 0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6

Tiempo (segundos)

Co

rrie

nte

y v

olt

aje

(p

u)

Corriente rama fallada Voltaje ES

Circuito simplificado con conexión semi-rígida entre el GD

y el sistema de potencia

-400

-200

0

200

400

0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6

Tiempo (s)

Vo

ltaj

e (V

)

Sistema radial con inclusión de GD

0

0,2

0,4

0,6

0,8

1

1,2

-0,1 0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6

Time (s)

Cu

rre

nt

an

d v

olt

ag

e

(pu

)

Faulted branch current SE voltage

Operación fusible 0,066 pu2s

Salida de servicio (ss) ES 0,205 pu2s

Si CB abre en 0,2 s ES ss en 0,42 sSi CB abre en 0,38 s F4 opera en 0,49 sy ES no sale de servicio (saldría en 0,53s)

ES

Conclusiones

El comportamiento del equipamiento eléctrico y electrónico frente a huecos de tensión de magnitud variable ha sido difícil de analizar. La metodología presentada permite el estudio y cuantificación de tal fenómeno. De la aplicación de esta metodología puede obtenerse información valiosa para la adopción de dispositivos de mitigación. La información también es aplicable al diseño de fuentes de alimentación de equipo electrónicos.

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