4.- cuarta semana graficas de control por variables-atributos
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7/23/2019 4.- Cuarta Semana Graficas de Control Por Variables-Atributos
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PROPORCION DE DEFECTUOSOS (p)
X - R
X - S
INDIVIDUALES
CAUSAS COMUNES
NUMERO DE DEFECTUOSOS (np)
NUMERO DE DEFECTOS (c)
PATRONES E SPECIALES
PRUEBAS
INDICE DE INESTABILIDAD St
PRECONTROL
DEFECTOS POR UNIDAD (u)
CAUSAS ESPECIALES
EL CONTROLESTADSTICO
DE LOSPROCESOS
CONTROL YREDUCCIN
DE LAVARIABILIDAD
INTERPRETACINDE CARTAS
CAUSAS DEVARIACIN
CARTAS DEVARIALBES
CARTAS DEATRIBUTOS
GESTION DE LACALIDAD TOTAL
CONTROL Y REDUCCIN DE LA VARIABILIDAD
Para controlar, mejorar y reducir la variabilidad en losprocesos, se requieren de tres actividades bsicas:
ESTABILIZAR LOSPROCESOS
MEJORAR ELPROCESO
MONITOREAR ELPROCESO
Lograr el control estadstico,mediante la identificacin yeliminacin de las causasespeciales.
Reduciendo la variacin debidaa causas comunes.
Para asegurar que las mejorasse mantienen y para detectaroportunidades adicionales a lamejora.
CAUSAS COMUNES Y ESPECIALES DEVARIACIN
Variacin por causas comunes o por azar:Es aquella que permanece da a da, lote alote y la aportan en forma natural las
condiciones de las 6Ms (Mano de Obra, Materiales,Maquinaria, Medicin, Mtodos y Medio ambiente).
Variacin por causas especiales oatribuibles:
Es causada por situaciones o circunstanciasespeciales que no son permanentes en elproceso.
CAUSAS COMUNES Y ESPECIALES DEVARIACIN
Se dice que un proceso esta bajocontrol estadsticoo estable cuandoeste trabaja solo con causas comunesde variacin, independ ientemente de
que su variabilidad sea mucha o poca,el desempeo del proceso es predecible
sobre el futuro inmediato.
Se dice que un proceso se encuentrafuera de control estadsticoo
inestable cuando presenta causasespeciales de variacin, estos procesos
son impredecibles sobre el futuroinmediato debido a las causas
especiales.
Errores en la actuacin de los procesos
ERROR 1
Reaccionar ante un cam bio o variacin(efecto o problema), como si provini era
de una causa especial, cuando en
realidad surge de algo mas profundoen el proceso, como son las causas
comunes de variacin.
ERROR 2
Tratar un efecto o cambio como siproviniera de causas comunes de
variacin, cuando en r ealidad se debe auna causa especial.
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EJEMPLO
Una lnea de produccin saca desperfectos o mellas en las latas.Obviamente este problema se debe causas comunes o especiales y laactuacin ser diferente en cada caso:
ERROR 1Comn
ERROR 2Especial
Cuando la lnea de montaje arroje unalata defectuosa, la reaccin del operarioser la de ajustar la maquinaria, pero elproblema esta en el material, por lo queel ajuste puede descomponer el sistemay empeorar las cosas, que llevara anuevos y mas graves problemas,mientras tanto, la verdadera fuente deinconveniente (material) pasainadvertida.
No hay nada que losoperarios p uedan hacerpor el problema. Solo laadministracin puedecambiar la poltica decompras.
Las latas salen melladas porque la administracin comprahojalata de menor calidad,quizs en un esfuerzo porreducir los costos. De lo que eloperario ni se entera, y laadministracin tampoco estaconciente del perjuicio
Creer que el problema es comn(hojalata de mala calidad) y no hacer losajustes necesarios a la maquina enforma oportuna.
Los trabajadores o lostcnicos pueden reducir oeliminar el problemaajustando o reemplazandolas partes afectadas delequipo.
El desperfecto es ocasionadopor un desgaste naturalrelativamente menor en lamaquinaria.
POSIBLES ERRORESACCINTIPO DE CAUSA
UTILIZANDO LAS CARTAS DECONTROL
CARTAS DE CONTROL
El objetivo bsico de una Carta de Control esobservar y analizar con los datos estadsticos la
variabilidad y el comportamiento de un proceso atravs del tiempo.
Las Cartas de Control permiten distinguir entrevariaciones por causas comunes y especiales, loque ayudara a caracterizar el funcionamiento delproceso y as decidir las mejores acciones decontrol y de mejora.
ELEMENTOS DE UNA CARTA DE CONTROL
Limite de Control Inferior
Tiempo
Limite de Control Superior
Lnea Central
VariacindeW
LIMITES DE CONTROL
Lo primero que debe quedar claro respecto a loslimites de una carta de control es que estos no sonlas especificaciones, tolerancias o deseos para el
proceso.Los limites se calculan a partir de la variacin de
los datos de la carta de control.
LCI =
Lnea Central =
LCS =
3s
+ 3s
Los limites de la carta de control estn dados por:
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LIMITES DE CONTROL
Para el calculo de los limites de control, sedebe proceder de forma que bajo
condiciones de control estadstico, los datosque se grafican en la carta tengan altaprobabilidad de caer dentro de taleslimites(99.73%).
Las cartas de control con las que setrabajaran son las conocidas como lascartas de control tipo Shewart.
TIPOS DE CARTAS DE CONTROL
Cartas de control para Variables:
Cartas de control para Atributos:
Diagramas que se aplican avariables o caractersticasde calidad de tipo continuo(pesos, voltajes, volmenes,longitudes, humedad, etc.)
Diagramas que se aplican alcontrol de caractersticas decalidad del tipo paso, no pasao donde se cuenta el numerode no conformidades que tienenlos productos analizados.
X(de promedios)
R(de rangos)
S (de desviacin estndar)
X (de medidas individuales)
p (proporcin de artculos defectuosos)
np(N de unidades defectuosas)
c(N de defectos)
u(N de defectos por unidad)
CARTAS DE CONTROL PARAVARIABLES
CARTA DE CONTROL X - R
Es un diagrama para variables que se aplican a procesomasivos, en donde en forma peridica se obtiene unamuestra o subgrupos de productos, se miden y se calculala media X, y el rango R para registrarlo en la
correspondiente carta.El campo ideal para la aplicacin de las cartas X-R escuando nos encontramos frente a un proceso de tipocontinuo.
X1R1 X2
R2 X3R3
SUBGRUPOS
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LIMITES DE CONTROL DE LA CARTA X
La carta X detecta cambios significativos en la media delproceso. Cuando la campana se desplaza, la carta lo detectamediante un punto fuera de sus limites.
PROCESO ESTABLE PROCESO INESTABLE CONTENDENCIA CENTRAL
LIMITES DE CONTROL DE LA CARTA X
Los limites de control de estas cartas estndeterminadas por la media y la desviacin estndar.
Donde:x :Media de las mediass x :desviacin estndar de las medias
x 3sx
x= x sx = s
n
Donde:X :Media de las mediass :desviacin estndar del proceson :tamao del subgrupo.
LIMITES DE CONTROL DE LA CARTA X
Como por lo general en un estudio inicial no se conoce s, estapuede estimarse de la siguiente manera:
s =R
d2
A2 =3
d2
nx = s
n
s=
R
d2
n3 3
d2 nR
= = A2 R
Con estas relaciones, los limites de c ontrolpara la carta X en un estudio inicial esta
dado por
LCI =
Lnea Central =
LCS =
X A2R
X
X + A2R
Cuando por algn medio ya se conocen
ys
, entonces los limites de control son
LCI =
Lnea Central =
LCS =
- 3s
n
+ 3s
n
LIMITES DE CONTROL CARTA R
La carta R detecta cambios significativos en la amplitud de ladispersin. Por ejemplo si la variabilidad aumenta (campanamas amplia), la carta R lo detecta mediante un o mas puntosfuera de su LCS.
PROCESO ESTABLE PROCESO INESTABLE ENAMPLITUD DE VARIACION
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LIMITES DE CONTROL CARTA R
Los limites de estas cartas se determinan a partir dela media y la desviacin estndar de los rangos de
los subgrupos. Donde:R :Media de los rangossR :Desviacin estndar de los rangos
R 3sR
Como en el caso de las cartas X, para un estudio inicial, los limites de lacarta R estn dados por:
Lnea Central =
LCS = D4R
R
LCI = D3R
CARTA DE CONTROL X - S
Cuando una carta X-Rquiere tener mayor potencia paradetectar cambios pequeos en el proceso, se incrementa eltamao de subgrupo n. Pero si n >10, la carta de rangos,ya no es eficiente, para esto se recomienda utilizar la cartaX-S.
La carta de control X-Sse aplica a procesos masivos, enlos que se quiere tener una mayor potencia para detectarcambios pequeos. Generalmente cuando el tamao desubgrupos es de n >10.
LIMITES DE CONTROL CARTA S
Los limites de esta carta se determina a partir de lamedia y las desviacin estndar de S.
Donde:s :Media de S
s
s :Desviacin estndar de Ss 3ss
Lnea Central =
LCS =
LCI =
S +3 1 c4Sc4
S
Sc4
S - 3 1 c4
Cuando la carta X esta acompaada de la carta S, esta se calcula de la siguiente manera:
LCI =
Lnea Central =
LCS =
X
X + 3 Sc4 n
X - 3 Sc4 n
CARTAS INDIVIDUALES
Las cartas individuales son diagramas para variables detipo continuos que se aplica a procesos lentos y/o dondehay un espacio largo de tiempo entre una medicin y lasiguiente.
Los limites de control de una carta individual estn dadospor:
sx=
R
d2
x 3sx
x=XLC = R
1.128X 3
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CARTAS DE PRECONTROL
Son diagramas variables con doble especificacin endonde se grafican las mediciones individuales, utiliza lasespecificaciones como limites de control, y se aplica a
ciertos procesos y bajo circunstancias especificas.El precontrol es un semforo contra el cual se comparan,
en cada tiempo de inspeccin, los valores medidos en dosartculos consecutivos de la produccin.
Las zonas de operacin del semforo estn divididas en lassiguientes zonas.Zona verde = 0.8664Zona Amarilla = 0.1308Zona Roja = 0.0027
Para el precontrol se considera en cada tiempo deinspeccin una muestra de n = 2 artculos.
ROJO0.135%
AMARILLO6.54
VERDE86.64%AMARILLO
6.54%
ROJO0.135%
CARTAS DE PRECONTROL
El proceso solo califica cuando seobservan al menos 5 unidadesconsecutivas de la produccin en
zona verde.
LPCSLPCI
CONDICIN ACCINCORRECTIVA
1. DosUnidades en Zonaverde Continuar
2. Una enzona verdey una enAmarilla Investigary reiniciar
3. Dosunidades enzona amarilla Investigaryreiniciar
4. Una unidad en zona Roja InvestigaryreiniciarSe recomienda el uso delprecontrol a procesos cuta
capacidades sean de Cpk> 1.15
CONDICIN ACCINCORRECTIVA
1. DosUnidades en Zonaverde Continuar
2. Una enzona verdey una enAmarilla Continuar
3. Dosunidades enzona amarilla Parare investigar
4. Una unidad en zona Roja Parare invest igar
Una vez calificado el proceso,se procede con la siguientetabla:
METODOS Y FILOSOFIA DEL
CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS
INTRODUCCION AL CONTROL DEPROCESOS
PROCESOENTRADAS SALIDA
....FACTORES
INCONTROLABLES
FACTORESCONTROLABLES
z1 z2 z3 zn
x1 x2 x3 xn....
MODELO DE UN PROCESO
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Que es unProceso?
P R O V E E D O R E S
E N T R A D A S
P R O C E S O S
S A LID A S
C LIE N T E S
COMPONENTES DEUN PROCESO
Inspeccin Usuario
Producto Defectuoso
Desechos
ReprocesosAviso para actuar sobre el
proceso
Materias Primas
Inspeccin UsuarioMaterias
Primas
Producto Defectuoso
Desechos
Reprocesos
Ajustes constantes basados en muestreo selecti vo delproducto y del proceso.
ConcepcinTradicional
Concepcin CEP
EN TR A D ASP R OC ES OS
S ALID AS
AC TU A R Y
C OR R EG IR
OB SER VA R O
M ED IR
AN AL IZ AR Y
D EC ID IR
EVA LU AR Y
C O M P AR AR
PREVENCION Y DETECCIONCONTROL DE PROCESOS ( PREVENCION)
Asegura las caractersticas de los productos mediante elcontrol de las variables vitales del proceso productivo
PROCESOSSALIDAS
OBSERVAR Y
MEDIR
ACTUAR Y
CORREGIR
EVALUAR Y
COMPARAR
ANALIZAR Y
DECIDIR
SELECCION
BUENO
MALO
CONTROL DE PRODUCTO ( DETECCION)
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OBJETIVOS DEL CONTROL DEPROCESOS
Establecer tolerancias.
Determinar la capacidad del proceso. Mantener las caractersticas dentro de su tolerancia.
Vigilar y controlar la variacin.
CLASES
En la pieza misma
De una pieza a otra
De instante de tiempo aotro
CLASES
El equipo
Elmaterial
El entorno
Eloperario
Variacin a lo largo deltiempo
VARIACION
Variabilidad Causas
Aleatoria
No asignables
Comunes
No aleatoria o sistemticaAsignables
Especiales
CAUSAS DE LA VARIACION DE LA CALIDADCAUSAS FORTUITAS Y CAUSAS
ATRIBUIBLES
Variabilidad natural o ruido de fondo
Causas Naturales Otras causas de variabilidad
Causas Atribuibles
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Estado umbral Estado ideal
El proceso es predecible El proceso es predecible
Algunos productos no conformes 100% productos conformes
Estado de caos Estado al borde del caos
El proceso no es predecible El proceso no es predecible
Algunos productos no conformes 100% productos conformes
SE PRODUCEN ALGUNOS SE PRODUCEN 100%
PRODUCTOS NO CONFORMES PRODUCTOS CONFORMES
CUATRO POSIBILIDADES PARA UNPROCESO
MEJORADELPROCESO
ENTROPIA
MEJORAMIENTO DEL PROCESO UTILIZANDOCARTA DE CONTROL
PROCESO
ENTRADA SALIDA
Sistema de MedicinDetectar lacausa asignable
Identificar la causa deorigen del problema.
Implementar unaaccin correctiva.
Verificar y hacerseguimiento.
LMITES DE ESPECIFICACIN YLMITES DE CONTROL
Lmites de especificacin son los que permiten distinguirentre un producto bueno y uno malo. Condicionan la
satisfaccin del cliente.
Lmites de control son los que ponen en evidencia lascausas asignables y de variacin no aleatoria en losprocesos. Determinan la satisfaccin del proceso.
PROCESOS FUERA DE CONTROL
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GRFICAS DE CONTROL PORATRIBUTOS
Defecto: una caracterstica del producto que no cumple
con los requisitos d e la especificacin aplicable.
Unidad defectuosa: una unidad de producto quecontiene uno o ms defectos.
DEFECTO Y NO CONFORMIDAD
DEFECTO
Incumplimientode un requisitopara un usoprevisto NO
CONFORMIDAD
Incumplimientode un requisitoespecificado
si sisino no
Pregunta: La muestra tiene algn defecto?
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Pregunta: Cuntos defectos tiene la muestra ?
1 320 0
SELECCIN DEL TIPO DE GRFICO
(1 )min 3 , 1
P
i
p pLSC p
n
- +
pLCP
(1 )max 3 , 0
P
i
p pLIC p
n
- -
LMITES DE CONTROL DEL GRAFICO P
Decida el objetivo de la GC. Determine el tamao de la muestra y el intervalo de muestreo. Obtener los datos y registrarlos en forma adecuada.
Calcular la lnea central y los lmites de control Calcule los lmites de control revisados Implemente las grficas de control
GRFICA P
Un departamento de la Segur idad Social se encarga desupervisar que las recetas que confeccionan losfacultativos estn bien cumplimentadas. El
departamento recibe las recetas ordenadas por fecha deexpedicin en lotes de 50 y desea estab lecer un cr iter ioque le per mita detectar c undo resulta adecuadoinvestigar las posibles causas que producen recetas malcumplimentadas . Para ello, selecciona 20 lot es ycontabiliza el nmero de recetas defectuosas,considerando como tales aquel las que tengan algncampo incompleto. Los resultados fueron los siguientes
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Lote Defectuosas Lote Defectuosas
1 7 11 5
2 4 12 5
3 5 13 54 2 14 4
5 6 15 7
6 7 16 7
7 5 17 8
8 4 18 4
9 6 19 7
10 3 20 4
Realizar un grfico de control para la proporcin de recetas defectuosas
GRFICA P
proporcin de
piezas defectuosas
Sample
Proportion
191715131197531
0.25
0.20
0.15
0.10
0.05
0.00
_P=0.105
UCL=0.2351
LCL=0
P Chart of Defectuosas
Dentro de un proceso de moldeo de PVC las piezas elaboradaspueden presentar o no defectos superficiales. Cada da se toman 100piezas al azar de la lnea de produccin y se cuenta el nmero depiezas defectuosas.
Da No
Conformes
Fraccin
no
conformes
Da No
Conformes
Fraccin
no
conformes
1 9 16 92 16 17 5
3 5 18 6
4 6 19 4
5 7 20 11
6 9 21 3
7 3 22 1
8 9 23 3
9 10 24 0
10 4 25 4
11 7 26 6
12 10 27 1
13 6 28 6
14 6 29 5
15 7 30 4
GRAFICO DE CONTROL nP
3 (1 )np
LSC n p n p p + -
pnLCnp
3 (1 )npLIC n p n p p - -
-
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ccLSCc 3+
cLCc
ccLICc 3-
GRAFICO DE CONTROL ( C ) GRFICA C
Supongamos que el departamento desea establecer un criter io similaren base a l nmero de campos defec tuosos en las recetas . Para el lo ,cuenta el nmero de defectos en 12 lotes, obteniendo los siguientesresultados
Lote N de defectos1 20
2 28
3 22
4 23
5 22
6 15
7 43
8 19
9 16
10 28
11 24
12 25
GRFICA C
# de defectos encada lote
Sample
SampleCount
121110987654321
45
40
35
30
25
20
15
10
_C=23.75
UCL=38.37
LCL=9.13
1
C Chart of defectos
GRAFICO DE ( U )
i
U
n
uuLSC 3+
uLCU
i
Un
uuLIC 3-
-
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EJEMPLO
Supongamos ahora que los lotes de recetas contienen un nmero variablede stas y que los defectos observados en ellas fueron los siguientes:
Lote 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
Nde recetas 45 46 54 53 34 52 55 43 45 56 55 50
Nde defectos 20 28 22 23 22 15 43 19 16 28 24 25
GRFICA U
Ejemplo: E l geren te de una empresa productora de gab ine tes parac om put ad or as s ol ic it a a s u o fi ci na d e Co nt ro l d e Cal id ad q ue s eanal ice e l nmero total de defec tos que se han encont rado en cadauno de los gabinetes inspeccionados.
Muestra Tamao N de defectos Muestra Tamao N de defectos
1 6 3 14 5 8
2 5 2 15 7 0
3 4 0 16 4 2
4 8 1 17 6 4
5 7 4 18 3 3
6 4 3 19 6 5
7 3 2 20 6 0
8 5 4 21 7 2
9 7 1 22 4 1
10 6 0 23 5 9
11 4 2 24 5 3
12 6 3 25 5 2
13 3 2
En b ase a esta informaci n, se d esea d etermi nar si l os datoscorresponden a un proceso controlado.
GRFICA U
# de defectos por
unidad en cada lote Sample
SampleCountPerUnit
252321191715131197531
2.0
1.5
1.0
0.5
0.0
_U=0.504
UCL=1.456
LCL=0
1
1
U Chart of defec
Tests performed with unequal sample sizes
ANLISIS DE LA CAPACIDAD DEL PROCESO
Es la aptitud del proceso para producir
productos dentro de los limites de lasespecificaciones de calidad.
ANALISIS DE LACAPACIDAD DE
PROCESO
Distribucin de frecuencia eHistograma
Graficas de Control
-
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ANALISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESOUTILIZANDO HISTOGRAMA
PASOS:
Escoger la maquina omquinas
Seleccionar las condicionesde operacin
Seleccionar un operador
Monitoreo
ESTIMACIN DE LA CAPACIDAD DEL PROCESO
3x S
ANALISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESOUTILIZANDO GRAFICO DE PROBABILIDAD NORMAL
50 P
84 50 P P -
Estimacin de la media del proceso
Estimacin de la variabilidad del proceso
METODOS EN ANALISIS DE CAPACIDAD
HISTOGRAMAS
Mnimo 50 a 100 observaciones
Proceso: comprobacin grfica de comportamiento
normal
DIAGRAMAS DE CONTROL
Requisito: proceso bajo control
Analiza la capacidad potencial
Anl is is de la Capac idad del Proceso
42
c
SSGrafico
d
RRGrafico
Estimacin de la variabilidad del proceso
Distribucin Normal
General S Desviacin estndar de todos los datos
Es muy buena si el proceso esta bajocontrol (incluye la variacin entre muestras)
Estimacin de la media del proceso
x
-
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Anlisis de la Capacidad del Proceso
WW 3
3
Amplitud delintervalo
Limites naturalesdel proceso
Extremos del intervaloen el que toma valores X
Lmites e controlExtremos del intervalo enel que toma valores elestadstico W
Lmite deespecificacin
6
LIE-LSELmites determinadosexternamente, sin tener encuenta la variabilidad delproceso
Cp: ndice de Capacidad Potencial del Proceso.
Mide qu tan potencialmente capaz es el proceso paracumplir las especificaciones.
Capacidad de Proceso
LSE - LIE
6 * s(x)Cp =
^
Valor ms grande del Cp, ES MEJOR.
^ La extensin real del proceso (6s) debe ser menor paradecir que el proceso es potencialmente capaz.
s(x) = desviacin terica de la poblacin^
LSE = Lmite super ior de especificacinLIE = Lmite inferior de especificacin
Donde:
3s 3s
LSELIE
x
Capacidad de Proceso
LSELIE
3s 3s
x
LSELIE
3s 3s
x LSELIE
3s 3s
x
Estimacin de la proporcin de no conformidades
-
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Capacidad de Proceso
El ndice Cpk pueden interpretarse como la capacidad delproceso hasta el lmite de especificacin ms prximo ala media.
LSELIE
3s
3s
x
x - LIE LSE - x
Cp
Especificaciones
unilaterales bilaterales
0.25 226628 453255
0.50 66807 133614
0.60 35931 718610.70 17865 35729
0.80 8198 16395
0.90 3467 6934
1.00 1350 2700
1.10 484 967
1.20 159 318
1.30 48 96
1.40 14 27
1.50 4 7
1.60 1 2
1.70 0.17 0.34
1.80 0.03 0.06
2.00 0.0009 0.0018
PORCIONCAIDA DELPROCESO
INDICE DE CAPACIDAD DEL PROCESO PARA UNPROCESO FUERA DEL CENTRO
min ,3 3
pk
LSE LIEC
- -
NOTA:
Laigualdadsecumplesi y solosi e lproceso est centrado.
Entremayor es la diferencia,mayor esel descentramiento
Cpk: ndice de Capacidad Real del Proceso.Mide qu tanto el proceso cumple las especificaciones.
Considera la posicin del proceso con respecto a lasespecificaciones
Valor ms grande del Cpk, ES MEJOR.
Situacin ideal. Cuando las fluctuaciones pueden
ser suficientemente controladasde manera que la caractersticaquede centrada con respecto alas especificaciones.
Sistema que asume un universoesttico (causas fundamentalesestables)
Sistema que considera que nadapuede ser controlado porsiempre en una situacin ideal.
Se ha tomado por convenio elvalor de 1.5 de descentramientocon respecto a la especificacin
0 2s1s 3s 4s 6s5s-5s-6s -4s-3s -1s-2s
LIE LSE
0 2s1s 3s 4s 6s5s-5s-6s -4s-3s -1s-2s
LIE LSE
6s
4.5s
1.5s
3.4Dpmo
0.001Dpmo
0.001Dpmo
SIN CAMBIO
CON CAMBIO
Capacidad de Proceso
-
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Relacin entre nivel sigma, Cp y Cpk
NIVEL Cp
1s 0.33
2s 0.67
3s 1.00
4s 1.33
5s 1.67
6s 2.00
Cpk
-0.17
0.17
0.50
0.83
1.17
1.50
Capacidad de Proceso
6s
4s
Cp = 1.33Cpk = 1.33 Cp = 2.0
Cpk = 2.0
LSELIE
1.5s
1.5s
LSELIE
0.006% (porambos lados) o60 Dpmo
0.62% o6210 Dpmo
0.002 Dpmo(por amboslados)
3.4 Dpmo
Cp = 1.33Cpk = 0.83 Cp = 2.0
Cpk = 1.5
PROCESOMAS
ROBUSTO
PROCESO CUATRO SIGMA PROCESO SEIS SIGMA
Capacidad de Proceso
38 62
s=2
5044 56
LIE LSECp = 2Cpk = 2
Cp = 2Cpk = 1.5
Cp = 2Cpk = 1
Cp = 2Cpk = 0
Cp = 2Cpk = -0.5
53
56
62
65
Cr: ndice de capacidad recproco
Es el porcentaje del intervalo de especific acinutilizado por el proces o, en otras palabras, es elporcentaje de las especi ficaciones que es usado por lavariacin del proceso.
Si el Cp=1.5 ent onces Cr =66.67% l ueg o el p ro cesoutiliza el 66.67% del ancho de las especificaciones.Ntese que el Cr no considera procesos centrados.
Cr=(1/Cp)x100
-
7/23/2019 4.- Cuarta Semana Graficas de Control Por Variables-Atributos
20/20
Cpm : Indice de capacidadmodificado
Similar al Cp, excepto que el sigma es calculado
usando el valor nominal (Target) en lugar de la media.Nos indica que tan bueno es el sistema para producirdentro de especificaciones.
Cuanto mayor sea el Cpm tenemos mayor posibilidadde que el sistema pudiera producir productos entre lasespecificaciones y el valor nominal
ANLISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESO:ATRIBUTOS
El grfico est bajo control estadstico
Proporcin de Disconformes:
No hay u n v al or es tabl ec id o, per o s e r ec om iend a c om oaceptable un 98 99% p ara imperfecciones no muyimportante y 99.9% para importantes
N de Disconformidades:
No hay valor estable
P-1
u
Capacidad del Proceso:Proporcin de elementos Conformes
Capacidad d el Proceso:Razn de Ocurrencias deDisconformidades por unidad
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