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Aumente su productividad y reduzca los
costes con el ICP-OES más rápido del
mercado
Características del ICP-OES
• Amplio espectro 78 elementos analizables.
• Muy adecuado para el análisis de elementos refractarios.
• Técnica simultanea, muy rápida y robusta.
• Amplio intervalo dinámico - ppb a %
• Precisión frecuentemente superior al 1%
• Gran tolerancia a sólidos disueltos.
• Gran tolerancia a los medios orgánicos.
• Pocas interferencias químicas
• Normalmente la preparación de muestra es sencilla
• Relativamente facil de operar
Limitación: Consumo de Ar
Estrategias para la disminución de costes por
ICP-OES
Disminución
de gastos
Disminución del flujo de Ar
Uso de mini-antorchas
Limitación de la potencia
del plasma
Aumentar la velocidad de
análisis Equipos de óptica simultanea
Tiempos de estabilización
más rápidos
Aumento de la eficacia de
acoplamiento
Accesorios especiales para
la toma de muestra
Disminuir el tiempo de
procesado de los resultados
Corrección automática de
fondos e interferencias
Multicalibración
Controles de calidad
4
Tiempo de puesta en marcha más rápido
0
1
2
3
4
5
6
7
0:01 0:06 0:12 0:18 0:24 0:29 0:35 0:41 0:47 0:52 0:58 1:04 1:10 1:16 1:21 1:27 1:33 1:39 1:44 1:50
Co
nce
ntr
ati
on
(m
g/L
)
Hours:mins
Ar 404.442 Ba 233.527 Ba 455.403
Mg 280.270 Mg 285.213 Zn 206.200
• El tiempo de puesta en marcha desde que se enciende el PC hasta
que se dispone de un plasma estable es <15 minutos
PC on, Plasma on
Nuevos detectores sellados sin necesidad de purga de Ar - Más rápida puesta en marcha. < 10 min de estabilización.
- Menor consumo de gases, tanto en operación como en stand-by.
El único sistema de ICP-OES simultaneo Policromador Echelle
Una sola rendija de
entrada.
Todos los elementos
analizados en una
única exposición.
Mayor velocidad de análisis
Mayor precisión
Calibraciones más duraderas
Mejor corrección con standard
interno
Interfaz de cono refrigerado
Apertura de la cola del
plasma
Interfase CCI Patentada
El único sistema de ICP-OES simultaneo: Policromador Echelle
7
Detectores empleados en ICP-OES de optica Echelle
720/725 CCD 710/715 CCD CID SCD
Adaptación ideal al espectro
Cobertura total de long de onda
Simultaneo en todo el intervalo de long de onda
Sin tiempos de retraso prelectura
Tiempo de medida independiente de las
intensidades
Sin tiempos extra de preintegración
Sin recubrimientos de lumogen – larga vida
Alta densidad de píxels permitiendo hacer fitted
background
Fast automated curve fitting FACT
Nuevos accesorios para la toma de muestra
One-Neb • Un solo nebulizador para todas las
aplicaciones.
• Concatenar métodos
MSIS • Generación de hidruros o vapor
frío simultaneo con el análisis del
resto de elementos.
Nuevos accesorios para la toma de muestra
9
Válvula de intercambio automático de
cuatro vías (SVS1)
• Menor tiempo de toma de muestra y lavado.
• Asegura la ausencia de arrastres entre
disoluciones.
• Compatible con el SPS-3 y Cetac ASX-520
• 33 % aumento de
productividad
• 25% ahorro de
argón
Cuatro triggers desde el software
• Posición de inicio: Posición A (Lavado instantaneo)
• Cuando termina el tiempo de delay: Posición B (Muestra)
• Cuando entra la disolución: Posición A (lavado instantaneo)
• Fin del análisis: Posición B (limpieza del auto-sampler)
Nuevos accesorios para la toma de muestra
SVS2 Productivity Pack Nuevos accesorios para la toma de muestra
¿Que es el paquete de productividad SVS2?
Es un sistema con una válvula de álta velocidad de 12 puertos con 2
posiciones y una bomba peristáltica de alta velocidad que elimina
virtualmente el tiempo de toma de muestra y los tiempos de lavado.
Beneficio
El Paquete de Productividad dobla la productividad del equipo, reduce el
consumo de Ar y aumenta el tiempo de vida de la antorcha
• Dobla el rendimiento respecto de un sistema de introducción de muestras
convencional.
• La toma de muestra se aisla de la nebulización para mejorar la productividad.
• El lavado tiene lugar mientras la muestra está analizándose para aumentar los
tiempos de lavado.
• Aumenta la estabilidad, especialmente para muestras con alto TDS
• Disminuye la degradación de la antorcha y mantenimiento
Nuevos accesorios para la toma de muestra
¿Como trabaja?
Analisis Carga
Bomba peristáltica
rápida
Nuevos accesorios para la toma de muestra
0 10 20 30 40 50 60 70
Time (s)
Sig
na
l
No SVS
SVS2
Nuevos accesorios para la toma de muestra
Modo de medida
Análisis del ahorro de tiempos Análisis con 720-ES +
SPS3 SOLO
Análisis con 720-ES +
SPS3 + SVS1
Análisis con 720-ES +
SPS3 + SVS2
Operación Tiempo
(s)
Tiempo de
lavado (s)
Tiempo
(s)
Tiempo de
lavado (s)
Tiempo
(s)
Tiempo de
lavado (s)
Moviemiento del autosampler a
la muestra
3 - 3 3 3 3
Tiempo de toma/retraso de carga 15 - 15 13 8 8
Tiempo de estabilización del
instrumento
10 - 10 - 5 5
Tiempo de medida de muestra 10 - 10 - 10 10
Movimiento de la sonda del
autosampler al lavado.
3 - 3 3 - -
Tiempo de lavado de la sonda
del autosampler
20 20 5 5 0 0
Tiempo total 61 20 46 24 26 26
Análisis de tiempo ahorrado 15 segundos 35 segundos
Nuevos accesorios para la toma de muestra
0
500
1000
1500
2000
2500
3000
3500
0 4 8 12 16 20 24 28
Time (hours)P
rod
uc
tiv
ity
(no
. o
f s
am
ple
s)
>133% more
Productivity
with SVS1
without SVS
>33% more
Productivity
with SVS2
SVS2 Beneficios
Dobla la productividad
• Disminuye a la mitad el consumo de Ar.
• Aumenta la vida de la antorcha
Análisis más rápido y mayor tiempo de limpieza
• Menor arrastre entre muestras
• Mejor precisión con mayor estabilidad del plasma
Menor carga de muestra
• Menos depósitos de sales en el inyector
• Mayor estabilidad a largo plazo al usar muestras con altos TDS
Nuevos accesorios para la toma de muestra
Corrección automática de fondos e interferencias.
• La elevada densidad de píxels en el detector es un
rasgo único que permite a nuestro software usar la
corrección adaptada de los fondos a tiempo real, no
siendo necesario fijar los puntos de integración del
pico.
As 188.980
Wellenlänge (nm)
Intensität
1000
4000
2000
3000
188.953 189.015 188.980 189.000
S: 1969 B: 1179 SUV: 0.670
• La cuantificación en ICP-OES ha de hacerse por la medida de la intensidad neta de la emisión. La intensidad de los fondos debe ser sustraída.
• Los equipos de Agilent 7XX ICP-OES son los únicos capaces de medir la intensidad neta restando los fondos sin ninguna intervención del analista.
• Esto solo es posible por la gran densidad de píxels en cada elemento de resolución de nuestros detectores
• En todo el resto de equipos de ICP-OES el analista debe comprobar las posiciones del BG para todos los elementos en muestras desconocidas
• El análisis de muestras desconocidas es mucho más seguro con el BG ajustado
Lineal Ajustado B
G/D
Corrección automática de fondos e interferencias.
Trazado de fondos ajustado
FACT. Deconvolución espectral de interferentes
Fe 226.505
Cd 226.502
Cd 226.502 nm/ Fe 226.505 nm
226.502 226.9492
Permite corregir: blanco,
matriz y hasta 7
interferencias por metal.
Se precisa una mínima
separación entre
interferente e interferido (3
pm).
analito
Señal total
Ni 231.604 nm en matriz
orgánica
Interferente
Corrección automática de fondos e interferencias.
Ejemplos de análisis: Muestras agrícolas de suelos
y foliares
Digestión por microondas de acuerdo con la USEPA method 3051A
Agilent 720 ICP-OES con Paquete de Productividad SVS2
RF = 1.3 kW
Neb = 0.7 L/min
Plasma gas = 15 L/min
Auxiliary gas = 1.5 L/min
Consumo total de muestra = 1 mL
Tiempo de adquisición = 2 x 5 segundos por réplica
Retraso de toma de muestra = 0 segundos
Retraso de estabilización = 7 segundos
Tiempo de lavado = 0 segundos
Tiempo de carga del loop = 6 segundos
Tiempo total de análisis de muestra = 30 segundos
NIST SRM 1571 Hoja de Orquídea
Elemento Unidad Intervalo
especificado Medido
As 188.980 mg/kg 490-600 532 ± 30
Co 228.615 mg/kg 6.3-12 9.66 ± 0.79
Cr 267.716 mg/kg 15-23 18.7 ± 1.5
Cu 324.754 mg/kg 11-13 12.0 0.7
Mn 257.610 mg/kg 87-95 87 6
Na 588.995 mg/kg 76-88 64.9 2.9
Ni 231.604 mg/kg 8.8-15 10.0 ± 1.2
Pb 220.353 mg/kg 42-48 42.1 1.8
Zn 206.200 mg/kg 22-28 27.5 1.6
Al 396.125 Wt % - 275 15
Ca 315.887 Wt % 2.06-2.12 2.28 0.11
K 766.491 Wt % 1.44-1.50 1.453 0.096
Mg 285.213 Wt % 0.60-0.64 0.59 0.02
NIST SRM 2710 Extractos de suelos de Montana
Elemento Unidad Intervalo
especificado Medida
As 188.980 mg/kg 490-600 532 ± 30
Ba 455.403 mg/kg 300-400 311.5± 16.1
Co 228.615 mg/kg 6.3-12 9.66 ± 0.79
Cr 267.716 mg/kg 15-23 18.7 ± 1.5
Cu 324.754 mg/kg 2400-3400 2484± 109
Mn 257.610 mg/kg 6200-9000 6845 ± 404
Ni 231.604 mg/kg 8.8-15 10.0 ± 1.2
Pb 220.353 mg/kg 4300-7000 4523 ± 302
Zn 206.200 mg/kg 5200-6900 5382 ± 378
Al 396.125 Wt % 1.2-2.6 1.87 ± 0.18
Ca 315.887 Wt % 0.38-0.48 0.380 ± 0.013
Fe 234.350 Wt % 2.2-3.2 3.14 ± 0.34
K 766.491 Wt % 0.37-0.50 0.502 0.016
Mg 285.213 Wt % 0.43-0.60 0.503 ± 0.020
Na 588.995 Wt % 0.049-0.062 0.069 0.003
Agilent 720 ICP-OES con Pack de Productividad SVS2
RF = 1.4 kW
Neb = 0.7 L/min
Plasma gas = 15 L/min
Auxiliary gas = 1.5 L/min
Consumo total de muestra = 1 mL
Tiempo de adquisición= 2 x 20 segundos por réplica
Tiempo de toma de muestra = 12 segundos
Tiempo de estabilización = 0 segundos
Tiempo de lavado = 0 segundos
Tiempo de rellenado del loop = 8 segundos
Tiempo total de análisis de muestra = 68 segundos
Ejemplos de análisis: Análisis de aguas siguendo
la reglamentación USEPA 200.7
NIST SRM 1643e Elementos Traza en Aguas
Elemento Unidad Especificado Medido MDL
Al 308.215 g/L 141.8 152 0.1
As 188.980 g/L 60.45 57 3.3
Ba 493.408 g/L 544 535 2
Ca 315.887 g/L 32,300 30,995 8
Cd 226.502 g/L 6.568 6.6 0.2
Co 228.615 g/L 27.06 27.2 0.4
Cr 267.716 g/L 20.4 20.3 1.1
Cu 324.754 g/L 22.76 23.7 2
Fe 259.940 g/L 98.1 98.0 3
K 766.491 g/L 2034 2017 16
Mn 257.610 g/L 38.97 39.7 0.2
Na 588.995 g/L 20,740 19,061 5
Ni 231.604 g/L 62.41 61.7 1.4
Pb 220.353 g/L 19.63 21.1 1.8
Se 196.026 g/L 11.97 14.1 4
Zn 213.857 mg/L 78.5 79.8 0.6
CWW-TM-C Elementos Traza en aguas residuales
Elemento Unidades Especificado Medido MDL
Al 308.215 g/L 500 535 0.1
As 188.980 g/L 150 143 3.3
Ba 493.408 g/L 500 480 2
Cd 226.502 g/L 150 146 0.2
Co 228.615 g/L 500 478 0.4
Cr 267.716 g/L 500 476 1.1
Cu 324.754 g/L 500 494 2
Fe 259.940 g/L 500 486 3
Mn 257.610 g/L 500 490 0.2
Ni 231.604 g/L 500 477 1.4
Pb 220.353 g/L 500 487 1.8
Se 196.026 g/L 150 151 4
Zn 213.857 mg/L 500 498 0.6
Productividad Comparada
Basado en los 22 elementos analizados de acuerdo con la
USEPA 200.7 method
1080
210 150
68
0
200
400
600
800
1000
1200
Competitors Sequential ICP
Agilent 710 Agilent 720 Agilent 720 with SVS2
Seco
nd
s
Tiempo de análisis de muestra (s)
Conclusiones de los sistemas de alta
productividad
• Cada sistema Agilent ICP-OES simultaneo está ya optimizado para
conseguir las mejores prestaciones analíticas y los costes operativos más
bajos.
• El detector ha sido optimizado para aumentar el rendimiento del equipo.
• La óptica simultanea con el sistema CCI de eliminación de interferencias
permite la adquisición conjunta de todas las líneas de emisión.
• Pueden incorporarse múltiples accesorios para aumentar aún más estas
prestaciones.
• Nuevo nebulizador One-neb y nuevo sistema de hidruros MSIS
• Sistema SVS-1 para mejora de productividad y disminución de gasto de Ar y
fungibles
• SVS2 es la mejor herramienta para mejorar la productividad y los costes de
análisis