SUAREZ PACHECO GILBERTO ERNESTO DIFRACCION DE RAYOS X

26 OCTUBRE 2010

La Difraccin de Rayos X est basada en las interferencias pticas que se producen cuando una radiacin monocromtica atraviesa una rendija de espesor comparable a la longitud de onda de la radiacin. Los Rayos X tienen longitudes de onda de Angstroms, del mismo orden que las distancias interatmicas de los componentes de las redes cristalinas. Al ser irradiados sobre la muestra a analizar, los Rayos X se difractan con ngulos que dependen de las distancias interatmicas. El mtodo analtico del Polvo al Azar o de Debye-Scherrer consiste en irradiar con Rayos X sobre una muestra formada por multitud de cristales colocados al azar en todas las direcciones posibles. Para ello es aplicable la Ley de Bragg: n = 2d*sen, en la que d es la distancia entre los planos interatmicos que producen la difraccin.

APLICACIONES La difraccin de rayos-x es un mtodo de alta tecnologa no destructivo para el anlisis de una amplia gama de materiales, incluso fluidos, metales, minerales, polmeros, catalizadores, plsticos, productos farmacuticos, recubrimientos de capa fina, cermica y semiconductora. La aplicacin fundamental de la Difraccin de Rayos X es la identificacin cualitativa de la composicin mineralgica de una muestra cristalina. Otras aplicaciones son el anlisis cuantitativo de compuestos cristalinos, la determinacin de tamaos de cristales, la determinacin del coeficiente de dilatacin trmica, as como clculos sobre la simetra del cristal y en especial la asignacin de distancias a determinadas familias de planos y la obtencin de los parmetros de la red.

REQUISITOS Que el espacio entre capas de tomos sea aproximadamente el mismo que la longitud de onda de la radiacin (0.5 2.5 A). Que los centros de dispersin estn distribuidos en el espacio de una manera regular. Que le haz incidente sea monocromtico (que lleve fotones de solo una longitud de onda).

DIFRACTOMETRO Es el equipo utilizado para el anlisis de difraccin, con el cual se puede determinar los ngulos en que ocurre la difraccin, lo que se registra es un espectro o difractograma.

La intensidad de los picos en un difractograma, es proporcional al nmero de planos que difractan, es decir a la concentracin de una estructura especfica, el mtodo hace posible la evaluacin cuantitativa.

DFX

MUESTRA

DIFRACTOMETRO