nch_44_of_2007[1]

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Norma Chilena de Muestreo por Atributos

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  • Edgardo Ojeda BarcosNoteTemas a tratar

    Muestrarios de defectos.

    Diferencias entre los niveles de inspeccin.

    Las muestras no crecen como los lotes.

  • Edgardo Ojeda BarcosNoteEl tamao de muestra 2000 es enorme

    Defectos y defectuosos

    No hay diferencia en la proteccin entre el muestreo doble y el simple.

    Disear una planilla de control de entradas de lotes y verificar AQL`s y control del proveedor

    Al bajar por las flechas el n solicitado podra se mayor que el lote ingresado.

  • Edgardo Ojeda BarcosNoteCuando me conviene ir a muestreo doble o quedarme en el simple

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