nch_44_of_2007[1]
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Norma Chilena de Muestreo por AtributosTRANSCRIPT
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Edgardo Ojeda BarcosNoteTemas a tratar
Muestrarios de defectos.
Diferencias entre los niveles de inspeccin.
Las muestras no crecen como los lotes.
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Edgardo Ojeda BarcosNoteEl tamao de muestra 2000 es enorme
Defectos y defectuosos
No hay diferencia en la proteccin entre el muestreo doble y el simple.
Disear una planilla de control de entradas de lotes y verificar AQL`s y control del proveedor
Al bajar por las flechas el n solicitado podra se mayor que el lote ingresado.
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Edgardo Ojeda BarcosNoteCuando me conviene ir a muestreo doble o quedarme en el simple
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