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7/21/2019 1 - curso_Muestreo

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Tabla 1.2 Elementos

Elementos Smbolo

Oro Au

Plata Ag

Tabla 1.3 MineralesEspecie Frmula

Argentita Ag 2S

Arsenopirita FeAsS

Atacamita Cu 2(OH)3Cl

Azurita 2CuCO 3*Cu(OH)2

Bornita Cu 5FeS4

Brocantita CuSO 4*3Cu(OH)2

Calcocita Cu 2S

Calcopirita CuFeS 2

Crisocola CuOSiO 2*2H2O

Covelina CuS

Cuarzo SiO 2

Enargita 3Cu 2S*As2S5

Esfalerita ZnS

Galena PbS

Hematita Fe 2O3

Ilmenita FeTiO 3

Malaquita CuCO 3*Cu(OH)2

Proustita 3Ag 2S*AS2S3

Pirargirita 3Ag 2S*Sb2S3

Pirita FeS 2

Pirolusita MnO 2

Pirrotita Fe 5S6

Rodocrosita MnCo 3

Siderita FeCO 3

Tenantita Cu 8As2S

Tabla 1.4.- MenasMena Componentes

Porfdica de Cobre Cu 2S CuS Cu 3AsS 4 FeS 2 SiO2Hierro Fe 2O3 Fe3O4 FeO Ganga


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EN RIGOR EL TRABAJO DEL METALURGISTA CONSISTE ENEXTRAER OLIBERAR LA ESPECIE DE INTERS DESDE LA MENA PARA LO CUAL DEBDESARROLLAR EL PROCESO MS PERTINENTE PARA CADA CASO.

Liberacin: Esta liberacin consiste en una disminucin del tamao de la mena elcual permite dejar a las especies de valor expuestas a la accin de reactivos oprocesos adecuados para su extraccin. La liberacin a travs de procesos fsicos,es lo que llamamos Procesamiento de Minerales (P.M.). Un adecuado diseo(planificacin) de un proceso de conminucin (liberacin) requiere de un mayor

conocimiento de la mena, es decir, un ptimo conocimiento de la mineraloga delmaterial a saber.

Ganga: Mineral descartable con respecto al de inters principal.

Ejemplo de mena con mineral de inters y ganga asociada:1.- Mena de Cobre: elemento de inters es el cobre (Cu)

Ganga: slice o cuarzo (SiO2)2.- Mena de Oro: elemento de inters es el oro (Au)

Ganga: cobre (Cu)En la industria del vidrio: elemento de inters es ______


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Los aspectos ms importantes en la evaluacin metalrgica de una mena son los siguientes:

a).- Ley de la Mena: Se define como el porcentaje en peso del elemento de inters que posee el mineral.

Ejemplo: 1,27%CuTotal: en 100[kg] de mena, hay 1,27[kg] de Cu

b).- Composicin Mineralgica: Combinacin y concentracin de elementos mineralgicos presentes, es decir,composicin de minerales presentes y la concentracin de cada uno.

Tabla 1.5.- Ejemplos de composicin y combinacin de una mena de CuT = 1.2%Mena A Mena B

CuFeS 2 (20%) Cu3AsS4 (10%) Cu2S

(25%) CuS (10%) FeS 2 (30%)Fe(1-X)S (5%)

CuFeS 2 (30%) Cu2S (35%)

FeS 2 (35%)

c).- Diseminacin y Asociacin de los minerales y la ganga: Define el tamao de partcula al que debereducirse el mineral para liberar la ganga y el mineral de inters. Esto es de suma importancia ya que sin unaptima liberacin no hay proceso de extraccin o concentracin que funcione o sirva.

Fragmento de mena Productos de trituracin(Aspecto de mayor importancia)


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La liberacin se realiza a travs de una reduccin de tamao, la cual llamamosConminucin.

CHANCADO: Grueso (Primario)Fino (Secundario, terciario, ...)

MOLIENDA CONVENCIONAL: Gruesa (Molino de Barras)Fina (Molino de Bolas)

MOLIENDA NO CONVENCIONAL: Autgena (AG)Semi Autgena (SAG)

En general, en la industria metalrgica se usan combinaciones de stas.

El grado de liberacin depende del tipo de tcnica de concentracin o extraccinadecuada para el mineral. Este grado ptimo de liberacin se le denomina tamao decorte.

El tamao de corte va a ser funcin de las propiedades geometalrgicas del mineral,es decir, de cmo ocurre el mineral. Algunos ejemplos son los siguientes:

En Hidrometalurgia: Tamao de partcula aproximado = 1/2"-3/4" (1-1,5[cm])En Pirometalurgia: Tamao de partcula aproximado = 80%-200# (80%-75[m]).


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En general los minerales se pueden dividir en tamaos gruesos y finos:

Tabla 1.6 Tipos de tamaos y equipos de separacin

Tamao Rango Equipo Tcnica

Grueso Partculas>1000[m] (>10[mm])

HarnerosTamices

En Seco

Fino Partculas


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CARACTERIZACION DE PARTICULAS Y SUSPENSIONES

CARACTERIZACION DE PARTICULAS Y CONJUNTOS DE PARTICULAS

La caracterizacin de partculas y conjuntos de partculas es muy importante en el Procesamientode Minerales, ya que el tamao se usa como una medida de control para la conminucin que tienecomo finalidad la liberacin de las especies de inters.

La conminucin tiene un alto costo, por lo que se debe evitar una sobreliberacin osubliberacin de la especie de inters la subliberacin ocurre cuando el grado de reduccin dela partcula no es suficiente para liberar completamente a la especie de inters.

En cambio, la sobreliberacin ocurre cuando el grado de reduccin de la partcula es mayor queel necesario para liberar completamente la partcula. La figura 3.1 muestra un esquema de cadacaso:

Fig. 3.1 Representacin de los grados de reduccin de una partcula .


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Para medir el grado de liberacin se usa el tamao de la partcula debido a su relativafacilidad de medicin.

El tamao de una partcula es igual a una dimensin representativa de su volumen enformas geomtricas regulares. Ejemplo: Esfera = el tamao puede describirse por sudimetro. Las partculas molidas o chancadas son irregulares, por lo que se recurre aun dimetro nominal el que se puede definir de distintas formas.

Dimetro basado en 1 dimensin lineal:

a).- Dimetro de Feret (df): Valor de la distancia entre 2 paralelas tangentes a la siluetaproyectada de la partcula y que son perpendiculares a una direccin fija.

Fig. 3.2 Representacin del Dimetro de Feret.


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b).- Dimetro de Martin (dM): Largo de la lnea paralela a una direccin fija quedivide la silueta proyectada en 2 partes iguales.

Fig. 3.3 Representacin del Dimetro de Martin.

c).- Dimetro Mximo y Mnimo Lineal: Corresponden a la mxima y mnimadimensin lineal de una partcula.

Fig. 3.4 Representacin de los dimetros mximo y mnimo lineal.


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2).- Dimetro Basado en el Volumen (dV): Dimetro de una esfera que tiene el mismovolumen V que la partcula.

3).- Dimetro Basado en el Area Superficial (dA): Dimetro de una esfera que tiene la mismarea superficial A que la partcula.

4).- Dimetro de Sedimentacin (dS): Es el dimetro de una esfera que tiene la mismadensidad y velocidad de sedimentacin que la partcula en un fluido de la misma densidad yviscosidad.

6).- Dimetro Basado en el Area Proyectada de la Partcula (dAP): Dimetro de un crculo quetiene la misma rea que la proyeccin de la partcula.

7).- Dimetro Basado en el Permetro (dPer): Dimetro del crculo de igualpermetro que la proyeccin de la partcula.

5).- Dimetro de Stokes (dst): Es el dimetro de sedimentacin en un fluido laminar


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FORMA DE LAS PARTICULASPara caracterizar totalmente las partculas se debe indicar la forma que tienen. Enefecto, la forma de las partculas puede afectar fuertemente la clasificacin por tamaos.Una partcula angular puede ser clasificada en diferentes formatos segn la manera en

la que enfrente a la abertura de un harnero o tamiz. Esto se aprecia en la siguientefigura:

Fig. 3.5 Efecto de la forma en la clasificacin de partculas.

Ejemplo: Volumen de una partcula = 1[m3]. Determine sus dimensiones para:a).- Un cubo.b).- Una placa cuyos lados estn en las razones a:b:c = 1:10:1000

Resultado: Dos figuras, un cubo y un paraleleppedo aplanado que a pesar de su formatan distinta, ocupan el mismo volumen en el espacio.

Partcula retenida Partcula pasa una abertura muchomenor que la anterior


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Para definir la forma de una partcula, generalmente se recurre al concepto de esfericidad , que se define:

Como la esfera es la forma geomtrica que tiene la menor razn superficie/volumen, se tieneque el rango de ser de 0 a 1.

Tabla 3.1Valores de Esfericidad

Tipo de Partcula

Partculas redondeadas (arenas, polvos, etc.)Partculas angulares (caliza, piedra, carbn, sales arena)Partculas laminares (yeso, talco, etc.)

Lminas (mica, grafito, etc.)

0.8 0.90.6 0.7

0.5 0.550.2 0.3


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Funcin de Gates-Gaudin-SchuhmannLa funcin de Schuhmann es la distribucin ms usada en Amrica pararepresentar distribuciones de tamao obtenidas por tamizaje (distribucin en pesoo masa). Esta funcin se define como:

donde:dmax : Mdulo del tamao (Tamao mximo de la distribucin).d : Mdulo de la distribucin (pendiente)La transformacin logartmica de esta ecuacin es:

Una distribucin de tamao que cumple con esta funcin va a tener la forma siguiente:

Fig. Representacin de la funcin de Schuhmann

La pendiente vara entre 0,7 - 1,2

Ejemplo: Si dmax = 5230[m] y m = 0,9F3(d) = (d/5230)0,9F3(4000) = (4000/5230)0,9 = 0,7856 = 78,56,es decir, el 78,56% del material tiene untamao menor a 4000 [m] .


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Funcin de Rosin-Rammler

La funcin de Rosin-Rammler es muy usada en Europa para representar la distribucin en peso (omasa) de sistemas particulados.Esta funcin tiene la forma:

Donde: l = tamao caracterstico (L) m = Coeficiente de la distribucin.

Esta ecuacin se puede transformar de modo que un grfico de:

Resultar en una lnea recta si los datos experimentales son bien representados por la funcin de R-R.

Fig. 3.10 Representacin de la funcin de R-R

Donde:m es la pendiente y F3(d) = 0,63212 cuando d = l, loque permite determinar l de la figura anterior.Otras alternativas son la Funcin Gamma y la FuncinLogaritmo-Normal.

ELEMENTOS DE TAMIZAJE DE MINERALES


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ELEMENTOS DE TAMIZAJE DE MINERALES El tamizaje es la tcnica ms usada para determinar distribuciones de tamao (por que es lams eficiente). El tamao de la partcula est determinado por el tamao de las aberturas del tamiz. Puede realizarse en seco, en hmedo o en una combinacin de ambos. Consiste en agitar mecnicamente un conjunto de tamices con una muestra demineral representativa. Para cada mineral se debe determinar en forma experimental la cantidad de muestra, nmerode tamices y tiempo de tamizaje.TAMAOS DE PARTICULAS Basado en una dimension lineal: Feret, Martin, Mximo Lineal, Mnimo Lineal. Basado en el volumen: Tamao volumtrico. BASADO EN EL AREA: Tamao superficial.

De Stokes De tamizaje: Ancho de la Mnima Abertura Cuadrada a Travs de la cual Pasar la Partcula.

FORMA DE PARTICULAS Se representa a travs de la esfericidad. Mientras ms redondeada, ms cercano a 1.0 es el valor de le esfericidad. Para partculas aplanadas, este valor se aproxima a 0.

TAMICES Recipientes metlicos de 8 a 12 de dimetro, equipados con una malla con aberturascuadradas. Nmero de malla: Nmero de aberturas cuadradas en el tamiz por pulgada lineal. Malla 100: Hay 100 aberturas en la malla en una pulgada lineal. Entonces, abertura: 2.54/100 = 0.0254 [cm.] - dimetro del alambre = 0.15[mm.]Marcas de Tamices: Tyler, Dual, Reicotex, ATM, Retsch, etc.


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Tamiz Serie de Tamices (micras) Pesos (g) Ds v/s Porcentajes (%)

(plg) Abertura Ab. Media (Dpi) Obtenidos Corregidos (mi/Dpi) Parcial Acumulado Pasado

16 1180 1424 0,000 0,000 0 0 0 100

20 850 1026 0,160 0,166 0,000161 0,21 0,21 99,79

30 600 724 0,140 0,145 0,000200 0,19 0,40 99,60

40 425 513 0,500 0,517 0,001008 0,66 1,06 98,94

50 300 362 1,300 1,345 0,003714 1,73 2,79 97,21

70 212 256 4,300 4,448 0,017383 5,71 8,50 91,50

100 150 181 9,400 9,725 0,053707 12,48 20,98 79,02

140 106 128 12,500 12,932 0,101065 16,60 37,58 62,42

200 75 91 9,700 10,035 0,110843 12,88 50,46 49,54

270 53 64 8,300 8,587 0,134214 11,02 61,49 38,51

325 45 54 1,300 1,345 0,024759 1,73 63,21 36,79

400 38 46 3,600 3,724 0,081192 4,78 67,99 32,01

-400 0 24,100 24,932 32,01 100 0

75,300 77,900


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TEORIA Y TECNICAS DE MUESTREO

ELEMENTOS DE TEORIA DE MUESTREO

Para una ptima caracterizacin de un yacimiento se requiere de un acabadoconocimiento de la Mena de inters, para lo cual se deben obtener una serie de muestras

extradas sistemticamente, es decir, que sean lo ms representativas posibles. Las muestrasobtenidas deben ser lo ms cercano posible a las propiedades reales del mineral en el sentidode obtener y extrapolar sus propiedades a todo el yacimiento .

En general en el P.M. es vital una adecuada muestra para poder caracterizar eficientemente lamena. Esta debe ser lo ms representativa posible para extrapolar sus propiedades a todo elmineral.

Parmetros a Determinar o Propiedades Tpicas:

Granulometra, dureza, humedad, gravedad especfica (g.e.), forma, rea superficial, composicin, etc..

El Muestreo puede Realizarse:

Para evaluacin metalrgica de yacimientos. Para balance metalrgico. Para embarque de mineral.

La muestra tiene la difcil tarea de representar una cantidad muchas veces mayor, ya que un embarque de1.000[Ton] o 50.000[Ton] debe ser representado por 1[kg].

! VITAL porque 1[g] debe representar 1.000[Ton] o 50.000[Ton]

FACTORES QUE AFECTAN AL MUESTREO


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FACTORES QUE AFECTAN AL MUESTREO

Gran variedad de constituyentes minerales en la mena. Distribucin desigual de minerales en la mena. Presencia de distribucin de tamao de partcula (diferentes tamaos de partcula). Distribucin de dureza de los minerales. Distribucin de densidad de los minerales (diferentes pesos especficos).

Uno de los principales problemas que existe al analizar un grupo de varios trozos de rocas seleccionados alazar de una masa de mineral, es la obtencin de diferentes resultados de anlisis entre uno y otro trozodebido a una distribucin no uniforme de minerales de un fragmento a otro. Estas caractersticas se llamanHeterogeneidades. Se tienen 2 tipos de Heterogeneidades:

De Composicin:

Si se seleccionan al azar trozos de roca de una masa de mineral se tendrn variaciones de anlisis entre uno yotro trozo debido a una distribucin no uniforme de minerales de un fragmento a otro. Esto es lo que sedenomina heterogeneidad de composicin. Las variaciones entre fragmentos individuales de rocas tienden aaumentar a medida que disminuye el tamao de las partculas (es decir aumenta el grado de reduccin detamao del material). Esto se debe a que al disminuir el tamao del material, ms partculas minerales estnliberadas, es decir, libres de ganga. Para una muestra consistente de varias partculas de diferentes tamaos,

las variaciones entre muestras tienden a disminuir a medida que aumenta el tamao de la muestra (se incluyems partculas en la muestra), puesto que la muestra incluye una variedad de partculas teniendo un rango decontenido mineral y tamaos.

Las variaciones entre muestras pueden reducirse al nivel que se desee tomando muestras ms grandes, perodebe considerarse que un aumento en el tamao de la muestra resulta un mayor costo para realizar elmuestreo con muestras de mayor peso.

Tambin es importante la ley de la mena. Una mena de alta ley se puede caracterizar adecuadamente con unamuestra ms pequea comparada con una de baja ley a igualdad del resto de los factores.


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De Distribucin:

Provocada porque la distribucin de fragmentos de material no es al azar sino que existe segregacin. Paraque la distribucin sea al azar es necesario que la posicin espacial de cualquier fragmento sea independientede sus caractersticas de tamao, forma y densidad. Este tipo de heterogeneidad debe tratar de evitarse en laprctica ya que produce un enorme aumento del error de muestreo. El mezclado que se practica al material

previo al muestreo tiene por objeto eliminar este tipo de heterogeneidad y obtener una distribucin al azar detrozos de mineral.

Debe quedar claro que un muestreo exacto de un material heterogneo es imposible, siempre existir un error asociado al muestreo, entendindose por error la diferencia entre el valor medido y el valor verdadero de laproposicin Xj (material) en estudio.

ERROR = VALOR MEDIDO - VALOR VERDADERO

Cuando el lote de material a muestrear est mezclado uniformemente (es homogneo), el error de muestreo sereduce a un mnimo. Este error de muestreo, que se denomina error fundamental, se puede calcular conociendo las caractersticas del material a muestrear.


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ESTIMACION DEL ERROR FUNDAMENTAL DE MUESTREO

En general se puede estimar que la ley de una muestra tiene una distribucin normal o Gausianaque tiene la forma:

A partir de aqu se obtiene la funcin continua de probabilidad o funcin densidad en la que elrea bajo la curva es igual a la probabilidad P.

En particular se cumple que:

Si,X1 = - y X2 = + P(- < X > +) = 0,67

X1 = -2 y X 2 = +2 P(-2 < X > +2) =0,95

X1 = -3 y X 2 = +3 P(-3 < X > +3) =0,99

Donde: = valor medio


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Generalmente un 95% de probabilidad o certeza de estar entre lmites predeterminados es unnivel de probabilidad o certeza aceptable.

Donde:

La ecuacin de Pierre Gy determina la varianza del error fundamental para una muestrade peso mg.

Donde:S = Desviacin estndar de la distribucin ag 2(ag) = Varianza de la distribucin de agg = Media de la distribucin de agC = Constante caracterstica del material, que se expresa en [g/cc]d = Tamao de la partcula ms grande del lote a ser muestreado. En planta es igual al

tamao en [cm.] que retiene el 5% de la mena.


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Donde:f = Factor de forma de los fragmentos, 0


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Ejercicios

1. Calcule el error de anlisis cometido para una mena de Cobre a la forma deCalcocita (Cu2S), que contiene una ley de 2,1% en Cu, que se chanca a untamao inferior a 2" y para el cual el tamao prctico de liberacin es de alrededor de 100 [m] . Considere un peso de muestra de 0,08 [Ton. cortas] y que lasdensidades del mineral de inters y de la ganga son de 2,9 [ton/m 3] y 1,9 [ton/m3].

2. Disee un procedimiento de muestreo para una mena de -2" que tiene lassiguientes caractersticas: Una ley de Enargita (Cu3 AsS4) de 9,2%, un tamao de liberacin (prctico o decorte) de 90 [m] y el que tiene una densidad de 2,8 [gr/cc] y est asociado a unaganga con una densidad de 1,8 [gr/cc].

Se debe realizar una reduccin de tamao a 0,5[in]; 2,5[mm] y 80[m], tomandomuestras representativas en cada etapa. Cul es el mnimo peso de muestra quedebe tomarse en cada etapa de tal forma de tener un error acumulado total igual a2,5%?. Considere despreciable el error cometido en el anlisis qumico.

TECNICAS DEMUESTREO


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TECNICAS DEMUESTREO

DIVISORES (REDUCIDORES DE MUESTRAS)

a).- Cono y cuarteo.b).- Cortador de riffles.c).- Reductor de tringulos.d).- Divisores rotatorios.

Cono y cuarteo:

Consiste en mezclar el material para posteriormente apilarlo a la forma de un cono. Este se aplasta y sedivide con una pala o esptula en forma de cruz (4 partes iguales). Se retiran 2 cuartos opuestos y los otros2 restantes, que forman la nueva muestra, se vuelven a mezclar y el proceso se repite varias veces hasta

obtener el tamao apropiado de muestra.Con la muestra de 400[grs.] se forma un cono, el que se divide en 4 partes, despus de aplastarlo;

De las 4 partes, se descartan 2 opuestas, y las otras 2 pasan a constituir la base de la nueva muestra .

Con la nueva muestra, se forma otro cono, y se repite el procedimiento hasta obtener una muestra de 53[g].


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Cortador de Riffles:Consiste en un recipiente en forma de V que tiene en sus costados una serie de canales ochutes que descargan alternativamente en 2 bandejas ubicadas en ambos lados del cortador.El material es vaciado en la parte superior y al pasar por el equipo se divide en 2 fracciones deaproximadamente igual tamao.

Se distribuye la muestra de 400[grs.] (homogenizada) uniformemente a lo largo del cortador;de los 2 recipientes que reciben la muestra se descarta uno de ellos.

El contenido del recipiente que no ha sido descartado, se vuelve a vertir sobre el cortador yse repite el proceso hasta obtener la muestra de tamao deseado.


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Reductor de Tringulos:

Funciona en forma similar al cortador de riffles, pero la divisin se realiza mediante obstculosde forma triangular ubicados sobre una superficie plana y la eliminacin de las fracciones por ranuras en la superficie. Reduce la muestra a 1/16 por pasada .

Divisores Rotatorios:

Existen varios tipos, pero su funcin es obtener la muestra a travs de la rotacin de un dispositivomecnico .

MUESTREO POR LOTES DE MINERAL


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MUESTREO POR LOTES DE MINERALa).- Grab Sampling: En este mtodo las muestras se obtienen mediante una pala u otrodispositivo, de acuerdo a un esquema fijo o aleatorio, desde la superficie del mineral, se aplica encualquier tipo de mineral a granel, barcos, etc.. Tiene poco uso debido a que tiene un gran error asociado.Ejemplo: 1 ).- De la muestra de 400[g], se toman pequeas 2).- Luego, se mezclan las fracciones

para porciones a distintas posiciones de la masa total constituir la muestra final.

b).- Muestreo con Tubos: Las muestras se obtienen insertando un tubo ranurado en el material elcual es rotado para cortar y extraer una muestra. Es aplicable a materiales de granulometra fina,hmedos o secos, en pilas de almacenamiento, silos, carros de ferrocarril o camiones .

Muestreo con Pala: Durante la transferencia manual del material, se extrae una palada aintervalos especificados (2a, 5a, 10a, 20a). El mtodo funciona mejor para materiales de

granulometra fina


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MUESTREO INCREMENTAL

Se refiere a los procedimientos para obtener muestras primarias por mtodos peridicos, generalmentedesde un transportador (correas, canaletas, etc.).

Los errores asociados con la obtencin de muestras (incrementos) desde transportadores enmovimiento, son funcin de la falta de uniformidad de la corriente por efectos de segregacin por

densidad y estratificacin por tamao.Estos pueden originarse en buzones o pilas desde donde se alimenta a la correa o durante eltransporte (por vibraciones en la correa).

El material de alimentacin a la correa puede estar estratificado en composicin debido a un mezcladoinsuficiente cuando se carga al buzn o pila. Esto ser particularmente evidente en slidos con un ampliorango de tamaos y densidades, los finos y minerales de alta densidad tendern a sedimentar acumulndose en el fondo de la correa.

En el caso de las pulpas, stas se segregarn como resultado de la variacin en las velocidades de laspartculas, con las ms grande y densas sedimentando al fondo de la corriente.

El muestreo de corrientes de slidos y pulpas se basa en que toda la corriente es desviada por unintervalo especificado de tiempo, para la obtencin de la muestra. El mtodo preferido para una mejor exactitud es muestrear desde la descarga del transportador.

Una tcnica alternativa es usar un cortador fijo, que tome una porcin de la corriente para el muestreo. Sibien este mtodo es ms simple, no representa la corriente completa, por lo que la simplicidad es anuladapor la falta de confiabilidad.

El Muestreo Incremental se llama tambin Estratificado, que es el trmino que describe el flujo de materialcon segregaciones a lo largo del transportador. Un plan para muestreo incremental debe tomar en cuentael grado de estratificacin de la corriente.

La teora del muestreo puede emplearse para resolver el problema de cantidad de muestra y el intervalode tiempo entre incrementos, de modo que la muestra final sea representativa del total.

TECNICAS DE MUESTREO INCREMENTAL


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TECNICAS DE MUESTREO INCREMENTAL

a).- Estratificado en base a tiempo constante: En este caso el mecanismo cortador de muestrase activa a intervalos regulares de tiempo. Se supone aqu que el flujo msico del material esconstante.

b).- Estratificado en base a peso constante: Se usa la seal de masa integrada de una balanzade correa u otro dispositivo para activar el cortador de muestra cuando una masa predeterminadaha pasado por el sistema. Este mtodo se emplea cuando el flujo de material es irregular y el pesose puede medir con exactitud suficiente para asegurar que se lograran muestras confiables deacuerdo al flujo msico.

c).- Estratificado aleatorio: Se realiza eligiendo un intervalo aleatorio para la operacin delcortador. Este mtodo se usa cuando ocurren variaciones peridicas del flujo msico o delparmetro a medir y se incurrira en error si se tomaran muestras correspondientes a laperiodicidad de la variacin.

De estos 3 mtodos el ms utilizado es el basado en el tiempo constante, basado en el supuestoque el flujo de material es controlable a una velocidad constante. La seleccin del mtodo demuestreo incremental esta gobernado por las circunstancias encontradas de modo de minimizar errores sistemticos de muestreo, tomando en consideracin las fuentes de error que puedeninfluenciar la posibilidad de errores sistemticos.


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MUESTREO DE CORRIENTES DESDE UN TRANSPORTADOR

El trmino transportador se aplica a la descarga de slidos desde correas y similarmente apulpas descargadas desde un canal o caera.

Los mtodos para extraer o cortar una muestra desde una corriente de material que cae desdeun transportador son los siguientes:

Corte con Correa Lineal: El cortador se mueve a travs de la corriente siguiendo unatrayectoria en lnea recta. La trayectoria puede ser perpendicular a la direccin del flujo, opuestoa la direccin del flujo o en la misma direccin al flujo.


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Corte con Correa Rotacional: El cortador se mueve en una trayectoria con forma de arco, demodo que la corriente completa est dentro del radio del arco.

Cortador Fijo: El cortador permanece fijo y la corriente de material es desviada a travs de l .

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